Polymer thin films were prepared by radio frequency (RF) plasma polymerization of phthalic anhydride (PA). First, monomer vaporization temperature ($100{\sim}160^{\circ}C$) was optimized by evaluating the thermal properties of thin films using differential scanning calorimeter (DSC) and measuring the root-mean-square (RMS) roughness with atomic force microscope (AFM) at the fixed plasma power of 10 W and time of 5 min in a continuous-wave (CW) mode. Plasma power (5~20 W) was then optimized by measuring the film solubility in solvents such as toluene, acetone, dimethylsulfoxide (DMSO) and 1 methylpyrrolidine (NMP). Next, pulsed mode plasma polymerization was also studied by varying the duty cycle of on-time (5, 20%) under optimized conditions of continuous-wave (CW) mode ($120^{\circ}C$, 10 W) in order to increase the anhydride functional groups. Finally, polymer thin films were characterized by Fourier transform infrared spectroscopy (FT-IR), thermogravimetric analyzer (TGA) and ${\alpha}$-step.
Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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v.12
no.11
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pp.4711-4717
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2011
Formation of TiN films by PVD method and the DC and RF sputtering deposition method can be applied, the injected gas to generate plasma ionization rate of the film forming speed is slow away, anything to increase the adhesion between films limitations have. To improve this, to investigate the deposition and ion beam evaporation simultaneously IBAD(Ion beam assisted deposition) when used, Ion beam surface coating material prior to the survey because the surface cleaning effect of a large, high film adhesion can be obtained. In addition, the high vacuum and low temperature, high purity thin film of uniform thickness in the benefits is.
Vapor phase polymerization of a conductive polymer on a $SiO_2$ surface can offer an easy and convenient means to depositing pure and conductive polymer thin films. However, the vapor phase deposition is generally associated with very poor adhesion as well as difficulty when patterning the polymer thin film onto an oxide dielectric substrate. For a significant improvement of the patternability and adhesion of Poly(3-hexylthiophene) (P3HT) thin film to a $SiO_2$ surface, the substrate was pre-patterned with n-octadecyltrichlorosilane (OTS) molecules using a ${\mu}$-contact printing method. The negative patterns were then backfilled with each of three amino-functionalized silane self-assembled monolayers (SAMs) of (3-aminopropyl) trimethoxysilane (APS), N-(2-aminoethyl)-aminopropyltrimethoxysilane (EDA), and (3- trimethoxysilylpropyl)diethylenetriamine (DET). The quality and electrical properties of the patterned P3HT thin films were investigated with optical and atomic force microscopy and a four-point probe. The results exhibited excellent selective deposition and significantly improved adhesion of P3HT films to a $SiO_2$ surface. In addition, the conductivity of polymeric thin films was relatively high (${\sim}13.51\;S/cm$).
Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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2011.10a
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pp.18.1-18.1
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2011
Some applications of carbon nanotubes (CNTs) as field emitters, such as x-ray tubes and microwave amplifiers, require high current emission from a small emitter area. To emit the high current density, CNT emitters should be optimally fabricated in terms of material properties and morphological aspects including high crystallinity, aspect ratio, distribution density, height uniformity, adhesion on a substrate, low outgassing rate during electron emission in vacuum, etc. In particular, adhesion of emitters on the substrate is one of the most important parameters to be secured for high current field emission from CNTs. So, we attempted a novel approach to improve the adhesion of CNT emitters by incorporating metal oxide layers between CNT emitters. In our previous study, CNT emitters were fabricated on a metal mesh by filtrating the aqueous suspensions containing both highly crystalline thin multiwalled CNTs and thick entangled multiwalled CNTs. However, the adhesion of CNT film was not enough to produce a high emission current for an extended period of time even after adopting the metal mesh as a fixing substrate of the CNT film. While a high current was emitted, some part of the film was shown to delaminate. In order to strengthen the CNT networks, cobalt-nickel oxides were incorporated into the film. After coating the oxide layer, the CNT tips seemed to be more strongly adhered on the CNT bush. Without the oxide layer, the field emission voltage-current curve moved fast to a high voltage side as increasing the number of voltage sweeps. With the cobalt-nickel oxide incorporated, however, the curve does not move after the second voltage sweep. Such improvement of emission properties seemed to be attributed to stronger adhesion of the CNT film which was imparted by the cobalt-nickel oxide layer between CNT networks. Observed after field emission for an extended period of time, the CNT film with the oxide layer showed less damage on the surface caused by high current emission.
The material constitution of multi-layered thin film coated on the PET base film was analyzed using ATR FT-IR and pyro GC/MS combination. The cross section of the film was acquired by cracking the film after dipping in liquid nitrogen and was observed using optical microscope. Total thickness of the coated film was $70{\mu}m$ and three layers were observed. Since each layers were too thin to analyze directly except the surface layer, analyzable area of each layers were exposed by using a proper solvent and were investigated using ATR FT-IR and pyro GC/MS. Results shows that three layers were commonly consisted of urethane-acrylate copolymers. Also, inorganic and/or metal inclusions detected by XPS and SEM-EDAX were exhibited by nano size $SiO_2$ particles in layer(1) and aluminum flakes in layer(2).
Polymer thin films of pentafluorostyrene (PFS) were prepared by RF plasma (13.56 MHz) polymerization in continuous wave (CW) mode, as a function of plasma power and monomer pressure. Conditions for film preparation were optimized by measuring the solvent resistance of plasma polymer thin films in DMAc, NMP, THF, acetone and chloroform, as well as by evaluating the optical clarity via UV-VIS measurements. Pulsed mode plasma polymerization was also utilized to enhance the optical properties of the films by varying the period of on-time and duty cycle. Finally, the films were subjected to refractive index measurements and analyzed by ${\alpha}$-step, TGA and FT-IR.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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