Characteristics of Polarization and Birefringence for Submicron a-Ge Thin Film on Quartz Substrate Formed by Focused-Ion-Beam (석영 기판 위에 집속 이온빔 기술에 의해 형성된 비정질 게르마늄 박막 미세 패턴의 편광 및 복굴절 특성)
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- Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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- 1999.05a
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- pp.617-620
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- 1999