• 한국정보통신학회논문지
• /
• 제11권12호
• /
• pp.2311-2318
• /
• 2007

유한고장수를 가진 비동질적인 포아송 과정에 기초한 모형들에서 잔존 오류 1개당 고장 발생률은 일반적으로 상수, 혹은 단조증가 및 단조 감소 추세를 가지고 있다. 소프트웨어 제품의 정확한 인도시기를 예측하거나 효용성 및 신뢰성을 예측하기 위해서는 소프트웨어 테스팅 과정에서 중요한 요소인 테스트 커버리지를 이용하면 보다 효율적인 테스팅 작업을 할 수 있다. 이런 모형을 ENHPP모형이라고 한다. 본 논문에서는 기존의 소프트웨어 신뢰성 모형인 지수 커버리지 모형과 S-커버리지 모형을 재조명하고 이 분야에 적용될 수 있는 Kappa 분포를 이용한 모형인 Kappa 커버리지 모형을 제안하였다. 고장 간격시간으로 구성된 자료를 이용한 모수추정 방법은 최우추정법과 일반적인 수치해석 방법인 이분법을 사용하여 모수 추정을 실시하고 효율적인 모형 선택은 편차자승합(SSE) 및 콜모고로프 거리를 적용하여 모형들에 대한 효율적인 모형 선택도 시도 하였다. 수치적인 예에서는 실제 고장자료를 통하여 분석하였다 이 자료들에서 기존의 모형과 Kappa 커버리지 모형의 비교를 위하여 산술적 및 라플라스 검정, 편의 검정 등을 이용하였다.

• Journal of Information Processing Systems
• /
• 제6권2호
• /
• pp.197-208
• /
• 2010

Test scenarios can be derived based on some system models for requirements validation purposes. Model-based test suite reduction aims to provide a smaller set of test scenarios which can preserve the original test coverage with respect to some testing criteria. We are proposing to apply Formal Concept Analysis (FCA) in analyzing the association between a set of test scenarios and a set of transitions specified in a state machine model. By utilizing the properties of concept lattice, we are able to determine incrementally a minimal set of test scenarios with adequate test coverage.

• 전자공학회논문지C
• /
• 제35C권3호
• /
• pp.1-15
• /
• 1998

In this paper, we propose a partial scan test method which can be applied to large VLSI designs. In this method, it is not necessary to hold neither scanned nor unscanned flip-flops during scan in, test application,or scan out. This test method requires almost identical design for testability modification and test wave form when compared to the full scan test method, and the method is applicable to large VLSI chips. The well known FAN algorithm has been modified to devise to sequential ATPG algorithm which is effective for the proposed test method. In addition, a partial scan algorithm which is effective for the proposed test method. In addition, a partial algorithm determined a maximal set of flip-flops which gives high fault coverage when they are unselected. The experimental resutls show that the proposed method allow as large as 20% flip-flops to remain unscanned without much decrease in the full scan fault coverage.

• 반도체디스플레이기술학회지
• /
• 제22권1호
• /
• pp.49-53
• /
• 2023

In this paper, we propose an antirandom pattern-based test method considering power consumption to compensate for the problem that the fault coverage through random test decreases or the test time increases significantly when the DUT circuit structure is complex or large. In the proposed method, a group unit test pattern generation process and rearrangement process are added to improve the problems of long calculation time and high-power consumption, which are disadvantages of the previous antirandom test.

• 한국콘텐츠학회논문지
• /
• 제12권11호
• /
• pp.39-48
• /
• 2012

소프트웨어 테스팅이 소프트웨어 개발 비용의 상당 부분을 차지하는 것은 잘 알려진 사실이다. 소프트웨어 테스팅 비용을 줄이기 위해 소프트웨어 테스트 데이터를 자동으로 생성하는 방법에 많은 연구가 이루어지고 있다. 일반적으로 테스트 데이터 자동 생성을 지원하기 위해 심볼릭 실행기나 제약 해결기와 같은 정교한 도구들을 요구한다. 그러나 이와 같은 도구들을 개발하거나 구입하는 것은 소프트웨어 테스트 관련 비용을 증가시키는 또 다른 요소로 작용된다. 이 논문에서는 심볼릭 실행이나 제약 해결에 의존되지 않는 동적 테스트 데이터 방법을 제안한다. 제안된 방식은 분기 커버리지 기준을 효과적으로 만족하도록 Korel의 경로 지향 테스트 데이터 생성 방법을 확장한다. 이 논문에서는 삼각형 분류 프로그램에 대한 실험을 통하여 제안된 방법이 분기 커버리지를 매우 효과적으로 달성함을 보인다.

• 대한전자공학회:학술대회논문집
• /
• 대한전자공학회 2000년도 하계종합학술대회 논문집(2)
• /
• pp.137-140
• /
• 2000

In this paper, we have proposed an efficient test generation method for asynchronous circuits. The test generation is based on specification level, especially on Signal Transition Graph(STG)〔1〕 which is a kind of specification method for asynchronous circuits. To conduct a high-level test generation, we have defined a high-level fault model, called single State Transition Fault(STF) model on STG and proposed a test generation algorithm for STF model. The effectiveness of the proposed fault model and its test generation algorithm is shown by experimental results on a set of benchmarks given in the form of STG. Experimental results show that the generated test for the proposed fault model achieves high fault coverage over single input stuck-at fault model with low cost. We have also proposed extended STF model with additional gate-level information to achieve higher fault coverage in cost of longer execution time.

• 제어로봇시스템학회논문지
• /
• 제16권8호
• /
• pp.786-793
• /
• 2010

This paper proposes a new method called the path-history coverage to generate a test suite to test the state transition behavior of the robot SW component. The proposed method generate a test suite which includes abnormal state transitions based on FSM of target component. Especially the proposed method covers the disadvantage of the mutation test method that the size of the test suite is explosively increasing. Examples including OPRoS Component[1] show the validity of the proposed method.

• 한국항행학회논문지
• /
• 제24권3호
• /
• pp.212-217
• /
• 2020

최근 4차산업 혁명에 대한 관심과 더불어 자율주행 기술에 대한 요구가 높아지고 있다. V2X (vehicle to everything) 통신기술은 자율주행차량에 있어 핵심기술로서 유무선 망을 통해 차량, 인프라, 네트워크, 보행자 등과 같은 객체들과 정보를 교환하는 기술이다. 본 논문에서는 WAVE (wireless access in vehicular environment)와 LTE (long term evolution)를 복합설계하여 구현한 하이브리드 V2X 통신 시스템의 개발결과와 시스템의 성능을 확인하기 위해 커버리지 테스트를 수행한 결과를 제시한다. 커버리지 측정을 통해 하이브리드 V2X 통신 성능이 기존의 LTE나 WAVE의 단일 통신 시스템보다 통신 커버리지에 있어 우수하여 자율주행서비스에 효율적으로 적용 가능하다는 것을 보인다.

• 정보처리학회논문지:컴퓨터 및 통신 시스템
• /
• 제3권10호
• /
• pp.365-370
• /
• 2014

사물 인터넷(Internet of Things : IoT) 환경이 이미 네트워크기반의 서비스 분야에서 가장 대표적인 패러다임이 되었음에도 불구하고, 인간과 사물 및 환경이 서로 제약 없이 연결되는 특성으로 인하여 해당 환경에 특화된 테스트 기법은 여전히 많은 연구가 필요한 상황이다. 에뮬레이터 기반에서 테스트 대상 장치를 구동하는 대부분의 기존 방식은 IoT와 같이 그 연결이 다양해지고 장치의 구분이 불분명해질수록 실제 환경과의 격차가 커져 결론적으로 부정확한 테스트 결과가 산출될 가능성이 높다. 본 논문에서는 이러한 문제를 개선하고자 각각의 장치들의 오버헤드를 최소화함과 동시에 대상 코드의 특정 부분이 중복적으로 테스트되지 않는 특징을 가진 BitTorrent기반의 테스트 커버리지 측정 기법을 제안한다.

• 대한가정학회지
• /
• 제33권1호
• /
• pp.187-202
• /
• 1995

The purpose of the study was to suggest ways of improvement of the present sizing systems for the middle aged women's clothing. For this, a questionnaire survey for the aged group and calculating coverage rate of one garment item(suit) between the companies has been carried out. The data was analyzed with use of SPSS package. The statistics were based o frequency, X2-test, t-test and one-way ANOVA. The results of the study was as follows: 1. In case of survey for middle aged women, the problems concerning the length and abdominal girth were found, that is to say, the former too long and the latter too tight. 2. The sizing systems between companies were very different in size classification and standard deviation of each sizes. 3. In calculating coverage rate of the 10 companies's sizing systems, coverage rate of the smallest size in each were the highest and those of the biggest were 0%. It means the standard deviation of the present sizing systems are not enough to cover the various body form of the middle aged women, so that the more diverse sizing system is required for the better fitness of middle aged women's clothing.