• Title/Summary/Keyword: T-Scan

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Efficient Test Data Compression and Low Power Scan Testing in SoCs

  • Jung, Jun-Mo;Chong, Jong-Wha
    • ETRI Journal
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    • 제25권5호
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    • pp.321-327
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    • 2003
  • Testing time and power consumption during the testing of SoCs are becoming increasingly important with an increasing volume of test data in intellectual property cores in SoCs. This paper presents a new algorithm to reduce the scan-in power and test data volume using a modified scan latch reordering algorithm. We apply a scan latch reordering technique to minimize the column hamming distance in scan vectors. During scan latch reordering, the don't-care inputs in the scan vectors are assigned for low power and high compression. Experimental results for ISCAS 89 benchmark circuits show that reduced test data and low power scan testing can be achieved in all cases.

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Low power scan testing and efficient test data compression for System-On-a-Chip

  • Jung, Jun-Mo;Chong, Jong-Wha
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2002년도 ITC-CSCC -1
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    • pp.228-230
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    • 2002
  • We present a new low power scan testing and test data compression method for System-On-a-Chip (SOC). The don't cares in unspecified scan vectors are mapped to binary values for low power and encoded by adaptive encoding method for higher compression. Also, the scan-in direction of scan vectors is determined for low power. Experimental results for full-scanned versions of ISCAS 89 benchmark circuits show that the proposed method has both low power and higher compression.

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Low Power Test for SoC(System-On-Chip)

  • Jung, Jun-Mo
    • Journal of information and communication convergence engineering
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    • 제9권6호
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    • pp.729-732
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    • 2011
  • Power consumption during testing System-On-Chip (SOC) is becoming increasingly important as the IP core increases in SOC. We present a new algorithm to reduce the scan-in power using the modified scan latch reordering and clock gating. We apply scan latch reordering technique for minimizing the hamming distance in scan vectors. Also, during scan latch reordering, the don't care inputs in scan vectors are assigned for low power. Also, we apply the clock gated scan cells. Experimental results for ISCAS 89 benchmark circuits show that reduced low power scan testing can be achieved in all cases.

T-Scan system을 이용한 하악 측방운동 시 교합접촉 분석 (An occlusal contact analysis of lateral mandibular movement using T-Scan system)

  • 송주헌;주세진;이호선;강동완;이경제
    • 대한치과보철학회지
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    • 제53권2호
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    • pp.128-137
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    • 2015
  • 목적: 교합접촉 분석에 대한 연구는 외국인을 대상으로 이루어져왔다. 이번 연구에서는 T-Scan을 이용하여 하악 측방운동시 교합접촉 분석을 통해 한국인의 교합 양상을 파악해보고자 한다. 재료 및 방법: 87명을 대상으로 T-Scan을 이용하여 하악 측방운동시 교합접촉을 분석하였다. 최대교두감합위에서 측방으로 3 mm범위까지 교합접촉을 측정하였으며, 최대교두감합위, 우측방운동, 좌측방운동을 각각 3회씩 측정하였다. 교합접촉은 thin metal foil을 이용하여 재확인하였다. 결과는 균형측 교합접촉 고려하지 않은 경우와 고려한 경우로 나누어 정리하였다. 결과: 하악 측방운동시 균형측 접촉 고려 유무에 따라 결과에서 많은 차이가 관찰되었으며, 두가지 분류 모두에서 군기능유도가 가장 우세하게 나타났다. 작업측에서는 견치에서 가장 많은 접촉빈도가 관찰되었으며, 견치에서 구치부로 멀어질수록 접촉빈도는 감소하는 양상을 보였다. 균형측에서는 제 2대구치에서 압도적으로 많은 빈도로 관찰되었다. 성별에 따른 균형측 접촉 빈도는 여성에서 더 높은 균형측 교합접촉이 관찰되었으며 이는 통계적으로 유의성이 있었다(${\alpha}$=.05). 결론: 전방유도의 양상 중 군기능유도가 가장 우세하게 나타났다. 작업측에서는 견치에서 가장 높은 접촉빈도가 관찰되었으며, 균형측에서는 제 2 대구치에서 가장 높은 접촉빈도가 관찰되었다.

보철물 수복 형태에 따른 T-Scan Novus와 Dental prescale II를 이용한 교합력 평가 활용 증례 (Evaluation of occlusal strength using T-Scan Novus and Dental prescale II in dental prosthodontic treatments: A case report)

  • 최수현;최유성;이종혁;하승룡
    • 대한치과보철학회지
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    • 제61권2호
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    • pp.160-178
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    • 2023
  • 보철 치료 시 교합관계의 진단과 분석은 중요한 요소 중 하나이다. 치료 시행 전 면밀한 교합분석 및 평가가 선행되어 안정적인 악간 관계를 회복시켜 주어야 하며, 치료 과정 및 정기 검진 시에도 이에 대한 평가는 필수적이다. 최근, 치과용 기기와 디지털 처리 방식의 발달로 환자의 교합관계를 기록할 수 있는 새로운 정량적 분석 방법들이 소개되고 있다. 그 중 T-Scan Novus (Tekscan Inc., S. Boston, MA, USA)는 압력측정센서를 이용하여 상하악 치아의 초기접촉점과 교합접촉점의 상대적인 강도를 나타내며 치아의 교합접촉 시간, 교합력의 전후방, 좌우균형을 비교할 수 있다. Dental prescale II (GC Co., Tokyo, Japan)는 압력감지필름을 이용하여 교합접촉점을 스캔하여 접촉점의 밀도를 분석하는 방법으로 최대한 자연스러운 교합상태 치열의 교합력 분포와 강도를 측정할 수 있다. 환자의 치아 상실 부위와 범위에 따라 4-unit 고정성 국소의치, 가철성 국소의치, 총의치, 완전구강회복술을 시행하였다. 적절한 교합 분석을 위해, 초진, 각 치료 단계, 치료 직후 및 정기검진 시의 환자의 교합을 T-Scan Novus와 Dental prescale II를 이용하여 정량적으로 비교, 평가하였다. 보철수복 치료과정에서 교합 분석에 대한 이해도를 제고할 수 있었고, 기능 및 심미적으로 환자와 술자 모두 만족할 만한 결과를 얻었기에 이를 보고하고자 한다.

여대생의 측두하악장애에 따른 T-scan III System을 이용한 교합분석 및 구강행동유형과의 관련성 (Relationship between occlusion analysis using the T-scan III system and oral behavior checklist according to temporomandibular joint disorder in female college students)

  • 이선미;김창희;전미경
    • 한국치위생학회지
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    • 제19권2호
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    • pp.317-327
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    • 2019
  • Objectives: This study aimed to evaluate the effects of occlusion patterns using the T-scan $III^{(R)}$ system and oral parafunctional behaviors on temporomandibular joint disorder (TMD) in female college students. Methods: A questionnaire survey assessed TMD symptoms and oral behavioral checklist (OBC) scores in 120 female college students in their early twenties. Occlusion was evaluated using the T-scan $III^{(R)}$ system. Logistic regression analysis was performed to investigate the relationship between occlusion and OBC scores based on patients' symptoms of TMD and to determine whether OBC scores were a predictor of TMD. Results: A total of 101 participants with an average age of 22 (${\pm}2.17$) years were included in the analysis. The reported symptoms of TMD were categorized as moderate (28.8%), slight (27.7%), severe (25.7%), and asymptomatic (17.8%). Occlusion was analyzed using the T-scan $III^{(R)}$ system, and the mean occlusion time was 0.42(${\pm}0.5$) seconds. The results of logistic regression analysis showed that the group that would 'clench or grind teeth' during sleep showed an odds ratio for TMD that was 8.9 times higher than that in the group without this behavior. The group that would 'hold, tighten, or tense muscles without clenching' while awake showed an odds ratio for TMD that was 21.3 times higher than that in the group without this behavior. Conclusions: We confirmed that oral parafunctional behavior affects TMD. Therefore, we would like to continue studying the diagnosis and treatment of TMD by evaluating occlusion patterns and related OBC scores.

효율적인 테스트 데이터 압축 방법 (Efficient Test Data Compression Method)

  • 정준모
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국정보통신학회 2012년도 춘계학술대회
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    • pp.690-692
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    • 2012
  • 본 논문에서는 IP 코어(core)의 스캔 테스트(scan test)에 있어서 테스트 전력소모를 고려한 효율적인 테스트 데이터 압축방법을 제안한다. 스캔 슬라이스(Scan slice)의 선택적 부호화를 이용한 테스트 데이터 압축에 대한 연구는 많이 진행되어 왔으나 전력소모를 고려하진 않았다. 스캔 슬라이스의 don't care에 값을 할당할 때, 이웃한 슬라이스와 해밍거리가 최소화 되도록 값을 할당하여 스위칭 전력소모가 최소가 되도록 하였다. 테스트 회로에 적용하여 알고리즘을 검증하였다.

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성인의 악하부에 발생한 낭성 림프관종 (Cystic lymphangioma in the submandibular triangle in the adult)

  • 김은경;한원정;김상준
    • Imaging Science in Dentistry
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    • 제31권3호
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    • pp.175-179
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    • 2001
  • Cystic lymphangioma is an uncommon benign developmental tumor of the lymphatic system, seen rarely in adults. A 23-year-old man visited DKUDH complaining of the painless swelling in the right submandibular area. It was reported that swelling had increased since 5 months ago. Clinically, fltriangle uctuant and mobile mass was palpated at the right submandibular area. CT scan showed a large, well-defined, homogenous low density mass, measuring 5.0 × 2.5 × 4.0 cm. T1W MRI scan demonstrated a large, multiseptated homogenous low signal mass with septum and rim enhancement. Proton-density and T2W MRI scan showed mass of high signal intensity. MRI scan was able to delineate better the enhanced multi septation and extent of the lesion. Histopathologically, a lobulated cystic mass lined by a layer of flattened endothelium was observed.

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A New Scan Partition Scheme for Low-Power Embedded Systems

  • Kim, Hong-Sik;Kim, Cheong-Ghil;Kang, Sung-Ho
    • ETRI Journal
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    • 제30권3호
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    • pp.412-420
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    • 2008
  • A new scan partition architecture to reduce both the average and peak power dissipation during scan testing is proposed for low-power embedded systems. In scan-based testing, due to the extremely high switching activity during the scan shift operation, the power consumption increases considerably. In addition, the reduced correlation between consecutive test patterns may increase the power consumed during the capture cycle. In the proposed architecture, only a subset of scan cells is loaded with test stimulus and captured with test responses by freezing the remaining scan cells according to the spectrum of unspecified bits in the test cubes. To optimize the proposed process, a novel graph-based heuristic to partition the scan chain into several segments and a technique to increase the number of don't cares in the given test set have been developed. Experimental results on large ISCAS89 benchmark circuits show that the proposed technique, compared to the traditional full scan scheme, can reduce both the average switching activities and the average peak switching activities by 92.37% and 41.21%, respectively.

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