Characterization of Thin $SiO_2/Si_3N_4$ Film on $WSi_2$
(텅스텐 실리사이드 상의 얇은 $SiO_2/Si_3N_4$ 막의 특성 평가)
-
- Journal of the Korean Vacuum Society
- /
- v.1 no.1
- /
- pp.183-189
- /
- 1992