표면파를 이용하여 쇼트피닝된 Al 7075 합금의 잔류응력 분포를 평가하고자 하였다. 재료 내 표면층에 대한 잔류응력분포를 달리하기 위해서 피닝볼의 속도를 30m/s로 하여 쇼트피닝을 수행하였다. 표면파의 속도는 초음파현미경을 이용하여 V(z)곡선법으로 측정하였다. 쇼트피닝 후 비커스경도를 측정한 결과 쇼트피닝에 의한 소성변형으로 0.25mm 깊이까지 가공경화가 나타났다. 압축잔류응력이 증가하면서 표면파의 속도는 증가를 하였고 인장잔류응력이 작용할수록 표면파의 속도가 감소하였다. 표면파의 속도 변화는 X선 회절에 의해 측정한 잔류응력 변화와 밀접한 연관성을 나타내었다.
본 연구에서는 박막 표면을 따라 전파하는 표면파의 속도 분산성을 이용하여 박막의 두께를 비파괴적으로 측정할 수 있는 기법을 제안하였다. 표면파의 분산성을 이용하여 박막의 두께를 측정하기 위하여 전자빔증착법(E-beam evaporation)을 이용하여 Si(100) 웨이퍼 위에 니켈의 증착시간을 제어함으로서 두께가 다른 니켈 박막시험편을 제작하였다. 제작된 시험편의 실제 증착된 박막의 두께를 확인하기 위하여 SEM(scanning electron microscope)을 이용하여 박막의 단면사진을 촬영하여 두께를 확인하였다. 그 후에 두께가 다른 시험편에서의 표면파의 속도를 초음파현미경(scanning acoustic microscope)의 V(z) 곡선법을 이용하여 표면파의 속도를 측정하고 실제 측정된 두께와 표면파 속도와의 상관성을 확인하였다. 박막의 두께가 증가함에 따라 표면파의 속도는 감소하는 경향성을 나타내었다. 결론적으로 본 연구에서 제안한 표면파의 속도 분산성을 이용하여 나노 스케일 니켈 박막의 두께를 측정하는 기법이 가능성이 있음을 확인하였다.
This paper describes the factors which control the impedance-relative humidity characteristics of the TiO2-V2O5 humidity sensor. To obtain the quantitative relationships between impedance and many manufacturing parameters such as V2O5mol%, the sintering time and temperature, various sets of samples are preared and tested. With changing relative hymidity from 20% to 80%, it is measrued that the corresponding capacitance and impedance from the semicircles which complex impedance plots make. As a result we found that the impedance-relative humidity characteristics are mainly controlled by the doping amount of V2O5 total pore volume and bulk resistence of the elements. We can assume the equivalent circuits of each samples and finally control the sintering time to get a linear humidity impedance response curve which plays an important role in device making. 4mol% V2O5-TiO2 specimen sintered at 90$0^{\circ}C$ for 10min. show liear log(Z) vs. RH characteristics and 10mol% V2O5-TiO2 specimen sintered at the same temp. for 20min. show linear (Z) vs. RH.
Austenite stainless steel 304 has properties of high resistance to corrosion and temperature changes. Therefore, this material is widely used in various of industries. However, when the material is subjected to heating and cooling cycles the forming accuracy, for example, the right angle associated with a sharp bend such as corner is lost. This phenomenon is caused by the reversion of the deformation-induced martensite into austenite when the temperature in increased. This result in misfit of a structure or an assembly, and an increase in residual stress. Hence, it is important to understand this process. In this study, to evaluate the mechanical behavior of the deformation-induced martensite and reversed austenite, a scanning acoustic spectroscope including the capability of obtaining both phase and amplitude of the ultrasonic wave (i.e., the complex V(z) curve method) was used. Then, the velocities of the SAW propagating within the specimens made in different conditions were measured. The experimental differences of the SAW velocities obtained in this experiment were ranging from 2,750 m/s to 2,850 m/s, and the theoretical difference was 3.6% under the assumption that the SAW velocity was 2,800 m/s. The error became smaller as the martensite content was increased. Therefore, the SAW velocity may be a probe to estimate the marternsite content.
본 연구에서는 극성이 높고, 휘발성이 낮아 GC나 GC/MS로 분석이 곤란한 환경매체 중의 아미트롤을 LC/ESI/MS를 사용하여 분석한 결과 다음과 같은 결론을 얻었다. 분자량이 84인 아미트롤은 LC/ESI/MS 방식에서는 m/z 85인$(M+H)^+$형태로 나타났으며, 피크강도는 30V에서 (SIR mode) 최대를 나타내었다. 질량 스펙트럼 비를 정성확인에 적용하기 위하여 실험한 결과 아미트롤은 m/z 85 와 m/z 58 이온으로 나타났으며, 50V에서 이 비는 1 : 7.03~7.58 로 나타났다. 동위원소 비를 이용한 정성확인은 isotope MS나 HR/MS가 주로 사용되나, 본 연구에서는 정성확인을 위한 보조수단으로 이용하고자 실험한 결과 아미트롤의 동위원소는 $86([M+H])^+$ 형태로 나타났으며, 시료에서(30V) m/z 85와 m/z 86의 질량 스펙트럼 비는 27.1~28.6 : 1(이론적 비 26.6 : 1)로 나타났다. 단계별 표준액을 시료의 전 처리 방법과 동일하게 처리하여 분석한 검량선의 직선성은 $y=1.09354e^6X+26947.2$이었으며, $r^2=0.99$로 나타났다. 분석의 정도관리를 위한 회수율검정과 반복 재현성을 알아보기 위한 실험에서 수질시료의 회수율은 77.64~83.44%, 토양시료에서는71.11~79.44%로 나타났으며, 각 농도 단계별 반복(5회)실험결과 상대표준편차 값은 10%이하를 나타내었다.
Acrylamide, difficult to analyze by GC and GC/MS due to the polarity and low volatility, was analyzed by LC/ESI/MS in the study. Acrylamide its(molecular weight 71amu) showed m/z=72 $(M+H)^+$ and high peak intensity at 22V in SIR mode. The mass spectrum ratios of acrylamide for qualitative identification had m/z=72 in precursor ion and m/z=55 in products ion, respectively. Those ratios at 30V in SIR mode ranged from 1: 1.4 to 1:1.17 despite various acrylamide concentrations. The ion intensity ratios of acrylamide $(m/z=72,\; [M+H]^+)$ to acrylamide isotopes $(m/z=73,\;[M+H]^+)$ ranged from 100 : 3.57 to 100 : 3.92. The results verified theoretical mass spectrum ratio that was 100:3.82. The linearity of standard calibration curve was y : 520.584x + 1815.26 with $r^2=0.99.$ In quality assurance and quality control, the recovery rate ranged from 81.64 percent to 90.97 percent and relative standard deviation was less than $10\%$ with 5 repeated injections at individual standard calibration solutions. The method was applied to analyze acrylamide in food at grocery stores. Snacks made of potatoes showed the highest acrylamide concentration followed by products made of French fries, wheat, and corn.
유도결합 플라스마-질랑분석법을 이용하여 혈청, 생우유 및 사료첨가제 중 요오드를 정량하였다. 시료를 매트릭스 변형제인 $NH_4OH$(0.5% v/v)+$CH_3OH$(5% v/v) 혼합용액으로 25배 묽힌 다음, m/z=127에서 이온세기를 측정하였다. 이 방법에 대한 요오드의 검정곡선은 $0-100{\mu}g/L$ 범위에서 상관계수($R^2$)가 0.99인 직선관계를 나타내었으며, 검출한계는 $0.084{\mu}g/L$이었다. 최적 분석 및 기기 조건에서 분유 표준시료를 분석한 결과 상대오차는 2.30-4.73% 범위이었다. 또한 혈청, 생우유, 동물의 사료 첨가제 등과 같은 실제시료를 분석한 결과 요오드의 함유량은 각각 $12.4-40.2{\mu}g/L$, < 0.01-3.11 mg/L,< $10^{-7}-2.60g/kg$ 범위이었다.
본 연구에서는 편극 패턴된 강유전체 단결정 $LiNbO_3$ 기판에 광화학적 반응에 의해 금속(Au, Ag, Cu)나노입자를 표면에 선택적으로 성장하였다. 강유전체는 자발편극성의 특성을 지니고 있기 때문에 선택적으로 전압을 가하여 편극성의 역전에 의해 표면의 편극성을 선택적으로 패터닝이 가능하다. 본 연구에서는 주기적으로 양의 편극 영역과 음의 편극 영역이 패턴된 $LiNbO_3$ 기판을 사용하였다. 표면의 편극성은 압전소자반응현미경법(PFM)을 이용하여 확인하였으며, 극성은 R-V curve로 확인하였다. 금속입자는 금속입자를 포함하는 용액에 기판을 넣고 자외선을 조사하여 성장시켰다. 성장된 금속입자의 표면 분포 및 분석은 AFM을 이용하여 측정하였다. Ag 입자를 성장시킨 결과, (-z)편극 영역보다 (+z)편극영역에서 보다 많은 금속 나노입자들이 환원반응을 일으켜 나노입자를 형성하였으며, 경계영역 (inversion domain boundary)에 가장 많은 나노구조체가 형성되었다. Au 입자의 경우, (+z)편극영역이 (-z)편극영역의 표면보다 더 많은 입자가 형성되었지만 Ag입자처럼 편극영역의 경계에서 많이 증착되는 경향성은 보이지 않았다. Cu 입자의 경우 광화학반응을 거의 일으키지 않았으며, 편극영역에 따른 증착 경향성도 보이지 않았다. 이와 같은 결과를 증착된 금속 나노입자의 편극에 따른 표면분포를 강유전체 표면 극성에 따른 표면 밴드구조와, 각 입자가 지닌 환원전위와 전자친화도에 관련된 모델로 설명할 것이다.
I.S. Bae;S.H. Cho;Park, Z. T.;Kim, J.G.;B. Y. Hong;J.H. Boo
한국표면공학회:학술대회논문집
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한국표면공학회 2003년도 추계학술발표회초록집
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pp.119-119
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2003
Plasma polymerized organic thin films were deposited on Si(100) glass and Copper substrates at 25 ∼ 100 $^{\circ}C$ using cyclohexane and ethylcyclohexane precursors by PECVD method. In order to compare physical and electrochemical properties of the as-grown thin films, the effects of the RF plasma power in the range of 20∼50 W and deposition temperature on both corrosion protection efficiency and physical properties were studied. We found that the corrosion protection efficiency (P$\_$k/), which is one of the important factors for corrosion protection in the interlayer dielectrics of microelectronic devices application, was increased with increasing RF power. The highest P$\_$k/ value of plasma polymerized ethylcyclohexane film (92.1% at 50 W) was higher than that of the plasma polymerized cyclohexane film (85.26% at 50 W), indicating inhibition of oxygen reduction. Impedance analyzer was utilized for the determination of I-V curve for leakage current density and C-V for dielectric constants. To obtain C-V curve, we used a MIM structure of metal(Al)-insulator(plasma polymerized thin film)-metal(Pt) structure. Al as the electrode was evaporated on the ethylcyclohexane films that grew on Pt coated silicon substrates, and the dielectric constants of the as-grown films were then calculated from C-V data measured at 1㎒. From the electrical property measurements such as I-V ana C-V characteristics, the minimum dielectric constant and the best leakage current of ethylcyclohexane thin films were obtained to be about 3.11 and 5 ${\times}$ 10$\^$-12/ A/$\textrm{cm}^2$ and cyclohexane thin films were obtained to be about 2.3 and 8 ${\times}$ 10$\^$-12/ A/$\textrm{cm}^2$.
A double diffusion technique is developed to enhance the effective mode index of optical waveguides in $LiTaO_3$. It consists of Zn diffusion from the vapor phase at relatively low temperatures (750->$800^{\circ}C$), into waveguides initially produced by Ti indiffusion at higher temperature (1150->$1200^{\circ}C$). Both X- and Z-cut substrates are investigated. A model that combines profiles of both diffusion is formulated to calculate the expected effective index values for planar waveguides. Good agreement is found between experimental results and model predictions which assume that the initial Ti profile is not affected by the lower temperature Zn diffusion. Effective index enhancements as high as 0.005 and 0.003 are obtained by this method for the fundamental extraordinary and ordinary modes, respectively.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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