• 대한전자공학회논문지SD
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• 제48권10호
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• pp.25-32
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• 2011

MLC NAND flash memory에서 cell간의 기생 커패시턴스 커플링으로 인해 발생하는 CCI에 의한 data error를 개선하기 위한 알고리듬을 제안하였다. 종래의 victim cell 주변 8-cell model보다 에러보정 알고리듬에 적용이 용이한 3-cell model을 제시하였다. 3-cell CCI model의 성능을 입증하기 위해 30nm와 20nm급 공정의 MLC NAND flash memory의 data분포를 분석하여, 주변 cell의 data pattern에 의한 victim cell의 Vth shift관계를 확인하였다. 측정된 Vth분포 data에 MatLab을 이용하여 제안된 알고리듬을 적용하는 경우 BER이 LSB에서는 28.9%, MSB에는 19.8%가 개선되었다.

• 한국항만경제학회지
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• 제26권1호
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• pp.144-171
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• 2010

본 연구에서는 항만의 경쟁력 확보와 컨테이너 터미널의 특성에 맞는 효율적인 교대근무제를 분석하고 그 문제점을 개선할 수 있는 방안에 대하여 검토하였다. 교대근무제의 개념과 유형 그리고 종업원에 영향을 미치는 교대제의 영향에 대하여 살펴보았고, 컨테이너 터미널에 도입되고 있는 교대근무제 형태의 유형과 일반기업에 비해 터미널운영사만이 가지는 교대근무제의 특성에 대해 살펴보았다. 그리고 실제 부산항에서 사용되고 있는 교대근무제 형태를 살펴보고, 부산항 컨테이너 터미널의 교대근무 형태와 생산성의 연관성을 분석하고, 현재의 부산항 각 터미널의 교대근무제 문제점과 그 개선방안을 제시하였다. 항만의 특성상 고려해야 할 변수가 너무 많고, 처리물량, 선석 수, 종업원 수 등의 변수와 교대근무제의 연관성은 많지 않은 것으로 나타났다. 다만 부산항의 각 터미널은 자가 터미널의 특성을 고려하여 최적의 교대근무제를 채택하고 있으며 많은 환경의 변화에 신속하게 대응하는 탄력적인 근무 제도를 추구하기 위한 노력을 계속하고 있다. 현재 컨테이너 터미널들은 교대근무제에서 최대 서비스 제공 수준의 인력을 근무교대조로 편성하여 운영하고 있지만, 모든 선석에 서비스를 동시에 제공하는 비율이 10% 미만으로 과다한 인력을 보유하고 있으며, 입출항 선박의 스케쥴이 변동으로 대기시간이 불규칙하여 근무시간에 적정 노동을 제공하지 못하고 인력을 효율적으로 활용하지 못하는 문제가 발생한다. 또한 교대근무에 투입되는 종업원의 만성피로 무기력증 등의 안전사고 유발요인이 발생하는 문제점이 발생하고 있다 이러한 문제점을 해소하기 위해서는 터미널 인력의 연장근무 및 초과근무시간을 활용하여 인력을 탄력적으로 활용하여 유휴인력을 감소하고, 터미널간 인력 교류를 활성화하여 인력을 효율적으로 사용하며, 아웃소싱 인력을 활용하여 인건비를 줄이면서 터미널 이용자의 서비스요구에 적절히 대응하여야 할 것이다. 또한 체력단련실 제공, 서클활동 지원, 가족참여 이벤트 활성화 등과 같은 교대근무제의 개선이 필요하다.

• International Journal of Advanced Culture Technology
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• 제8권4호
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• pp.161-166
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• 2020

The primary aim of this paper is to analyze the resultative adjunct clause, i.e., (thus/thereby/hence) ~ing participle and provide explicit syntactic, semantic and sociolinguistic explanation on the question what causes the cause-focused causal construction with resultative (thus/thereby/hence) ~ing participle in English. What comes first is either cause or effect clause. This study explores the recent style shift of causal constructions from the effect-focused pattern to the cause-focused pattern. In this study, we argue that the increasing number of the cause-focused main clause with a resultative ~ing participle clause shows the process of the style evolution improving speech/wring style in many respects including syntactic simplification, clarification of the sentence meaning with impact on the focused clauses, and improvement of the flow of speech/writing. The style shift found in the English resultative adjunct clauses, i.e., (thus/hence/thereby) ~ing participle constructions prove to be the style evolution from syntactic, semantic and sociolinguistic point of views.

• 한국조명전기설비학회:학술대회논문집
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• 한국조명전기설비학회 2005년도 춘계학술대회논문집
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• pp.143-145
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• 2005

We present the method to obtain four speckle patterns with relative phase shift of ${\pi}/2$ passive devices such as wave plate and polarizer, and calculate the phase at each point of the speckle pattern in shearographic system using Wollaston pin And, we analyzed the phase error caused by wave plates used in the proposed method by Jones matrix.

• 전자공학회논문지B
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• 제29B권9호
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• pp.1-7
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• 1992

This paper proposes a built-in self-test tchnique for CMOS circuits. To detect a stuck-open fault in CMOS circuits, two consequent test patterns is required. The ordered pairs of test patterns for stuck-open faults are generated by feedback shift registers of extended length. A nonlinear feedback shift register is designed by the merging method and reordering algorithms of test patterns proposed in this paper. And a new multifunctional BILBO (Built-In Logic Block Observer) is designed to perform both test pattern generation and signature analysis efficiently.

• 한국생산제조학회지
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• 제21권1호
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• pp.58-64
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• 2012

Instead of the surface pattern arranged repeatedly in two axial direction on a plane, we propose double patterns superposing two one-axial linear patterns as a reference target for surface encoding. A upper layer of the superposed pattern is the transparent glass with grooves cut in it at a fixed pitch. The position is sensed by detecting a shift of beam due to difference of a refractive index. And a lower layer is the aluminum with color-coated grooves. The amount of beam reflected on the layer varies according to its targeting position and is detected for encoding. For the above reference pattern, we can detect two-axial positions using only the single beam. Furthermore, the pattern size can be expanded with a size of the detector kept constant, meaning that the measured range can be expanded easily. In this paper, we review the existing optical encoding methods for grid pattern, and discuss the hardware implementation of the suggested surface encoding method.

• 전자공학회논문지
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• 제51권6호
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• pp.110-116
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• 2014

패턴 매칭 알고리즘은 컴퓨터 네트워크, 유비쿼터스 네트워크, 그리고 센서 네트워크 등을 위한 보안 프로그램에 주로 사용 된다. IT 기술의 발전과 함께 정보의 디지털화가 가속화되면서 네트워크를 통해 전달되는 데이터양이 급증하고 있다. 이에 따라 패턴 매칭 연산의 복잡도도 폭발적으로 증가하고 있다. 따라서 더 많은 패턴을 보다 빠르게 검색할 수 있는 고성능 알고리즘의 개발이 끊임없이 요구되고 있다. 본 논문은 서픽스 트리 기반 패턴 매칭 알고리즘을 새롭게 제안하여 대용량 패턴 매칭 연산의 성능을 높였다. 서픽스 트리는 사전에 정의된 복수 패턴들의 서픽스를 기반으로 생성된다. 이 트리에 쉬프트 노드 개념을 추가하여 기존 패턴 매칭 연산들 중 불필요한 연산의 수행 횟수를 줄였다. 결과적으로 제안하는 구조를 통해 기존 알고리즘 대비 24% 이상의 성능 향상을 이루었다.

• 한국공작기계학회:학술대회논문집
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• 한국공작기계학회 1998년도 춘계학술대회 논문집
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• pp.239-244
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• 1998

ESP(Electronic Speckle Pattern Interferometry) is an optical technique to measure deforamtion of engineering components and materials in industrial areas. ESPI, a non-contact and non-destructive measuring method, is capable of providing full-field results with high spatial resolution and high speed. One of important application aspects using electronic speckle pattern interferometry is to generate contours of a diffuse object in order to provide data for 3-D shape analysis and topography measurement. The electronic speckle contouring is suitable for providing measurement range from millimeters to several centimeters. In this study, we introduce the contouring method by modified dual-beam speckle pattern interferometer and a shift of the two illumination beams through optical fiber in order to obtain the contour fringe patterns. Before the experiments, we performed the geometric analysis for dual-beam-shifted ESPI contouring. And by this geometric analysis, we performed the electronic speckle contouring experiment. We used 4-frame phase shifting method with PZT for quantitative analysis of contour fringes. Finally, we showed good agreements between the geometric analysis and experimental results.

• Smart Structures and Systems
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• 제17권6호
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• pp.935-956
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• 2016

With the help of advanced image acquisition and processing technology, the vision-based measurement methods have been broadly applied to implement the structural monitoring and condition identification of civil engineering structures. Many noncontact approaches enabled by different digital image processing algorithms are developed to overcome the problems in conventional structural dynamic displacement measurement. This paper presents three kinds of image processing algorithms for structural dynamic displacement measurement, i.e., the grayscale pattern matching (GPM) algorithm, the color pattern matching (CPM) algorithm, and the mean shift tracking (MST) algorithm. A vision-based system programmed with the three image processing algorithms is developed for multi-point structural dynamic displacement measurement. The dynamic displacement time histories of multiple vision points are simultaneously measured by the vision-based system and the magnetostrictive displacement sensor (MDS) during the laboratory shaking table tests of a three-story steel frame model. The comparative analysis results indicate that the developed vision-based system exhibits excellent performance in structural dynamic displacement measurement by use of the three different image processing algorithms. The field application experiments are also carried out on an arch bridge for the measurement of displacement influence lines during the loading tests to validate the effectiveness of the vision-based system.

• Current Optics and Photonics
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• 제1권5호
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• pp.505-513
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• 2017

Measuring the thickness of thin films is strongly required in the display industry. In recent years, as the size of a pattern has become smaller, the substrate has become larger. Consequently, measuring the thickness of the thin film over a wide area with low spatial sampling size has become a key technique of manufacturing-yield management. Interferometry is a well-known metrology technique that offers low spatial sampling size and the ability to measure a wide area; however, there are some limitations in measuring the thickness of the thin film. This paper proposes a method to calculate the thickness of the thin film in the following two steps: first, pre-estimation of the thickness with the phase at the peak position of the interferogram at the bottom surface of the thin film, using white-light phase-shift interferometry; second, accurate correction of the measurement by fitting the interferogram with the theoretical pattern through the estimated thickness. Feasibility and accuracy of the method has been verified by comparing measured values of photoresist pattern samples, manufactured with the halftone display process, to those measured by AFM. As a result, an area of $880{\times}640$ pixels could be measured in 3 seconds, with a measurement error of less than 12%.