High-speed multi-pass wet wire drawing has become very common for production of high-carbon steel cord because of the increase in customer demand and production rates in real industrial fields. Although, the wet wire drawing process is performed at a high speed usually above 1000m/min, greater speed is required to improve productivity. However, in the high-carbon steel wire drawing process, the wire temperature rises greatly as the drawing speed increase. The excessive temperature rise makes the wire more brittle and finally leads to wire breakage. In this study, the variations in wire temperature during the multi-pass wet wire drawing process were investigated. A multi-pass wet wire drawing process with 21 passes, which is used to produce steel cord, was redesigned by considering the increase in temperature. Through a wet wire drawing experiment, it was possible to increase the maximum final drawing speed to 2000m/min.
In this paper, we investigated about wet cleaning effect as deep trench formation methods for Power chip devices. Deep trench structure was classified by two methods, PSU (Poly Stick Up) and Non-PSU structure. In this paper, we could remove residue defect during wet. cleaning after deep trench etch process for non-PSU structure device as to change wet cleaning process condition. V-SEM result showed void image at the trench bottom site due to residue defect and residue component was oxide by EDS analysis. In order to find the reason of happening residue defect, we experimented about various process conditions. So, defect source was that oxide film was re-deposited at trench bottom by changed to hydrophobic property at substrate during hard mask removal process. Therefore, in order to removal residue defect, we added in-situ SCI during hard mask removal process, and defect was removed perfectly. And WLR (Wafer Level Reliability) test result was no difference between normal and optimized process condition.
Byungkuk Lee ;Seungchul Yang;Dongyong Kwak ;Hyunkwang Jo ;Youngwoo Lee;Youngmoon Bae ;Jayhyung Lee
Nuclear Engineering and Technology
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제55권6호
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pp.2206-2214
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2023
The existing wet reconversion processes for the recovery of scraps generated in manufacturing of nuclear fuel are complex and require several unit operation steps. In this study, it is attempted to simplify the recovery process of high-quality fuel-grade UO2 powder. A novel wet reconversion process for uranyl nitrate hexahydrate solution is suggested by using a newly developed pulsed fluidized bed reactor, and the resultant chemical characteristics are evaluated for the intermediate ammonium uranate hydrate product and subsequently converted UO2 powder, as well as the compliance with nuclear fuel specifications and advantages over existing wet processes. The UO2 powder obtained by the suggested process improved fuel pellet properties compared to those derived from the existing wet conversion processes. Powder performance tests revealed that the produced UO2 powder satisfies all specifications required for fuel pellets, including the sintered density, increase in re-sintered density, and grain size. Therefore, the processes described herein can aid realizing a simplified manufacturing process for nuclear-grade UO2 powders that can be used for nuclear power generation.
실리카흄과 이산화티타늄을 건식 및 습식방식에 의해 나노화하여 시멘트 모르타르의 강도특성실험을 수행하였다. 실험변수는 건식 및 습식 방식으로 제조된 혼화재를 각각 5,10,15,20%의 첨가율로 하였다. 그 결과 실리카흄과 이산화티타늄을 사용했을 때의 시멘트 모르타르 강도 특성이 유사하게 나타났으며 건식과 습식 혼화재의 비교에서는 습식 혼화재를 사용했을 때가 더 큰 강도 특성을 보였다.
An in-line wet etch/cleaning system was established for the research and development in wet etch process as a formation of electrode such as metal or transparent conductive oxide layer. A reverse moving system was equipped in the in-line wet etch/cleaning system for the alternating motion of glass substrate in a wet etch bath of the system. Therefore, it was possible for the glass substrate to be moved back and forth and it was possible to reduce the size of the system by using the reversing moving system. For the effect of the alternating motion of substrate on the etch rate in the in-line wet etch bath, indium tin oxide(ITO) patterns were obtained through wet etch process in the in-line system in which the substrate was moved back and forth. From the CD(critical dimension) skews resulted from the ADI CD and ACI CD of the ITO patterns, it was concluded that the alternating motion of glass substrate are possible to be applied to the mass production of wet etch process.
We investigated the appropriate wet cleaning process for Co-Ti-Si compounds formed on top of cobalt disilicide made from Co/Ti deposition and two rapid thermal annealing (RTA). We employed three wet cleaning processes, WP1 ($H_2$SO$_4$ etchant), WP2 ($NH_4$OH etchant), and WP3 which execute sequentially WP1 and WP2 after the first RTA. All samples were cleaned with BOE etchant after the second RTA. We characterized the sheet resistance with process steps by a four-point probe, the microstructure evolution by a cross detail sectional transmission electron microscope, a Auger depth profiler, and a X-ray diffractometer (XRD). We confirmed WP3 wet cleaning process were the most suitable to remove CoTiSi layer selectively.
본 연구에서는 습식 방법으로 진행 되는 BGA 현상 공정에 있어 기존의 수평 장비를 대체하여 수직 장비를 개발하였다. 지그를 이용하여 기판을 수직 방향으로 고정한 후 습식 공정을 진행함으로써 기존 수평 장비의 단점인 롤러와 기판 표면 회로 패턴의 충돌로 인한 회로 패턴 손상 문제를 원천적으로 제거하고자 하였다. 개발된 수직 장비의 공정 특성을 수평 장비와 비교 평가 하기 위하여 유니포미터 측정, 회로 패턴 손상 평가 및 불량 평가의 실험을 수행하였다. 평가 결과 수직 장비의 유니포미티 특성은 수평 장비와 동일한 수준이며 중력 방향의 액흐름에 대한 공정 특성 영향은 미미한 것으로 확인 되었다. 또한, 수평 장비 대비 $3{\sim}4{\mu}m$ 더 미세한 회로 패턴에 대해여 손상 없이 공정을 진행 할 수 있음을 확인 할 수 있었다.
In this report, a new process for patterning of YBaCuO thin films, ICP(inductively coupled plasma) method, is described by comparing with existing wet etching method. Two 100㎛ wide and 2mm long YBaCuO striplines on LaAlO$_3$ substrates have been fabricated using two patterning techniques. And the properties were compared with the critical temperature and the SEM photography. Then, the critical temperatures of two samples were about 88 K, but the cross section of sample using ICP method was shaper than that using the wet etching method. ICP method can be used as a good etching technique process for patterning of YBaCuO superconductor.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제16권1호
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pp.34-36
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2015
Amorphous SiZnSnO(SZTO) thin film transistors(TFTs) have been fabricated by RF magnetron sputtering process, and they were annealed in air and in wet ambient. The electrical performance and the structure were analyzed by I-V measurement, XPS, AFM, and XRD. The results showed improvement in device performance by wet annealing process compared to air annealing treatment, because free electron was shown to be increased due to reaction of oxygen and hydrogen generating oxygen vacancy. This is understood by the generation of free electrons. We expect the wet annealing process to be a promising candidate to contributing to high electrical performance of oxide thin film transistors for backplane device applications.
The feasibility for a practical use of underwater wet arc welding process is experimentally investigated by using low hydrogen and high oxide type electrodes and TMCP steel plates. Main results are summarized as follows: 1)The absorption speed of the coated low hydrogen and high titanium oxide type eletrodes becomes constant after about 30 minutes in water, and more steeping time in water does not influnce welding arc behavior. 2) By bead appearance and X-ray inspection, the high titanium oxide type electrode is better than the low hydrogen type in underwater arc welding process. 3) The mechanical properties of underwater wet arc welds depend upon welding conditions more than those of in-air welds, and the optimum welding condition can be obtained. 4) Because of quenching effect by rapid cooling rate in underwater wet welding, the maximum hardness of HAZ is increased relatively higher in underwater wet welding, process.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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