• 제목/요약/키워드: X-ray topography

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모아레 체형측정법이 청소년기 척추측만증의 조기집단검진 활용 가능성에 대한 평가 (Application of 3-Dimensional MOIRE Topography to the School Screening Program for Adolescent Scoliosis)

  • 한명금;신병철
    • 대한추나의학회지
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    • 제4권1호
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    • pp.1-16
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    • 2003
  • Objectives : The purpose of this study is researching for possibility that Moire topography be applied in group school screening for scoliosis known school health problem, and find acceptable method of early detection and early treatment for scoliosis Methods : The authors practiced Moire topography for primary & middle school 1,895 students[male 976, female 919] in Jeonju, korea in 2001. After we distinguished students who had abnormal finding in Moire topography and then re-examined spinal X-ray analysis. The data was analysed and evaluated statistically Results : According to this research, the abnormal finding in Moire topography was 53.7% (1,018 students), and students needed X-ray re-examination were 11.2% (213 students). Students diagnosed scoliosis by X-ray re-examination were 1.8%. According to statistical analysis, interval between vertical base line of pelvis and vertical base line of neck, gap between left distance and right distance to the vertical base line of pelvis and difference of contour lines have strong correlations with deformity degree of the body surface examined by Moire. Conclusions : Following this research, throughout early detection for scoliosis by Moire topography could reduce exposure from scoliosis radiographs, and could detect trunk asymmetry that couldn't be found existing X-ray examination, so it made selecting students under observation who have bad posture possible.

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가속기 백색광 X-Ray Topography를 이용한 CVD 단결정 다이아몬드 내부 전위 분석 (Dislocation Analysis of CVD Single Crystal Diamond Using Synchrotron White Beam X-Ray Topography)

  • 유영재;정성민;배시영
    • 한국전기전자재료학회논문지
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    • 제32권3호
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    • pp.192-195
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    • 2019
  • Single-crystal diamond obtained by chemical vapor deposition (CVD) exhibits great potential for use in next-generation power devices. Low defect density is required for the use of such power devices in high-power operations; however, plastic deformation and lattice strain increase the dislocation density during diamond growth by CVD. Therefore, characterization of the dislocations in CVD diamond is essential to ensure the growth of high-quality diamond. In this work, we analyze the characteristics of the dislocations in CVD diamond through synchrotron white beam X-ray topography. In estimate, many threading edge dislocations and five mixed dislocations were identified over the whole surface.

X-선 Lang 토포그래피를 이용한 사파이어 단결정 웨이퍼 결함 분석

  • 전현구;빈석민;이유민;오병성;김창수
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2013년도 제44회 동계 정기학술대회 초록집
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    • pp.371-371
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    • 2013
  • 사파이어 단결정 웨이퍼는 제조과정에서 결정 성장 조건 및 기계적 연마에 의하여 내부적인 결함이 발생할 수 있다. 사파이어 단결정은 일반적으로 LED용 기판 재료로 사용되며, 내부결함이 발생 시 기판 위의 GaN 등 layer의 결함도 함께 증가하므로 기판의 결함을 줄이는 과정이 중요한 이슈이다. 이 과정에 X-선 토포그래피는 단결정의 내부 결함을 모니터링 하는데 있어서 매우 유용한 방법이다. 이에 본 연구에서는 사파이어 단결정 웨이퍼에 내재하는 결함 형태를 X-선 Lang 토포그래피 방법(X-ray Lang Topography)으로 이미징하여 관찰, 분석하였다. Lang 토포그래피 방법은 X-선 투과법으로 넓은 부분을 우수한 강도와 분해능으로 내부 결함을 관찰할 수 있는 장점을 지니고 있다. X-선 source는 Mo $k{\alpha}$ 1을 사용하였으며, 시료는 c-plane 사파이어 웨이퍼를 사용하였다. 사파이어 웨이퍼의 (110), (102) 회절면의 X-선 토포그래피 이미지를 통해 전위 결함의 유형에 따른 이미지 패턴의 형성 메커니즘에 대해 연구하였고, 측정 회절면과 두께, 표면 데미지에 따른 전위 결함 이미지의 변화를 확인하였다. X-선 토포그래피 이미지를 통해 단결정 c-plane 사파이어 웨이퍼의 전위 결함의 형성 메카니즘 연구와 유형별 이미지와 회절면, 두께, 표면 데미지에 따른 이미지 변화 등을 확인하였다.

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$BaO-B_2O_3-Nd_2O_3-Al_2O_3$계 고온 용액으로부터 성장된 $NdAl_3(BO_3)_4$ 단결정의 표면구조와 X-선 Topography (Surface Structure and X-ray Topography of $NdAl_3(BO_3)_4$ Single Crystals Grown from High Temperature Solution of $BaO-B_2O_3-Nd_2O_3-Al_2O_3$ System)

  • 정선태;강진기;김정환;정수진
    • 한국세라믹학회지
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    • 제31권3호
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    • pp.249-256
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    • 1994
  • By surface structure and X-ray topographic observation, growth mechanism of NAB single crystal grown by TSSG technique using a BaB4O7 flux was studied. Surface structure of grown crystals were investigated by optical microscope. Growth history and crystal defects included within grown crystal were investigated using X-ray topography. The {001} faces were grown by 2-D nucleation growth. As decreasing cooling rate, growth mechanism of {111} and {11} was changed from 2-D nucleation growth to the growth by screw dislocation. Only surface striations developed parallel to a-axis were observed on {010} faces. Growth sector of NAB crystals were divided into {001}, {111}, {010}, {021}, {11}. The inclusion which was usually trapped between {001} faces was investigated.

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측만증 환자에서 3차원 체표면 영상분석과 Cobb 각의 상관관계 (Correlation of the 3D-Surface Topography and Cobb's Angle in Scoliotic Patient's)

  • 최은정;김태열
    • 대한임상전기생리학회지
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    • 제3권1호
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    • pp.61-70
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    • 2005
  • The purpose of study correlation between 3D-surface topography and Cobb angle in scoliotic patients. It would be recognizing possibility of clinical application with 3D-surface topography with scoliosis assessment and correlation analysis of obtained Cobb angle through measured results of surface topography and took X-ray of subjects with scoliosis, which used to 3D-surface topography of laser scan method. A scoliosis subjects 16(males 4, females 12) agreed for study's purport volunteer our study that diagnose the scoliosis through 3D-surface topography and X-ray. The results were as follow: It was shown that the relation of Cobb angle of scoliosis and itemized 3D-surface topography measurement in horizontal view(p<0.01). top difference of cervicothoracic and lumbar in anterior-posterior view(p<0.05), the top difference of thoracic, thoracolumbar(p<0.01). These results suggest that an itemized 3D-surface topography measurement was highly correlated with Cobb angle. It would be a useful diagnosis method and assessment of physical therapy plan.

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대구경 사파이어 단결정 기판의 결함 평가를 위한 X-선 토포그래피 장비 구축

  • 전현구;정인영;이유민;김창수;박현민;오병성
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2013년도 제45회 하계 정기학술대회 초록집
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    • pp.238-238
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    • 2013
  • 사파이어 단결정은 광학 투명도, 물리적 강도, 충격 저항, 마모 부식, 높은 압력 및 온도 내구성, 생체 호환성 등 다양한 특성을 가지고 있어 다양한 분야에서 사용되고 있으며, 특히 최근에는 백색 또는 청색 LED 소자 분야에서 기판으로 주로 활용되고 있다. 이러한 사파이어 단결정 기판은 공정에서 결정 성장 조건 및 기계적 연마 등의 다양한 요인으로 결정학적 결함이 발생한다. 이러한 결정학적 결함을 제어함으로서 좋은 품질의 단결정 기판을 생산할 수 있다. 이에 따라 각종 결함 제어를 위해서 X-선, EPD, 레이저 편광법 등 다양한 방법으로 결함들을 측정하고 있다. 그 중에서도 X-선 토포그래피는 시료를 비파괴적인 방법으로 단결정의 결함 밀도와 유형 등을 파악하는데 매우 유용한 측정법이며, Lang 토포그래피로 대표되는 X-선 회절 투과법은 기판과 같은 대구경의 시료를 우수한 분해능으로 내부 결함까지 관찰할 수 있는 장점을 지니고 있다. 본 연구에서는 대구경 사파이어 단결정 기판에 내재하는 결정 결함을 확인 및 분석하기 위해 X-선 Lang 토포그래피(X-ray Lang Topography) 장비를 구축하였다. 그리고 4, 6인치 c-면 사파이어 단결정 기판의 (110), (102) 회절면의 X-선 토포그래피 측정을 통해 전위(dislocation), 스크래치(scratch), 표면데미지(surface damage), 트윈(twin), 잔류 응력(strain) 등의 결함의 유형을 식별 및 분석하였으며, 각각의 결함들의 토포그래피 이미지 형성 메커니즘에 대해 분석하였다. 이를 통해 X-선 Lang 토포그래피(X-ray Lang Topography) 장비가 대구경 사파이어 단결정 기판의 결정 결함 평가에 폭넓은 활용이 가능할 것으로 예상된다.

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단결정 AlN의 미세구조 분석 및 어닐링 공정이 결정성에 미치는 영향 (Microstructural analysis of the single crystalline AlN and the effect of the annealing on the crystalline quality)

  • 김정운;배시영;정성민;강승민;강성;김철진
    • 한국결정성장학회지
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    • 제28권4호
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    • pp.152-158
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    • 2018
  • PVT(Physical vapor transport)법은 고품질의 대면적 웨이퍼를 생산하기에 이점을 가져 질화물계 반도체의 상용화를 위해 많은 연구가 진행되고 있는 단결정 성장 방법이다. 하지만 복잡한 공정 변수들로 인하여 비평형적인 성장 조건을 갖게 될 경우 수많은 결함들이 발생하게 된다. 결정성장 후 어닐링 공정은 결정성 개선을 위해 널리 사용된다. 효과적인 결정성 개선을 위해서는 적절한 온도, 압력과 시간을 설정하는 게 중요하다. 본 연구에서는 PVT법으로 성장된 AlN 단결정 및 어닐링 조건에 따른 단결정의 결정 미세구조 변화를 X-ray topography, Electron Backscattered Diffraction(EBSD), Rietveld refinement를 통해 분석하였다. Synchrotron Whitebeam X-ray topography 분석 결과 어닐링을 진행하지 않은 단결정에 2차상 및 sub grain, impurity가 존재하였으며 이로 인해 결정성이 저하되는 것을 확인 할 수 있었다. EBSD 결과 어닐링을 진행한 시편의 경우 결정립수가 증가함과 동시에 basal plane의 뒤틀림이 일어나는 것을 관찰할 수 있었다. Rietveld refinement 결과 일부 격자들이 a, b, c축 방향으로 응력을 받아 변형된 것으로 분석되었다. 이는 어닐링 과정 중 hot zone 내의 상하 온도구배에 의해 발생한 응력으로 결정립 방향의 뒤틀림이 일어날 뿐만 아니라 격자 상수가 달라진 것으로 분석된다.

UV 형광과 X-선 Lang 표면이미지를 이용한 천연유색다이아몬드의 감별 연구 (Identification of natural colored diamonds using UV fluorescent and X-ray Lang images)

  • 김준환;하준석;김기훈;송오성
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제10권12호
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    • pp.3540-3545
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    • 2009
  • 보석용 다이아몬드의 합성, 처리기술의 발달로 천연 유색다이아몬드를 신속하고, 경제적이고, 재현성있게 감별할 필요가 커지고 있다. 천연다이아몬드의 감별을 위해 UV광원에 의한 다이아몬드의 형광 이미지 분석과 X-ray Lang 분석을 통하여 4개의 천연 유색다이아몬드와 1개의 합성 유색다이아몬드를 분석하여 보았다. 천연다이아몬드가 UV 형광이미지와 X-선 Lang분석에 대해 상대적으로 균일한 이미지를 보임에 비해 합성석은 국부적으로 균일한 이미지를 보여 효과적인 감별이 가능하였다. 특히 X-선 Lang 이미지 분석이 천연 유색다이아몬드의 감별에 더 높은 분해능으로 효과적인 감별이 가능하였다.

척추측만증 검진을 위한 모아레 체형측정법과 설문조사의 상관성 연구 (Clinical Study on the Correlation between 3-Dimensional MOIRE Topography and Questionnaire for School Screening in Scoliosis)

  • 유한길;김혜정;신병철
    • 대한추나의학회지
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    • 제4권1호
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    • pp.141-153
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    • 2003
  • Objectives : The purpose of this study is researching for correlation between Moire topography results and questionnaire which include obesity rate, height, weight, posture, pain aspect (low back pain, headache, fatigue, neck pain etc), studying posture, school attendance method, menarche. Methods : The authors practiced Moire topography and questionnaire for primary & middle school 24,419 students [male 12,843, female 11,576] in Jeonbuk, korea in 2002. After we distinguished students who had abnormal finding in Moire topography and statistically analysed the data. Results : According to this research, the abnormal finding in Moire topography results was 37.3% (9,105 students), and students needed X-ray re-examination were 3.9% (953 students). According to statistical analysis, male/female and primary/middle school students have no difference in deformity degree of the body surface examined by Moire. Height and weight have low correlation with deformity degree of the body surface examined by Moire and menarche, pain aspect have no correlation. But, school attendance method by bicycle and $90^{\circ}$upright sitting in study posture is the best way to decrease the deformity degree of the body surface examined by Moire. Conclusions : Following this research, throughout Moire topography could detect trunk asymmetry that couldn't be found existing X-ray examination, and school attendance by bicycle and $90^{\circ}$upright sitting in study posture is good for school students to prevent back deformity.

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실리콘 웨이퍼 표면에서 X-선 산만산란에 의한 기계적 손상층의 상대 정량 평가 (Relative quantitative evaluation of mechanical damage layer by X-ray diffuse scattering in silicon wafer surface)

  • 최치영;조상희
    • 한국결정성장학회지
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    • 제8권4호
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    • pp.581-586
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    • 1998
  • 초크랄스키 실리콘 기판의 뒷면에 형성된 기계적 손상이 미치는 효과에 대하여 고찰하였다. 기계적 손상의 정도는 레이저 여기/극초단파 반사 광전도 감쇠법에 의한 소수반송자 재결합 수명, X-선 단면 측정 및 습식 산화/선택적 식긱 방법으로 평가하였다. 그 결과, 웨이퍼 뒷면에 가해지는 기계적 손상의 세기가 강할수록 소수반송자 재결합 수명은 짧아지고, 산만 산란 정도와 X-선 과잉 강도의 적분값은 비례적으로 증가하였으며, 그 값을 Grade 1의 손상된 웨이퍼에서의 과잉 강도로 정규화하면 과잉 강도의 상대 정량비는 Geade 1:Grade 2:Grade 3 = 1:7:18.4이다.

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