A study on the reliability test of Symmetric high voltage MOSFET under the extended source/drain length (Symmetric high voltage MOSFET의 extended source/drain 길이에 따른 전기적 특성의 고온영역 신뢰성 분석)
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- Proceedings of the IEEK Conference
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- 2003.11c
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- pp.309-312
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- 2003