도심지 지하에 위치하며 고온, 고압조건에서 운영되는 열수송관은 파손 시 인적, 경제적으로 대규모 피해가 발생할 수 있다. 파손을 사전에 예측하기 위해 기존 파손이력과 설비이력을 분석하여 파손빈도와 상관관계를 가지는 독립변수를 도출하고, 각 변수를 활용한 단순회귀분석 변형모델이 현장에 적용되고 있다. 다만, 모델에 적용되는 독립변수간 상관관계가 클수록 변수간 독립성이 훼손되어 모델의 신뢰성이 낮아진다. 본 연구에서는 상호 연관성을 가지는 것으로 판단되는 관경, 매설깊이, 감시시스템 절연레벨, 감지선의 단선 또는 단락의 독립성을 검정하여 파손빈도 추정모델에 적용하기 위해 필요한 변수간 결합 및 범주 설정 방안을 도출하였다. 독립성 검정을 위해 연속형 변수인 관경과 매설깊이는 각각 3개의 범주, 감시시스템 절연레벨은 2개의 범주로 변환하였으며, 범주형 변수인 감시시스템 감지선 상태는 범주를 그대로 2개로 유지하였다. 독립성 검정 결과, 관경과 매설깊이간, 감시시스템 절연레벨과 감지선의 단선 또는 단락간 유의확률이 유의수준(α = 0.05)보다 작아 상호간 상관관계가 큰 것으로 나타났다. 따라서 관경과 매설깊이를 하나의 변수로 결합하고 사전에 설정한 범주를 고려하여 결합 변수의 범주는 9개로 설정하였다. 감시시스템 절연레벨과 감지선의 단선 또는 단락 역시 하나의 변수로 결합하였으며, 감지선 상태가 단선 또는 단락인 경우 절연레벨값을 신뢰할 수 없으므로 결합 변수의 범주는 3개로 설정하였다.
공항과 같은 산업 설비에 사용되는 분전반에서는 주 개폐기로 배선용 차단기가 사용이 되고 있으며, 분기 개폐기는 누전 차단기가 사용되어 인체 보호 및 누전 화재 보호 기능을 수행하고 있을 뿐만 아니라, 과전류 보호, 단락 보호 겸용 기능을 포함하여 사용되어 지고 있다. 특히 공항용 분전반의 경우 사용자의 급증과 함께 급속한 첨단화와 기기의 대용량화, 다양화, 전원용량의 증대 등으로 공항의 안정적인 전원 공급을 위하여 사고에 대한 보호 증대가 필요하게 되었고, 분기 누전 차단기의 다량 사용에 의한 2열 배열의 접속 방법 등으로 분전반을 제작하여 설치 면적에 대한 이슈가 부각되어 차단기의 슬림화가 주요한 문제로 자리 잡고 있다. 본 논문에서는 이를 위하여 아크 소호 기구부의 설계, 접점이 운동 방향 변경을 고려하여 기구부를 설계하고, 누전 검출 회로의 소형화 및 역 접속 시에도 안적적인 동작이 가능하도록 설계하였으며, 이를 검증하기 위하여 단락 시험을 실시함으로써 성능 검증을 하였고, 사고 전류에 대한 보호 기능의 강화와, 차단기의 슬림화, 역접속시에서 누전 동작이 가능한 차단기를 개발함으로써 급속히 커져가는 공항용 분전반에서 발생하는 공간 사용의 문제점을 해결하는데 도움을 주고자 한다.
In this paper, we propose the built-in current testing circuit for improving reliability As the integrated CMOS circuits in a chip are increased, the testability on design and fabrication should be considered to reduce the cost of testing and to guarantee the reliability In addition, the high degree of integration makes more failures which are different from conventional static failures and introduced by the short between transistor nodes and the bridging fault. The proposed built-in current testing method is useful for detecting not only these failures but also low current level failures and faster than conventional method. In normal mode, the detecting circuit is turned off to eliminate the degradation of CUT(Circuits Under Testing). The differential input stage in detecting circuit prevents the degradation of CUT in test mode. It is expected that this circuit improves the quality of semiconductor products, the reliability and the testability.
This experimental study describes the noise reduction and the feasibility of short current of a silencer for a high voltage COS(cut out switch) fuse of a transformer. When a high voltage COS fuse becomes a short circuit by the over current, the strong impulse noise over 150 dB(A) is generated. For the purpose of the reduction of impulse noise, in this study, the diffuser type and the reactive type silencers have been designed and tested, respectively. And also the electrical test on the short current is performed. From the experimental results, the well designed reactive type silencer has been shown to have the noise reduction of about 20 dB(A). It has been found that the feasibility of short current for the COS fuse is closely related to the porosity of the silencer.
The electric power subsystems (EPS) of most remote sensing satellites consist of a solar array as a source of energy, a storage battery, a power management and control (PMC) unit and a charge equalization unit (CEU) for the storage battery. The PMC and CEU use high frequency transformers in their power modules. This paper presents a design, implementation and testing results of a high frequency transformer for the EPS of satellite applications. Two approaches are used in the design process of the transformer based on the pre-determined transformer specifications. The transformer is designed based on an ETD 29 ferrite core. The implemented transformer consists of one center-tapped primary coil with eleven center-tapped secondary coils. The offline calculation results and measured values of R, L for transformer coils are convergence. A test circuit for measuring the transformer parameters like voltage, current and B-H hysteresis was implemented and applied. The test results confirm that the voltage waveforms of both primary and secondary coils were as desired. No overlapping occurred between the control signal and the transformer, which was not saturated during testing even during a short circuit test of the secondary channels. The dynamic B-H loop characteristics of the used transformer cores were measured. The sample test results are given in this paper.
회로의 설계기술, 공정기술의 발달로 회로의 복잡도가 증가하고 있으며 대용량 메모리의 수요도 급격하게 증가하고 있다. 이렇듯 메모리의 용량이 커질수록 테스트는 더더욱 어려워지고, 테스트에 소요되는 비용도 점차 증가하여 테스트가 칩 전체에서 차지하는 비중이 커지고 있다. 따라서 짧은 시간에 수율을 향상시킬 수 있는 효율적인 테스트 알고리즘에 대한 연구자 중요하게 여겨지고 있다. 본 논문에서는 단일 포트 메모리의 고장을 검출하는데 가장 보편적으르 사용되는 March C-알고리듬을 바탕으로 하여 이를 보완하고, 추가되는 테스트 길이 없이 단일 포트 메모리뿐만 아니라 이종 포트 메모리에서 발생할 수 있는 모든 종류의 고장이 고려되어 이종 포트 메모리에서도 적용 가능한 효과적인 테스트 알고리듬을 제안한다.
최근 전력전자기술 및 인버터 회로의 다양한 제어기법의 발달에 따라서 용접기 분야에서의 용접성능 향상에 관한 다양한 연구가 진행되고 있으며 특히{{{{ { CO}_{2 } }} 아크 용접기의 경우 용접성능을 좌우하는 스패터 발생을 최소화 하는 기법이 활발하게 연구되고 있다. 그러나 현재까지는 용접기의 출력전압을 정전압으로 제어하는 방식을 사용함에 따라 용접기의 금속이행과정을 임의로 제어하는 것이 불가능하였고, 특히 스패터가 다량으로 발생하는 저전류영역의 금속이행과정인 단락이행에서의 스패터 저감을 기대하기가 어려웠다. 따라서 본 논문에서는 마이크로프로세서를 이용한 인버터 출력전류의 파형제어기법을 사용하여 인버터 아크 용접기의 출력전류를 순시적으로 제어함에 의하여 스패터 저감, 단락주기의 안정화 및 순간단락현상 감소의 측면에서 용접성능을 개선위한 연구를 수행하였고 이상의 연구에 대한 결과를 제시하였고, 또한 인버터 아크 용접기의 AC/DC 전력변환장치로 SMR(Switched Mode Rectifier)를 사용하여 시스템을 단위역율로 운전하였으며 입력전류의 저차 고조파 억제효과를 얻을 수 있었다.
Recently a lots of problems have observed in high densified and high integrated electronic components. One of them is ion migration phenomena, which induce the electrical short of electrical circuit. Ion migration phenomena has been observed in the field of exposing the specific environment and using for a long time. Also as the RoHS restriction was started in July 1st, 2006, Pb-free solder was utilized in electronics assemblies. In this case, it is very important to compatible between components and printed circuit board(PCB), thus surface treatment materials of PCB was changed to Sn, Sn-3.0Ag-0.5Cu, Cu. Therefore these new application become to need to reevaluate the sensitivity about electrochemical ion migration. This study was evaluated the occurrence time of electrochemical ion migration using by water drop test. We utilized PCB(printed circuit board) having a comb pattern as follows 0.1, 0.318, 0.5, 1.0 mm pattern distance. Sn-3.0Ag-0.5Cu and Sn-37Pb were electroplated on the comb pattern. 6.5V and 15.0V were applied in the comb pattern and then we measured the electrical short time causing by occurring the ion migration. In these results, we evaluate the sensitivity and derived the prediction models of ion migration occurrence time depending on the pattern materials, applied voltage and pattern spacing of PCB conductor.
복합재 구조물의 저속충격탐지 방법 중의 하나는 고분자 압전센서를 이용하는 것이다. 본 논문에서는 저속충격을 받는 복합재 평판에 대한 충격력과 부착된 스트레인 게이지, 고분자 압전센서 신호와의 관계를 유도하였다. 압전센서의 등가회로도를 통해서 고분자 압전센서의 개회로 신호와 폐회로 신호와의 관계를 유도하여 전하증폭기를 사용하지 않은 고분자 압전센서 신호를 이용하여 복합재 평판의 충격력 복원 가능성에 대한 연구로 확장하였다. 진동실험을 통하여 얻은 복합재 평판의 고유진동수와 감쇠비를 이용하여 해석적인 모델을 수정하여 정방향 문제와 역방향 문제에 있어서 오차를 줄일 수 있었다. 복원된 충격력과 해석적인 센서 신호는 실제 저속 충격 실험을 통하여 측정한 충격력, 스트레인 게이지 신호, 그리고 고분자 압전센서 신호와 잘 일치하였다.
단락시험시 시험회로의 주요 파라미터들은 시험전압과 시험전류를 이용하여 결정된다. 특히, 단락전류의 경우 전류파형의 피크치, RMS, 시간, DC-성분, 역률 등을 분석프로그램을 이용하여 분석하게 된다. 그러나 이러한 분석프로그램은 각 시험기관마다 다르고, 현재까지 분석프로그램을 검증할 국제저인 기준이 존재하지 않았다. 그러나 최근 들어 STL(Short-circuit Testing Liason)에서는 각 시험기관마다 상이한 분석프로그램을 검증할 절차에 대한 연구를 수행하여 왔으며 그 첫 번째로 단락전류 분석프로그램에 대한 성능 평가 절차가 어느 정도 완성되었다. 이에 본 논문에서는 STL에서 배포한 TDG(Test Data Generator)를 이용해reference curve를 생성하고, 전기연구원의 전류분석프로그램을 사용하여 분석프로그램의 신뢰성을 평가하여 보았다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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