Various oxide films are commonly used as a sacrificial layer or etch mask in the fabrication of microelectromechanical systems (MEMS). Large residual strain of these oxide films causes the wafer to bow, which can have detrimental effects on photolithography and other ensuing processes. This paper investigates the residual strain of tetraethoxysilane (TEOS), low temperature oxide (LTO), 7 wt% and 10 wt% phosphosilicate glass (PSG). Euler beams and a bent-beam strain sensor are used to measure the residual strain. A poly silicon layer is used as the sacrificial layer, which is selectively etched away by $XeF_2$. First, the residual strain of as-deposited films is measured, which is quite large. The residual strain of the films is also measured after annealing them not only at $500^{\circ}C$, $600^{\circ}C$, $700^{\circ}$ and $800^{\circ}C$ in $N_2$ environment for 1 hour but also at the conditions for depositing a $2\;{\mu}m$ thick polysilicon at $585^{\circ}C$ and $625^{\circ}C$. Our results show that the 7 wt% PSG is best suited as the sacrificial layer for $2\;{\mu}$ thick polysilicon processes.
In the flip chip interconnection using solder bump, the Under Bump Metallurgy (UBM) is required to perform multiple functions in its conversion of an aluminum bond pad to a solderable surface. In this study, various UBM systems such as $Al 1\mu\textrm{m} / Ti 0.2\mu\textrm{m} / Cu 5\mu\textrm{m}, Al 1\mu\textrm{m} / Ti 0.2\mu\textrm{m} / Cu 1\mu\textrm{m}, al 1\mu\textrm{m}/Ni 0.2\mu\textrm{m} / Cu 1\mu\textrm{m} and Al 1\mu\textrm{m}/Pd 0.2\mu\textrm{m} / Cu 1\mu\textrm{m}$ for flip chip interconnection using the low melting point eutectic 63Sn-37Pb solder were investigated and compared to their metallurgical properties. $100\mu\textrm{m}$ size bumps were prepared for using an electroplating process. The effects of the number of reflows and aging time on the growth of intermetallic compounds(IMC) were investigated. $Cu_6Sn_5$ and $Cu_3Sn$ IMC were abserved after aging treatment in the UBM system with thick coper $(Al 1\mu\textrm{m}/Ti 0.2\mu\textrm{m}/Cu 5\mu\textrm{m})$. However only the $Cu_6Sn_5$ was detected in the UBM system with $1\mu\textrm{m}$ thick copper even after 2 reflow and 7 day aging at $150^{\circ}C$. Complete Cu consumption by Cu-Sn IMC growth gives rise to a direct contact between solder inner layer such as Ti, Ni and Pd, and hence to possibly cause reactions between two of them. In this study, however, only for the Pd case, IMC of PdSn. was observed by Cu consumption. UBM interfacial reactions with s이der affected the adhesion strength ot s이der balls after s이der reflow and annealing treatment.
The effects of resistant starches on the quality characteristics of cookies were investigated by the physicochemical, instrumental and sensory properties of RS-added flours and cookies. Retrograded RS3 by autoclaving-cooling cycle and cross-linked RS4 after annealing treatment were used. The protein content of RS-added flour decreased, but the ash content of RS4-added flour increased slightly with increasing RS content. The RS levels of wheat flour, RS3- and RS4-added flours were 7.0%, 9.6-13.4% and 11.5-17.9%, respectively. The swelling powers of RS-added flours at 80$^{\circ}C$ decreased, but the solubility of RS3-added flour increased by 2-3 fold compared to that of control flour. Initial pasting temperature increased, but peak, holding, and final viscosities decreased with increasing RS content. The retrogradation degree of RS-added flours was lowered, because of the decreased consistency and breakdown viscosity. The yellowness of RS3-added flour increased with increasing RS3 content which induced browning reaction during baking. On the sensory test, RS-added cookies were significantly different in shape, color and overall quality (p<0.05), and their texture also affected. Overall quality was higher in peanut cookies than in AACC standard cookies and RS addition (up to 30%, w/w), regardless of the RS type, improved the cookie quality.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
/
v.28
no.3
/
pp.9-15
/
2021
Miniaturization of semiconductor devices has recently faced a physical limitation. To overcome this, 3D packaging in which semiconductor devices are vertically stacked has been actively developed. 3D packaging requires three unit processes of TSV, wafer grinding, and bonding, and among these, copper bonding is becoming very important for high performance and fine-pitch in 3D packaging. In this study, the effects of Ti nanolayer on the antioxidation of copper surface and low-temperature Cu bonding was investigated. The diffusion rate of Ti into Cu is faster than Cu into Ti in the temperature ranging from room temperature to 200℃, which shows that the titanium nanolayer can be effective for low-temperature copper bonding. The 12nm-thick titanium layer was uniformly deposited on the copper surface, and the surface roughness (Rq) was lowered from 4.1 nm to 3.2 nm. Cu bonding using Ti nanolayer was carried out at 200℃ for 1 hour, and then annealing at the same temperature and time. The average shear strength measured after bonding was 13.2 MPa.
Recently, various studies on flexible electronic devices have been performed. In this study, the potential of Ag nanowires was evaluated as a material to replace the ITO transparent conductive film. Ag nanomaterials were formed on the glass by a novel brush coating method and an argon plasma evaporation method based on atmospheric pressure plasma. First, the Ag solution is coated on the glass with a brush, and the remaining solvent is removed with atmospheric plasma. During this process of solvent evaporation, a sound is generated by the reaction between the atmospheric plasma and the solvent. Therefore, the remaining amount of the solvent can be confirmed. In order to observe optical properties and electrical results such as reflectance, transmittance, and absorbance according to the number of coatings of the film, the results were analyzed by coating up to 5 times. For the purpose of investigating the interaction of light with Ag nanowires, reflectance and transmittance were measured while changing the wavelength of light from 200 nm to 800 nm. In the case of absorbance, the trend of increasing light absorption of the Ag nanowires according to the coating was clearly confirmed. The electrical properties showed a great change from the time of coating more than 4 times, and in particular, the resistance value was lower than kΩ/cm2 when the coating was applied 5 times. Based on these optical and electrical results, we plan to verify the possibility of a transparent conductive film by applying it to electronic devices in the future.
Kim, Bo-Kyung;Lee, Jin-Yong;Ham, Sang-Hee;Lee, Sang-Suk;Hwang, Do-Guwn
Journal of the Korean Magnetics Society
/
v.13
no.2
/
pp.53-58
/
2003
Annealing effects of exchange bias fields ($H_{2ex}$(top), $H_{lex}$ (bottom)) on composite type NiFe/[FeMn/Mn]$_{80}$/NiFe multilayers have been studied. Three samples with ultra-thin Mn inserted layers on glass/Ta(50 $\AA$)/NiFe(150 $\AA$)/[F $e_{53}$M $n_{47}$(1.25 $\AA$)/Mn(0 $\AA$, 0.11 $\AA$, 0.3 $\AA$)]$_{80}$/NiFe(90 $\AA$)/Ta(50 $\AA$) were prepared by ion beam sputtering. The average x-ray diffraction peak ratios NiFe(111) of FeMn (111) fcc textures for the Mn inserted total thicknesses of 0 $\AA$, 9 $\AA$, and 24 $\AA$ were about 0.65, 0.90, and 1.5, respectively. For the sample without Mn inserted layer, the $H_{2ex}$ of 260 Oe up to 300 $^{\circ}C$ disappeared at 350 $^{\circ}C$. For two multilayer samples with ultra-thin Mn layers of 0.11 $\AA$ and 0.3 $\AA$, the $H_{2exs}$ of 310 Oe and 180 Oe up to 300 $^{\circ}C$ endured of 215 Oe and 180 Oe at 350 $^{\circ}C$, respectively. The $H_{ex}$ (bottom)s of three samples decreased from 100 Oe to 70 Oe up to 250 $^{\circ}C$, while these values increased beyond 300 $^{\circ}C$. This observation can be attributed to less diffusive path of Mn atoms in bottom NiFe than top NiFe layer. The top and bottom coercive fields slightly varied about 5 Oe∼10 Oe. From these results, we could obtain the enhancement of exchange coupling intensity and thermal stability by an ultra-thin Mn inserted layer on NiFe/[FeMn/Mn]$_{80}$/NiFe Multilayers.
The magnetic isotropy property from the magnetoresistance (MR) curve and magnetization (MH) loop for the PtMn based spin valve (SV) multilayer films fabricated with different the bottom structure after post-annealing treatment was investigated. The exchange biased coupling field ($H_{ex}$), coercivity ($H_c$), and MR ratio of Glass/Ta(10 nm)/CoFe(6 nm)/Cu(2.5 nm)/CoFe(3 nm)/Ta(4 nm) SV multilayer film without antiferromagnetic PtMn layer are 0 Oe, 25 Oe, and 3.3 %, respectively. MR curve for the Glass/Ta(10 nm)/CoFe(6 nm)/Cu(2.5 nm)/CoFe(3 nm)/PtMn(6 nm)/Ta(4 nm) SV multilayer film showed $H_{ex}=2Oe$, $H_c=316Oe$, and MR (%) = 4.4 % with one butterfly MR curve having by the effect of antiferromagnetic PtMn layer. MR curve for the dualtype Glass/Ta(10 nm)/CoFe(6 nm)/Cu(2.5 nm)/CoFe(3 nm)/PtMn(6 nm)/CoFe(3 nm)/Cu(2.5 nm)/CoFe(6 nm)/Ta(4 nm) SV multilayer film showed $H_c=37.5Oe$ and 386 Oe, MR = 3.5 % and 6.5 % with two butterfly MR curves and square-like hysteresis MH loops. The anisotropy property in CoFe spin valve-PtMn multilayer is neglected by the effects of a very small value of $H_{ex}$ and a very slightly shape magnetic anisotropy. This result is possible to explain the effect of magnetization configuration spin array of the bottom SV film and the top SV film of PtMn layer.
Kim, Su-Jin;Sun, Shih-Hui;Kim, Gi-Chang;Kim, Haeng-Ran;Yoon, Ki-Sun
Journal of the Korean Society of Food Science and Nutrition
/
v.40
no.8
/
pp.1141-1149
/
2011
The objective of this study was to analyze quality changes during storage of fresh-cut produce (leafy vegetables and condiment vegetables) as a function of packaging and storage temperature. Fresh-cut produce was washed using a three step cleaning process and was packed in vacuum packaging (green onion, hot pepper, onion, baechu) and perforated film packaging (buchu and perilla leaf). The effects of packaging method and storage temperature on quality of fresh-cut produce were determined by analyzing total plate counts, E. coli, coliform groups, moisture content, pH, Aw, surface color, and exterior quality during storage at 4 and 10$^{\circ}C$. According to the results, surface color change and microbial growth were delayed during storage at 4$^{\circ}C$. Additionally, E. coli was not detected during storage. Generally, moisture content decreased in the perforated film packaging. Changes in surface quality such as skin browning, softening of tissue and chlorosis at 4$^{\circ}C$ were inhibited, whereas rapid vacuum annealing and changes in color and flavor were observed in the sample stored at 10$^{\circ}C$. The result indicated that overall quality of the fresh-cut produce at 4$^{\circ}C$ was well maintained. The perforation in packing materials did not significantly increase the number of microorganisms on buchu and perilla leaf. The proper packaging methods and temperature may beneficial effect on microbial safety, quality and thus result in longer shelf-life fresh-cut vegetables during distribution.
The samples were synthesized by using a solid state reaction. The X-ray diffraction pattern for $Ti_{0.96}Co_{0.02}Fe_{0.02}O_2$ showed a pure rutile phase with tetragonal structure, Mixtures of the proper proportions of the elements sealed in evacuated quartz ampoule were heated at $870{\sim}930^{\circ}C$ for one day and then slowly cooled down to room temperature at a rate of $10^{\circ}C$/h. In order to obtain single phase material, it was necessary to grind the sample after the first firing and to press the powders into pellets before annealing them for a second time in evacuated and sealed quartz ampoule. Magnetic properties have been investigated using the vibrating sample magnetometer (VSM). Room temperature magnetic hysteresis (M-H) curve showed an obvious ferromagnetic behavior and the magnetic moment per Fe atom under the applied of 0.8 T was estimated to be about $1.5\;{\mu}_B$/CoFe. But the magnetic moment per Fe atom under the applied of 0.8 T was estimated to be about $0.02\;{\mu}_B$/CoFe without Ti-getter. Size of particles is about $1\;{\mu}m$ using the transmission electron microscope (TEM). The ingredients of sample are distributed irregular in particles. Only Fe get shown on the surface of particles.
본 웹사이트에 게시된 이메일 주소가 전자우편 수집 프로그램이나
그 밖의 기술적 장치를 이용하여 무단으로 수집되는 것을 거부하며,
이를 위반시 정보통신망법에 의해 형사 처벌됨을 유념하시기 바랍니다.
[게시일 2004년 10월 1일]
이용약관
제 1 장 총칙
제 1 조 (목적)
이 이용약관은 KoreaScience 홈페이지(이하 “당 사이트”)에서 제공하는 인터넷 서비스(이하 '서비스')의 가입조건 및 이용에 관한 제반 사항과 기타 필요한 사항을 구체적으로 규정함을 목적으로 합니다.
제 2 조 (용어의 정의)
① "이용자"라 함은 당 사이트에 접속하여 이 약관에 따라 당 사이트가 제공하는 서비스를 받는 회원 및 비회원을
말합니다.
② "회원"이라 함은 서비스를 이용하기 위하여 당 사이트에 개인정보를 제공하여 아이디(ID)와 비밀번호를 부여
받은 자를 말합니다.
③ "회원 아이디(ID)"라 함은 회원의 식별 및 서비스 이용을 위하여 자신이 선정한 문자 및 숫자의 조합을
말합니다.
④ "비밀번호(패스워드)"라 함은 회원이 자신의 비밀보호를 위하여 선정한 문자 및 숫자의 조합을 말합니다.
제 3 조 (이용약관의 효력 및 변경)
① 이 약관은 당 사이트에 게시하거나 기타의 방법으로 회원에게 공지함으로써 효력이 발생합니다.
② 당 사이트는 이 약관을 개정할 경우에 적용일자 및 개정사유를 명시하여 현행 약관과 함께 당 사이트의
초기화면에 그 적용일자 7일 이전부터 적용일자 전일까지 공지합니다. 다만, 회원에게 불리하게 약관내용을
변경하는 경우에는 최소한 30일 이상의 사전 유예기간을 두고 공지합니다. 이 경우 당 사이트는 개정 전
내용과 개정 후 내용을 명확하게 비교하여 이용자가 알기 쉽도록 표시합니다.
제 4 조(약관 외 준칙)
① 이 약관은 당 사이트가 제공하는 서비스에 관한 이용안내와 함께 적용됩니다.
② 이 약관에 명시되지 아니한 사항은 관계법령의 규정이 적용됩니다.
제 2 장 이용계약의 체결
제 5 조 (이용계약의 성립 등)
① 이용계약은 이용고객이 당 사이트가 정한 약관에 「동의합니다」를 선택하고, 당 사이트가 정한
온라인신청양식을 작성하여 서비스 이용을 신청한 후, 당 사이트가 이를 승낙함으로써 성립합니다.
② 제1항의 승낙은 당 사이트가 제공하는 과학기술정보검색, 맞춤정보, 서지정보 등 다른 서비스의 이용승낙을
포함합니다.
제 6 조 (회원가입)
서비스를 이용하고자 하는 고객은 당 사이트에서 정한 회원가입양식에 개인정보를 기재하여 가입을 하여야 합니다.
제 7 조 (개인정보의 보호 및 사용)
당 사이트는 관계법령이 정하는 바에 따라 회원 등록정보를 포함한 회원의 개인정보를 보호하기 위해 노력합니다. 회원 개인정보의 보호 및 사용에 대해서는 관련법령 및 당 사이트의 개인정보 보호정책이 적용됩니다.
제 8 조 (이용 신청의 승낙과 제한)
① 당 사이트는 제6조의 규정에 의한 이용신청고객에 대하여 서비스 이용을 승낙합니다.
② 당 사이트는 아래사항에 해당하는 경우에 대해서 승낙하지 아니 합니다.
- 이용계약 신청서의 내용을 허위로 기재한 경우
- 기타 규정한 제반사항을 위반하며 신청하는 경우
제 9 조 (회원 ID 부여 및 변경 등)
① 당 사이트는 이용고객에 대하여 약관에 정하는 바에 따라 자신이 선정한 회원 ID를 부여합니다.
② 회원 ID는 원칙적으로 변경이 불가하며 부득이한 사유로 인하여 변경 하고자 하는 경우에는 해당 ID를
해지하고 재가입해야 합니다.
③ 기타 회원 개인정보 관리 및 변경 등에 관한 사항은 서비스별 안내에 정하는 바에 의합니다.
제 3 장 계약 당사자의 의무
제 10 조 (KISTI의 의무)
① 당 사이트는 이용고객이 희망한 서비스 제공 개시일에 특별한 사정이 없는 한 서비스를 이용할 수 있도록
하여야 합니다.
② 당 사이트는 개인정보 보호를 위해 보안시스템을 구축하며 개인정보 보호정책을 공시하고 준수합니다.
③ 당 사이트는 회원으로부터 제기되는 의견이나 불만이 정당하다고 객관적으로 인정될 경우에는 적절한 절차를
거쳐 즉시 처리하여야 합니다. 다만, 즉시 처리가 곤란한 경우는 회원에게 그 사유와 처리일정을 통보하여야
합니다.
제 11 조 (회원의 의무)
① 이용자는 회원가입 신청 또는 회원정보 변경 시 실명으로 모든 사항을 사실에 근거하여 작성하여야 하며,
허위 또는 타인의 정보를 등록할 경우 일체의 권리를 주장할 수 없습니다.
② 당 사이트가 관계법령 및 개인정보 보호정책에 의거하여 그 책임을 지는 경우를 제외하고 회원에게 부여된
ID의 비밀번호 관리소홀, 부정사용에 의하여 발생하는 모든 결과에 대한 책임은 회원에게 있습니다.
③ 회원은 당 사이트 및 제 3자의 지적 재산권을 침해해서는 안 됩니다.
제 4 장 서비스의 이용
제 12 조 (서비스 이용 시간)
① 서비스 이용은 당 사이트의 업무상 또는 기술상 특별한 지장이 없는 한 연중무휴, 1일 24시간 운영을
원칙으로 합니다. 단, 당 사이트는 시스템 정기점검, 증설 및 교체를 위해 당 사이트가 정한 날이나 시간에
서비스를 일시 중단할 수 있으며, 예정되어 있는 작업으로 인한 서비스 일시중단은 당 사이트 홈페이지를
통해 사전에 공지합니다.
② 당 사이트는 서비스를 특정범위로 분할하여 각 범위별로 이용가능시간을 별도로 지정할 수 있습니다. 다만
이 경우 그 내용을 공지합니다.
제 13 조 (홈페이지 저작권)
① NDSL에서 제공하는 모든 저작물의 저작권은 원저작자에게 있으며, KISTI는 복제/배포/전송권을 확보하고
있습니다.
② NDSL에서 제공하는 콘텐츠를 상업적 및 기타 영리목적으로 복제/배포/전송할 경우 사전에 KISTI의 허락을
받아야 합니다.
③ NDSL에서 제공하는 콘텐츠를 보도, 비평, 교육, 연구 등을 위하여 정당한 범위 안에서 공정한 관행에
합치되게 인용할 수 있습니다.
④ NDSL에서 제공하는 콘텐츠를 무단 복제, 전송, 배포 기타 저작권법에 위반되는 방법으로 이용할 경우
저작권법 제136조에 따라 5년 이하의 징역 또는 5천만 원 이하의 벌금에 처해질 수 있습니다.
제 14 조 (유료서비스)
① 당 사이트 및 협력기관이 정한 유료서비스(원문복사 등)는 별도로 정해진 바에 따르며, 변경사항은 시행 전에
당 사이트 홈페이지를 통하여 회원에게 공지합니다.
② 유료서비스를 이용하려는 회원은 정해진 요금체계에 따라 요금을 납부해야 합니다.
제 5 장 계약 해지 및 이용 제한
제 15 조 (계약 해지)
회원이 이용계약을 해지하고자 하는 때에는 [가입해지] 메뉴를 이용해 직접 해지해야 합니다.
제 16 조 (서비스 이용제한)
① 당 사이트는 회원이 서비스 이용내용에 있어서 본 약관 제 11조 내용을 위반하거나, 다음 각 호에 해당하는
경우 서비스 이용을 제한할 수 있습니다.
- 2년 이상 서비스를 이용한 적이 없는 경우
- 기타 정상적인 서비스 운영에 방해가 될 경우
② 상기 이용제한 규정에 따라 서비스를 이용하는 회원에게 서비스 이용에 대하여 별도 공지 없이 서비스 이용의
일시정지, 이용계약 해지 할 수 있습니다.
제 17 조 (전자우편주소 수집 금지)
회원은 전자우편주소 추출기 등을 이용하여 전자우편주소를 수집 또는 제3자에게 제공할 수 없습니다.
제 6 장 손해배상 및 기타사항
제 18 조 (손해배상)
당 사이트는 무료로 제공되는 서비스와 관련하여 회원에게 어떠한 손해가 발생하더라도 당 사이트가 고의 또는 과실로 인한 손해발생을 제외하고는 이에 대하여 책임을 부담하지 아니합니다.
제 19 조 (관할 법원)
서비스 이용으로 발생한 분쟁에 대해 소송이 제기되는 경우 민사 소송법상의 관할 법원에 제기합니다.
[부 칙]
1. (시행일) 이 약관은 2016년 9월 5일부터 적용되며, 종전 약관은 본 약관으로 대체되며, 개정된 약관의 적용일 이전 가입자도 개정된 약관의 적용을 받습니다.