The Transactions of The Korean Institute of Electrical Engineers
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v.65
no.10
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pp.1697-1701
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2016
The leakage conduction and critical voltage characteristic of ZnO ceramic were investigated as a function of $Sb_2O_3$ concentration. Leakage conduction in the ohmic region increased with increasing $Sb_2O_3$ concentration and was attributed to the potential barrier height. The nonlinear coefficient increased with an increasing amount of $Sb_2O_3$. It was found that increases in the apparent critical voltages were associated with the lowered donor concentration in the grain boundary of between two ZnO grains. And the decrease of donor concentration on doping with $Sb_2O_3$ additive was attributed to the lowered capacitance in the grain boundary layer.
Kim, Jun-Kwan;Lim, Jung-Wook;Kim, Hyun-Tak;Kim, Sang-Hun;Yun, Sun-Jin
한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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2007.08b
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pp.1622-1624
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2007
In order to realize effective p-type doping in ZnO thin films, ZnO films were deposited on P-doped Silayers by RF-magnetron sputter deposition technique and annealed at various temperatures. The result indicated that ZnO film annealed at $700^{\circ}C$ showed p-type conduction with a high carrier concentration in the order of $10^{19}\;cm^{-3}$.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2006.11a
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pp.271-278
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2006
Green light emitting $Zn_2SiO_4$Mn and Al co-doped $Zn_2SiO_4$:Mn phosphor were synthesized by a sol-gel method combined with a furnace firing. The luminescent properties of the sample have been investigated. We have found that the phosphor powder with uniform shape show the maximum luminescent intensity when it is prepared with sol-gel method and fired at relatively high temperature ($1100{\sim}1300^{\circ}C$).
Proceedings of the Korean Society of Marine Engineers Conference
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2002.05a
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pp.167-171
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2002
We have investigated the optical properties of Te-doped ZnSSe:Te epitaxial layers grown on (100) GaAs substrates by molecular beam epitaxy. The Te-doped ternary specimen shows strong blue or green emission (at 300k) which is assigned to Te$_{1}$ or Te$_{n}$( n$\geq$2) cluster bound exciton. Bright green and blue light-emitting diodes (LEDs) have been developed using ZnSSe:Te system as an active layer. The green LEDs exhibit a fairly long device lifetime (>2000 h) when operated at 3 A/cm$^{2}$ under CW condition at room temperature. It is confirmed that the Te-doping induced "crystal-hardening effect" plays a significant role in both efficient and strong suppression of the optical device degradation.gradation.
Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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2009.10a
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pp.151-151
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2009
ZnO 박막은 큰 밴드 갭 및 가시광 영역에서 높은 광투과성을 가지며, 제조조건에 따라 비저항의 범위가 폭넓게 변화하므로 태양전지, 평판 디스플레이의 투명 전극뿐만 아니라 음향공전기, 바리스터 등에 이용되고 있다. ZnO 박막의 전도성을 향상시키기 위해서 일반적으로 Al, Ga, Ti, In, B, H(n-type), 등과 N, As(p-type)의 도펀트를 사용한다. 본 연구에서는 전기화학적인 방법을 사용하여 ITO/glass위에 ZnO film에 농도에 따른 Ga을 doping 하여 전기전도성 향상과 밴드갭을 넓힘으로서 전자의 recombination을 방지하여 유기태양전지의 효율을 높이는데 목적을 두었다.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2011.02a
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pp.103-103
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2011
The epitaxial Cu-doped ZnO and pure ZnO thin films were grown on Al2O3 (0001) substrates by RF sputtering method. The structures and crystallographic orientations were investigated using X-ray diffraction (XRD) and X-ray absorption spectroscopy. From the XRD pattern, it is observed that peak positions shift towards higher $2{\theta}$ value with Cu doping. The ${\omega}$-scan measurements at the (0002) diffraction peak for these samples reveal that the full-widths at half-maxima (FWHMs) are about $0.017-0.019^{\circ}$, which indicate a good c-axis orientation of the Zn1-xCuxO films. From phi-scan, all of the Zn1-xCuxO films were epitaxially grown. EXAFS measurements also demonstrated that Cu incorporated into a Zn-atom position substitutionally. All the results confirmed that copper ion were well incorporated into the ZnO lattices by substituting Zn sites without changing the wurtzite structure and no secondary phase existed in Cu-doped ZnO thin films.
Li-incorporated ZnO thin films were deposited by using ultrasonic-assisted spray pyrolysis deposition (SPD) system. To investigate the effect of Li-incorporation on the performance of ZnO thin films, the structural, electrical, and optical properites of the ZnO thin films were analyzed by means of X-ray diffraction (XRD), field-emssion scanning electron microscopy (FE-SEM), Hall effect measurement, and UV-Vis spectrophotometry with variation of the Li concentraion in the ZnO sources. Without incorporation of Li element, the ZnO surface showed large spiral domains. As the Li content increases, the size of spiral domains decreased gradually, and finally formed mixed small grain and one-dimensional nanorod-like structures on the surface. This morphological evolution was explained based on an anti-surfactant effect of Li atoms on the ZnO growth surface. In addition, the Li-incorporation changed the optical and electrical properties of the ZnO thin films by modifying the crystalline defect structures by doping effects.
ZnS:Mn, Dy yellow phosphors for White Light Emitting Diode were synthesized by a solid state reaction method using ZnS, $MnSO_4{\cdot}5H_2O$, S and $DyCl_3{\cdot}6H_2O$ powders as starting materials. The mixed powder was sintered at $1000^{\circ}C$ for 4 h in an air atmosphere. The photoluminescence of the ZnS:Mn, Dy phosphors showed spectra extending from 480 to 700 nm, peaking at 580 nm. The photoluminescence of 580 nm in the ZnS:Mn, Dy phosphors was associated with $^4T_1{\rightarrow}^6A_1$ transition of $Mn^{2+}$ ions. The highest photoluminescence intensity of the ZnS:Mn, Dy phosphors under 450 nm excitation was observed at 4 mol% Dy doping. The enhanced photoluminescence intensity of the ZnS:Mn, Dy phosphors was explained by energy transfer from $Dy^{3+}$ to $Mn^{2+}$. The CIE coordinate of the 4 mol% Dy doped ZnS:Mn, Dy was X = 0.5221, Y = 0.4763. The optimum mixing conditions for White Light Emitting Diode was obtained at the ratio of epoxy : yellow phosphor = 1:2 form CIE coordinate.
The green emitting phosphors of the Field Emission Display(FED), Al codoped ZnGa$_{2}$O$_{4}$:Mn, were synthesized and sintered at high temperature. From X-ray diffraction measurements, it was confirmed that poly crystalline ZnGa$_{2}$O$_{4}$ and ZnAI$_{2}$O$_{4}$ solid solution coexist in Al codoped ZnGa$_{2}$O$_{4}$:Mn. Photoluminescence spectra of Al codoped ZnGa$_{2}$O$_{4}$:Mn show that the main peak position is shifted from 504 nm to 513 nm with the increase of Al concentration. The brightness was improved with the amount of Al dopant. It showed the maximum value at the doping level of 0.03 mole and then, it degraded rapidly. These results are due to the superposition of emission from . ZnGa$_{2}$O$_{4}$:Mn and ZnAI$_{2}$O$_{4}$:Mn.
Kim, Jae-Hyung;Park, Chang-Hee;Kang, Sang-Sik;Nam, Sang-Hee
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.4
no.5
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pp.15-18
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2003
The Cd$\_$1-x/Zn$\_$x/Te film was produced by thermal evaporation for the flat-panel X-ray detector. The crystal structure and the surface morphology of poly crystalline Cd$\_$1-x/Zn$\_$x/Te film were examined using XRD and SEM, respectively. The leakage current and X-ray sensitivity of the fabricated films were measured to analyze the X-ray response characteristic of Zn in a polycrystalline CdZnTe thin film. The leakage current and the output charge density of Cd$\_$0.7/Zn$\_$0.3/Te thin film were measured to 0.3 1nA/$\textrm{cm}^2$ and 260 pC/$\textrm{cm}^2$ at an applied voltage of 2.5 V/$\mu\textrm{m}$, respectively. Experimental results showed that the increase of Zn doping rates in Cd$\_$1-x/Zn$\_$x/Te detectors reduced the leakage current and improved the X-ray sensitivity significantly. The leakage current was drastically diminished by the formation of thin parylene layer in the Cd$\_$0.7/Zn$\_$0.3/Te detector.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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