It is shown that $I_{DDQ}$ testing is very useful for shipping fault-free CMOS ICs. However, test time of $I_{DDQ}$ testing is extremely larger than one of logic testing. In this paper, a new test input sequence generation methodology is proposed to reduce the test time of $I_{DDQ}$ testing. At first, it is Shown that $I_{DDQ}$ test time Will be denominated by charge supply current for load capacitance of gates whose output logic values are changed by test input vector application and the charge current depends on input sequence of test vectors. After that, a test input sequence generation methodology is proposed. The feasibility is checked by some experiments.riments.
프로토콜 적합성 시험은 시험 대상인 구현물을 하나의 black box로서 고려하여 input에 대한 output 과 결과 상태를 확인하는 일련의 과정으로 구성된다. 특히 결과 상태를 확인하는 방법에 따라 Unique Input/Output(UIO) Sequence, Distinguishing Sequence(DS) 및 Characterization Set(CS) 등으로 구분할 수 있다. 또한 UIO sequence가 존재하지 않는 상태에 대한 시험을 위해서라고 Partial UIO Set(CS) 등으로 구분 할 수 이따. 또한 PUIO sequence가 존재하지 않는 상태에 대한 시험을 위해서도 Partial UIO sequence 방법이 제안되었다. 본 논문에서는 이러한 PUIO sequence를 제시하고 이를 이용한 개선된 PUIO sequence 제안하였으며, 그 적용 결과로서 PUIO sequence의 수가 56%정도 줄어드는 것을 확인할 수 있었다.
본 논문은 형식기술기법으로 기술된 차세대지능망 응용프로토콜(INAP: Intelligent Network Application Protocool)로부터 추상시험스위트 (Abstract Test Suite) 자동생성에 대한 연구 결과를 기술한다. 시험 자동생성을 위해 RCP tour(Rural Chinese Postman tour) 개념과 UIO 시퀀스 (UIO:Unique Input Output Sequence) 개념을 응용하였다. SDL(System Description Language) 형식기술 기법으로 명세화된 INAP명세로부터 생성한 I/O FSM(Input/Output Finite State Machine)을 중간모델로 하여 UIO 시퀀스를 정의하고, 정의된 UIO 시퀀스를 RCP tour 개념과 결합하여 최적의 시험 시퀀스를 생성하였다. 본 논문에서는 또, 생성된 시험 스위트의 오류커버영역 예측방법을 제시하고, 마지막으로 표준화된 시험 표기법인 TTCN(Tree and Tabular Combined Notation)으로 생성된 시험스위트의 변환방법도 제시한다.
This paper describes a research result on automatic generation of abstract test cases from formal specifications by applying many related algorithms and techniques such as the testing framework, rural Chinese postman tour and unique input output sequence concepts. In addition, an efficient algorithm for verifying the strong connectivity of the reference finite state machine and the concept of unique event sequence are explained. We made use of several techniques to from an integrated framework for abstract test case generation from LOTOS and SDL specifications. A prototype of the proposed framework has been built with special attention to real protocol in order to generate the executable test cases in an automatic way. The abstract test cases in tree and tabular combined notation (TTCN) language will be applied to the TTCN compiler in order to obtain the executable test cases which re relevant to the industrial application.
Timing diagram은 시간에 따른 시스템의 행동을 표현하기 용이하고 표현된 행동을 쉽게 인식할 수 있는다는 장점 때문에 널리 사용되고 있다. Timing diagram으로 기술된 시스템을 테스트 하기 위해서는 여러 기술이 필요하다. 그 중의 하나는 테스트 케이스 목표들이 존재할 때, 시스템 모델이 원하는 상태에 도달하도록 하기 위해 입력 값들의 시퀀스를 생성하는 기술이다. 본 논문은 Timing diagram모델에 대한 테스트 케이스 목표로부터 테스트 입력 시퀀스를 자동으로 생성하는 방법을 제안한다. Timing diagram에서 테스트 입력 시퀀스를 자동으로 생성하기 위해서는 입력 waveform과 시간 제약으로 이루어진 시점의 전이 조건을 만족시키는 적절한 입력 집합을 필요로 한다. 이와 같은 문제를 해결하기 위해, 본 논문에서는 선형 계획법을 이용한 접근 방식을 택하였는데, 해결과정은 다음과 같다. 1) Timing diagram 모델을 입력으로 받아 이를 선형 계획 문제로 변형한다. 2)변형된 선형 계획 문제를 선형 문제 해결 도구를 사용하여 해결한다. 3) 선형 계획 문제의 해답으로부터 Timing diagram모델의 테스트 입력 시퀀스를 생성한다. 본 논문에서는 임의의 Timing diagram 모델에 대해 이를 선형 계획법으로 모델링 하는 방법을 형식적으로 기술하였고, 증명을 통해 본 논문의 접근 방법의 타당성을 보였으며, 또한 도구를 구현하여 Timing diagram 예제 모델로부터 테스트 입력 시퀀스를 생성함으로써 본 논문의 유용성을 입증하였다.
대용량의 텍스트 문서가 매일 만들어지는 빅데이터 환경에서 제목은 문서의 핵심 아이디어를 빠르게 집어내는데 매우 중요한 단서가 된다. 그러나 블로그 기사나 소셜 미디어 메시지와 같은 많은 종류의 문서들은 제목을 갖고 있지 않다. 본 논문에서는 주의집중 및 복사 작용을 가진 sequence-to-sequence 순환신경망을 사용한 제목 생성 모델을 제안한다. 제안 모델은 양방향 GRU(Gated Recurrent Unit) 네트워크에 기반 하여 입력 문장을 인코딩(encoding)하고, 입력 문장에서 자동 선별된 키워드와 함께 인코딩된 문장을 디코딩함으로써 제목 단어들을 생성한다. 93,631문서의 학습 데이터와 500문서의 평가 데이터를 가진 실험에서 주의집중 작용방법이 복사 작용방법보다 높은 어휘 일치율(ROUGE-1: 0.1935, ROUGE-2: 0.0364, ROUGE-L: 0.1555)을 보였고 사람이 정성평가한 지표는 복사 작용방법이 높은 성능을 보였다.
본 논문은 프로토콜 구현물이 프로토콜의 사양에 대한 적합성을 시험하기 위한 시험항목 생성방법들에 대하여 비교분석 한다. 대표적인 방법들인 천이 순회, 구별 시퀀스, 특징화 시퀀스, 유일 입출력 시퀀스와 변형된 이들 방법들을 분석하고, 유한 상태 기계 모델에 적용한 위의 방법들의 시험항목 길이를 비교 및 분석 한다. 결론에서는 프로토콜 적합성시험을 위한 시험항목 생성방법들에 대한 핵심적이고 분석적인 이슈 사안들을 다음과 같이 제시한다. 천이 순회 방법은 최단의 시험 항목을 생성하지만 최악의 오류 검출 성능을 제공한다. 특징화 시퀀스 방법은 완벽한 오류 검출 성능을 제공하지만 상대적으로 최장의 시험 항목을 생성한다. 구별 시퀀스 방법의 문제점은 이 구별 시퀀스가 항상 존재하지는 않는다는 것이다. 유일 입출력 시퀀스 방법이 비교적 폭넓게 적용될 수 있지만 구별 시퀀스 방법과 동일한 오류 검출 성능을 제공하지 못한다는 문제점이 있다.
본 논문은 형식 기술 기법에 의한 차세대 지능망의 INAP(Intelligent Network Application Protocol) 프로토콜 적합성 시험 계열 생성을 위해 형식 기술 기법(formal Description Tehnique)을 사용하여 프로토콜을 명세화한후 이것으로부터 최소 길이의 최소 비용을 요구 하는 시험계열 생성을 위한 최적화 기술에 의한 방법을 제안한다. 제안된 방법을 구연하고 효율성을 증명하기 위해, INAP 프로토콜 SRF(Serivece Rexource Function)의 SRSM(SRF Call State Machine)을 형식 기술 기법 중의 하나인 SDL(System Description Language)로 명세화 하여 관련 도구로 I/O FSM(Input/Output Finite Machine)을 생성 하고, 이 참조 모델에 직접 적용하여 시험 개열을 생성하였다. 이렇게 생성 시험 개혈의 길이가 기존의 UIO(Unique Input Output)방법에 의한 31%나 개선된 짧고 효율적임을 보였고 또 오류 판단 능력면에서도 훨씬 효과가 있음을 실험적으로 증명하였다.
프로토콜의 적합성시험은 컴퓨터 통신에서 상호운용성과 비용의 효율성을 높이기 위해서 매우 중요하다. 적합성 시험은 구현된 내용이 프로토콜 규격에 적합하게 구현되었는지를 검사하는 것으로, 그것의 효율성과 오류검출능력은 시험 항목의 생성방법에 의해서 결정된다. 프로토콜이 유한상태기계로 표현될때 한상태에 여러개의 UIO(Unique Input Output)순서들이 존재할 수 있으므로 이들중 가장 적합한 순서를 선정함으로서 시험 길이를 최소화 할 수 있다. 따라서 본 논문은 시험 길이를 최소화하기 위해서 여러개의 UIO순서들간에 존재하는 최대중복성을 찾기 위한 알고리즘을 깊이트리를 이용하여 구성하였고, 이 알고리즘을 이용하여 최소길이의 시험 순서를 생성하는 예를 보여주었다.
본 논문에서는 기존의 UIO순열을 이용하는 방법을 개선하여 비결정적 유한상태기계에서 시험 경우를 생성하는 방법에 대해서 소개하였으며, 시험 경우의 자동생성을 위해서 필수적인 사항인 적합성 관계의 형식적인 정의를 새롭게 정의하였다. 또한 프로토콜의 비결정적인 성질 때문에 시험기는 한 입력을 가했을 때 어떤 출력을 낼지 미리 시험기의 입장에서 알 수 없으므로 적응력있는 시험을 위해서 트리형태의 시험 경우를 생성하는 방법을 소개하였고 시험 경우를 입력과 출력을 분리해서 고려함으로써 시험 경우 기술 언어인 TTCN으로의 변환을 쉽게 하였다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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