• 한국재료학회지
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• 제5권8호
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• pp.936-944
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• 1995

본 논문에서는 저압 유기금속 기상성장(low pressure metal organic vapor phase epitaxy) 장치에 의해 성장된 InGaAsP/InP 구조의 상(phase) 분리현상(Spinodal 분해)이 photoluminescence (PL)의 강도와 반치폭(full-width at half maximum, FWHM)에 미치는 영향에 대해 연구하였다. 시료의 격자부정합은 double crystal x-ray diffractometer를 사용하여 측정하였고, InGaAsP에피막의 Spinodal분해조직은 투과전자현미경 (transmission electron microscopy, TEM)을 사용하여 관측하였다. 격자부정합에서 도출된 부정합응력과 Spinodal 모듈레이션의 주기(periodicity)와 밀접한 관계가 있음이 밝혀졌다. 또한 이러한 InGaAsP에피막의 미세조직 구조와 시료의 광전 특성이 어떤 관계가 있는지 알기 위해 PL 실험을 수행했으며, PL강도와 FWHM이 조성 모듈레이션의 주기에 강하게 의존한다는 것을 알 수 있었다. 이 현상을 심층적으로 연구하기 위해 부정합응력이 야기할 수 있는 interaction 탄성변형 에너지라는 새로운 함수를 유도하였으며 이에 의하여 실험결과를 설명할 수 있었다.

• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2008년도 하계학술대회 논문집 Vol.9
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• pp.413-414
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• 2008

We have studied an organic layer thickness dependent optical properties and microcavity effects for top-emission organic light-emitting diodes. Manufactured top emission device, structure is Al(100nm)ITPD(xnm)/$Alq_3$(ynm)/LiF(0.5nm)/Al(23nm). While a thickness of hole-transport layer of TPD was varied from 35 to 65nm, an emissive layer thickness of $Alq_3$ was varied from 50 to 100nm for two devices. A ratio of those two layers was kept to about 2:3. Variation of the layer thickness changes a traverse time of injected carriers across the organic layer, so that it may affect on the chance of probability of exciton formation. View-angle dependent emission spectra were measured for the optical measurements. Top-emission devices show that the emission peak wavelength shifts to longer wavelength as the organic layer thickness increases. For instance, it shifts from 490 to 555nm in the thickness range that we used. View-angle dependent emission spectra show that the emission intensity decreases as the view-angle increases. The organic layer thickness-dependent emission spectra show that the full width at half maximum decreases as the organic layer thickness increases. Top emission devices show that the full width at half maximum changes from 90 to 35nm as the organic layer thickness increases. In top-emission device, the microcavity effect is more vivid as the organic layer thickness increases.

• 대한기계학회논문집B
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• 제23권5호
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• pp.621-627
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• 1999

This paper presents Raman scattering of liquid water to obtain the characteristics with variation of temperature. Very clear Stokes-Raman signals were observed, which shows H-O vibration stretching and H-O-H vibration bending. The obtained spectrum were processed by FFT filter to extract the noise and base. The spectral shape of the H-O stretching provided a various sensitive signature which allowed temperature to be determined by a curve-fitting technique. Those are Maximum Intensity, Maximum Wave Length, FWHM(Full Width at Half Maximum), PMCR(Polymer Monomer Concentration Ratio) and TSIR(Temperature Sensitive Intensity Ratio). TSIR method shows the highest accuracy of $0.1^{\circ}C$ in mean error and $0.32^{\circ}C$ In maximum error.

• 한국결정성장학회지
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• 제11권5호
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• pp.218-223
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• 2001

수평 Bridgman 방법으로 성장한 사파이어 인고트를 절단 연마한 후, 사파이어 결정기판의 표면을 우레탄 천 위에서 실리카 졸을 사용하여 폴리싱하였다. 표면의 결정성을 X-선 회절을 통하여 조사하였으며, 2중 결정회절에 의한 반치폭은 200~400 arcsec을 가지며, 결정 인고트의 절편화 또는 양면 연삭 연마에 따른 잔류응력에 의한 표면에서의 기계적인 스트레스에 의해 결정성이 손상되어진다. 화학-기계적인 폴리싱공정을 수행한 수에 표면처리로 $1,200^{\circ}C$로 4시간 열처리 및 산처리를 연속적으로 수행할 경우 결정성이 반치폭 8.3 arcsec까지 줄어들어 향상됨을 확인하였다.

• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2002년도 춘계학술대회 논문집 유기절연재료 전자세라믹 방전플라즈마 일렉트렛트 및 응용기술
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• pp.108-111
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• 2002

CIGS film has been fabricated on soda-lime glass, which is coated with Mo film. by multi-source evaporation process. The films has been prepared with thickness of 1.0 ${\mu}m$, 1.75${\mu}m$, 2.0${\mu}m$, 2.3${\mu}m$, and 3.0${\mu}m$. X-ray diffraction analysis with film thickness shows that CIGS films exhibit a strong (112) preferred orientation. Furthermore. CIGS films exhibited distinctly decreasing the full width of half-maximum and (112) preferred peak with film thickness. Also, The film's microstructure, such as the preferred orientation, the full width at half-maximum(FWHM), and the interplanar spacing were examined by X-ray diffraction. The preparation condition and the characteristics of the unit layers were as followings ; Mo back contact DC sputter, CIGS absorber layer : three-stage coevaporation, CdS buffer layer : chemical bath deposition, ZnO window layer : RF sputtering, $MgF_2$ antireflectance : E-gun evaporation

• 한국진공학회지
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• 제18권5호
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• pp.352-357
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• 2009

본 연구에서는 1.1 eV의 에너지대역을 흡수할 수 있는 InAs 양자점구조와 1.3 eV의 에너지 대역을 흡수 할 수 있는 InGaAs 양자우물구조를 이용한 텐덤형 태양전지의 구조를 1D poisson을 이용해 설계하고, 분자선 에피택시 장비를 이용하여 각각 5, 10, 15층씩 쌓은 양자점 및 양자우물구조를 삽입하여 p-n접합을 성장하였다. Photoluminescence (PL) 측정을 이용한 광학적특성 평가에서 양자점 5층 및 양자우물 10층을 삽입한 구조의 PL 피크가 가장 높은 상대발광강도를 나타냈으며, 각각 1.1 eV 및 1.3 eV에서 57.6 meV 및 12.37 meV의 Full Width at Half Maximum을 나타내었다. 양자점의 밀도 및 크기는 Reflection High-Energy Electron Diffraction system과 Atomic Force Microscope를 이용해 분석하였다. 그리고 GaAs/AlGaAs층을 이용한 터널접합에서는 I-V 측정을 통하여 GaAs층의 두께(20, 30, 50 nm)에 따른 터널링 효과를 평가하였다. GaAs 층의 두께가 30 nm 및 50 nm의 터널접합에서는 backward diode 특성을 나타낸 반면, 20 nm GaAs층의 GaAs/AlGaAs 터널접합에서는 다이오드 특성 곡선을 확인하였다.

• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2008년도 추계학술대회 논문집 Vol.21
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• pp.57-58
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• 2008

We have studied an organic layer and semitransparent Al electrode thickness dependent optical properties and microcavity effects for top-emission organic light-emitting diodes. Manufactured top-emission device structure is Al(100nm)/TPD(xnm)/Alq(ynm)/LiF(0.5nm)/Al(25nm). While a thickness of total organic layer was varied from 85nm to 165n, a ratio of those two layers was kept to be about 2:3. Semitransparent Al cathode was varied from 20nm to 30nm for the device with an organic layer total thickness of 140nm. As the thickness of total organic layer increases, the emission spectra show a shift of peak wavelength from 490nm to 580nm, and the full width at half maxima from 90nm to 35nm. The emission spectra show a blue shift as the view angle increases. Emission spectra depending on a transmittance of semitransparent cathode show a shift of peak wavelength from 515nm to 593nm. At this time, the full width at half maximum was about to be a constant of 50nm. With this kind of microcavity effect, we were able to control the emission spectra from the top-emission organic light-emitting diodes.

• 한국진공학회지
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• 제22권2호
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• pp.92-97
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• 2013

Migration-enhanced epitaxy 성장한 InAs/GaAs 양자점(quantum dots)의 광학적 특성을 PL (photoluminescence)과 Time-resolved PL 이용하여 분석하였다. InAs 양자점은 In을 9.3초 공급하고 5초 차단한 후 As을 3초, 4초, 6초, 또는 9초 공급하고 5초 차단하는 과정을 3회 반복하여 성장하였다. As을 3초 공급한 시료의 PL 피크는 1,140 nm에서 나타나고, PL 세기는 다른 세 시료에 비해 매우 약하게 나타났다. As 공급시간을 3초에서 증가하였을 때 모든 PL 피크는 1,118 nm로 청색이동하여 나타났으며, PL 세기는 증가하였다. As을 6초 공급한 시료의 PL 세기가 가장 강하게 나타나고, 반치폭(full width at half maximum)도 가장 좁게 나타났다. 이러한 결과는 양자점의 밀도와 균일도(크기변화)로 설명된다. 또한 발광파장에 따른 PL 소멸시간은 PL 피크 근처에서 가장 길게 나타났다.

• 한국결정성장학회지
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• 제19권6호
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• pp.293-297
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• 2009

본 연구에서는 p형 단결정 규소 기판을 에칭시켜 다층구조를 갖는 DBR 및 Microcavity 다공질규소를 제작하고, 그 반사율 스펙트럼을 조사하였다. 그 결과 다층구조를 갖는 다공질규소의 반사율 스펙트럼에서 프린지 패턴의 수는 단일층 다공질규소의 경우보다 상대적으로 많았으며, 특정 파장에서 반사율은 90 % 이상으로 나타났다. 그리고 DBR 다공질규소에서 최대 반사율 봉우리의 FWHM 값은 33 nm로 매우 좁게 나타났다.

• Journal of the Optical Society of Korea
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• 제18권2호
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• pp.101-109
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• 2014

In this paper, four apodization functions are proposed for silicon-on-insulator (SOI) strip waveguides with sidewall-corrugated gratings. The effects of apodization functions on the full width at half maximum (FWHM), the side-lobe level, and the reflectivity of the reflection spectrum are studied using the coupled-mode theory (CMT) and the transfer-matrix method (TMM). The results show that applying proposed apodization functions creates very good filtering characteristics. Among investigated apodized waveguides, the apodization functions of Polynomial and z-power have the best performance in reducing side-lobes, where the side-lobe oscillations are entirely removed. Four functions are also used for precise adjustment of the bandwidth. Simulation results show that the minimum and maximum values of the FWHM are 0.74 nm and 8.48 nm respectively. In some investigated functions, changing the apodization parameters decreases the reflectivity which is compensated by increasing the grating length.