철, 구리, 알루미늄, 니켈 등의 금속을 에칭하기 위한 에칭액으로 $FeCl_3$ 용액이 사용되며, 에칭 과정에서 $Fe^{3+}$가 $Fe^{2+}$로 환원되면서 에칭속도를 저하시키고, 에칭효율이 감소하게 된다. 또한 에칭 후 발생하는 염화철 에칭폐액은 환경적, 경제적으로 문제를 지니기 때문에 에칭액을 재생하여 재사용 할 필요가 있다. 본 연구에서는 $FeCl_2$ 용액에 HCl을 첨가한 후, 산화제로 $H_2O_2$, $NaClO_3$를 첨가하여 용액 내 $Fe^{2+}$를 산화시켰으며, 산화과정에서 산화-환원전위(ORP)와 산화율간의 관계를 조사하였다. ORP는 $H_2O_2$와 $NaClO_3$의 농도가 증가함에 따라 증가하였으며, 산화가 진행되면서 점차 감소하여 산화가 완료된 후에 일정한 ORP를 유지하였다. Nernst 식과 일치하는 결과를 보였다. 또한 충분한 양의 HCl 및 $H_2O_2$, $NaClO_3$를 첨가하였을 경우, 약 99% 이상 산화가 이루어짐을 알 수 있었다.
The wider surface of the aluminum foil, electrochemically very important and it is necessary to increase the surface area. A study has been made of the fabrication condition for etching cube texture of high purity aluminium foil and of electrochemical etching of the aluminium foil. In the present work, it is shown there exists a relation between the influence of the pre-treatment time in the NaOH & HCI solution and $H_2SO_4$ concentration in the conversion solution. Also effect of temperature during AC etching was also studied. Result of the etched aluminum film is shown in the typical SEM images. Its electrochemical characteristics were investigated by cyclic voltammetry. And effects of current density and frequency is also reported. Cyclic voltammogram showed that the protective oxide film was formedon the inner surfaces of etch pit. the frequency influence resistance of oxide film in AC etching.
This article reports a new chemical bath for preparing a mirror-like surface of AZ31 Mg alloy. In order to find an appropriate chemical polishing solution, four different acidic solutions of sulphuric acid, nitric acid, acetic acid and a specially designed mixture of nitric acid and acetic acid were investigated in view of the changes in surface appearance, roughness and dissolution rate of AZ31 Mg alloy. The surface scales on AZ31 Mg alloy were readily removed by all the acidic solutions, but a reflective surface was produced only by etching in the specially designed solution, and only after a specific etching time. The surface roughness increased with etching time in sulphuric acid, nitric acid, and acetic acid, but it lowered after a specific etching time in the specially designed mixture of nitric acid and acetic acid. Dissolution rate of the alloy in the specially designed mixture of nitric acid and acetic acid appeared to be more than twice than that in separate nitric acid or acetic acid. In this work, we recommend the mirror-like surface of AZ31 Mg alloy obtained by polishing for an optimum time in a mixture of nitric acid and acetic acid for following surface finishings, chemical conversion coating, electroplating, electrophoretic painting and anodizing treatment.
In this paper, we have studied the characteristics of wet etching using citric acid based wet etchant. We have used the citric acid / hydrogen peroxide solution, citric acid / hydrogen peroxide / D.I. water solution. From our experimental result, a volumetric 1:3 ratio of citric acid and hydrogen peroxide and 1 : 3 : 1 ratio of citric acid, hydrogen peroxide, and D.I. water is shown to be a better wet etchant of PHEMT's system.
A recovery process of pure alumina powder from the wasted aluminum etching solution of electrolytic condenser works was studied. The possibility of this process was considered in the basis of thermodynamic data nad physico-chemical properties for the recovered materials were tested. In order to obtain pure alumina, Fe3+ and Cu2+ in the solution as impurities were solvent-extracted, respectively, and then, Al3+ was precipitated by changing the pH of the solution. As the results, more than 99.9% of Al3+ in the solution was recovered by the precipitation method. The weight of the precipitate was reduced to about 65 wt.% of the original one by calcination and the sizes of the recovered powders were in order of 3-5$\mu\textrm{m}$. The precipitates were transformed to $\alpha$-Al2O3 at the calcination temperature about 120$0^{\circ}C$.
Using the anisotropic etching characteristics of N2H4-H2O solutions, Si diaphragm was fabricated for the integrated sensors. The optimal composition and temperature of the etching solution in (100) Si etching process was established to be 50mol% N2H4 in H2O at 105\ulcorner\ulcorner for both higher etch rate (=2.6\ulcorner/min) and better surface quality of etched (100) planes. Based on the above optimal etching condition, the electrochemical etch-stop technique was employed to form n-type Si diaphragm having a thickness of 20\ulcorner and the thickness of diapragm could exactly be controlled to 20\ulcorner\ulcorner.
The structural and optical features of Porous Silicon(PS) were investigated; the porous silicon was prepared by electrochemical etching of silicon wafers in HF solution. The morphologies and Photoluminescece(PL) features of the PS were investigated in terms of etching time, current density and aging conditions. The average pore diameter and pore depth were determined by current density and etching time, respectively. As-prepared PS exhibited the maximum PL peak at the wavelength of ∼ 450 nm. The degree of deviation from as-prepared PS during aging treatment seemed to depend on the microstructure as well as morphology of the PS. It is found that etching current density played an important role on the microstructural features of the PS.
Recently, the minimum line width shows a tendency to decrease and the multi-level increase in semiconductor. Therefore, a planarization technique is needed and chemical mechanical polishing(CMP) is considered as one of the most suitable process. CMP accomplishes a high polishing performance and a global planarization of high quality. But there are several defects in CMP such as micro-scratches, abrasive contaminations, and non-uniformity of polished wafer edges. Wet etching include of Spin-etching can improve he defects of CMP. It uses abrasive-free chemical solution instead of slurry. On this study, ILD(INterlayer-Dielectric) was removed by CMP and wet-etching methods in order to investigate the superiority of wet etching mechanism. In the thin film wafer, the results were evaluated at a viewpoint of material removal rate(MRR) and within wafer non-uniformity(WIWNU). And pattern step height was also compared for planarization characteristics of the patterned wafer.
금 나노입자 촉매를 이용한 전기화학적 식각법에 의해 실리콘 표면에 짧은 시간의 효과적인 텍스쳐링을 통한 나노구조를 제작하여 무반사 특성을 조사하였다. 실험을 위해, 열증발증착법과 급속열처리법을 이용하여 단결정 실리콘 표면에 20 nm에서 150 nm 크기의 금 나노입자를 형성하였고, 습식식각을 위해 금 나노입자가 코팅된 실리콘을 과산화수소와 불화수소가 포함된 식각용액에 1분 동안 담가두었다. 전기화학적 습식식각을 확인하기위해, 금 나노입자가 코팅된 실리콘을 음극으로 각각 -1 V와 -2 V의 전압을 인가하여 식각깊이와 반사율 스펙트럼을 비교하였다. 태양광 스펙트럼(air mass 1.5)을 고려하여 태양가중치 반사율을 계산한 결과, 전압을 인가하지 않고 식각된 실리콘 표면의 반사율이 25.8%인 반면, -2 V의 전압을 인가하여 8.2%로 반사율을 크게 줄일 수 있었다.
Photoetching of AISI 304 stainless steel in ferric chloride solution has been studied. This paper investigated on the single side etching characteristics of 304 stainless steel, especially influence of etching temperature, spray pressure of ferric chloride etchant, and etching time with $50\mum$ and $75\mum$ line width photomask.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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