우주환경에서 운용되는 위성은 상호 유기적으로 연결된 다양한 전자장비에서 방출하는 전도성/복사성 에너지 결합에 의해 다양한 잡음 신호를 발생하게 되는데, 이러한 잡음은 탑재체를 포함한 위성 시스템과 발사체의 전자기적인 영향에 의하여 주요 기능에 중대한 결함을 유발시킬 수 있다. 이에 위성 시스템은 개발 단계에서부터 전자파환경에 대한 영향을 최소화하기 위한 시스템 설계 검증이 요구된다. 위성 시스템에서 검증하여야 하는 전자파 환경 요소는 위성으로부터 방출되는 전도성/복사성 잡음과 이러한 잡음 환경에서 위성의 정상운용을 검증하는 감응성 잡음이 있다. 통신해양기상위성 시스템의 전자파 호환성 설계 검증은 PSR의 출력을 각 유닛에 분배하는 과정에서 전원선에서 방출하는 전도성 방출특성을 측정하여 시스템에서 통제하는 전자파 규격에 적합한지를 검증하고, 이러한 방출 레벨로부터 6 dB 시스템 안전성마진을 고려한 레벨의 전도성 잡음을 전원선에 인가하여 시스템의 성능을 검증하는 것이다. 아울러, 각 유닛의 전자파 복사 특성을 종합하여 시스템 수준의 복사성 잡음 수준을 예측하고 발사체 요구 규격과의 적합성을 분석하는 것이다. 본 논문에서는 통신해양기상위성의 전자파 환경시험 결과를 토대로 시스템 수준의 전자파 호환 특성 및 발사체와의 적합성 분석 결과를 제시하였으며, 잡음요소 분석 결과는 FM EMC 시험에 반영될 것이다.
Reverberation chamber have become a common tool in radiated susceptibility and emission testing of electronic equipment. In a reverberation chamber, internal electromagnetic fields are mixed by metallic stirrer. Due to elimination of Polarization characteristic in reverberation chamber, electromagnetic wave reached to EUT all aspect angle. Hence, Field distribution in overmode reverberation chamber can be presented by chi-square distribution. Field uniformity in reverberation chamber have to satisfy standard deviation below 3dB and is influenced by mechanical stirrer. This paper investigates relationship between change of stirrer parameter and field uniformity in reverberation chamber.
We investigated the damage effects of microcontroller devices under high power electromagnetic(HPEM) wave. HPEM wave was radiated from the open-ended standard rectangular waveguide(WR-340) to free space. The influence of different reset-, clock-, data-, and power supply-line lengths has been tested. The susceptibility of the tested microcontroller devices was in general much influenced by clock-, reset-, and power supply-line length, little influenced by data-line length. Further the line length was increased, the malfunction threshold was decreased as expected, because more energy couples to the devices. The surfaces of the destroyed microcontroller devices were removed and the chip conditions were investigated with microscope. The microscopic analysis of the damaged devices showed component and bondwire destructions such as breakthroughs and melting due to thermal effects.
Journal of Electrical Engineering and information Science
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제2권5호
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pp.60-64
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1997
The design process and construction method of a strip line is described for measuring radiated susceptibility of vehicular components having electrical cables more than 2 min length. he characteristic impedance of the trip line was determined 90$\Omega$ to obtain the field uniformity of $\leq$${\pm}$3 dB in the frequency range from 100 kHz to 500 MHz. Tapered coaxial lines were used instead of the traditional lumped circuit element for the impedence matching units, therefore, the strip line has high power capability. Using these techniques, the field uniformity and power capability of a strip line could be considerably improved.
The Electromagnetic Interference(EMI) generating from corona discharge of transformer area can interference the digital Instrument and Control(I&C) systems located nearby transformers. When the potential gradient of the electric field around the conductor is high enough to form a conductive region but not high enough to cause electrical breakdown to nearby objects, the EMI of corona discharge emits with the conducted and radiated noise and it interferences the signals of the I&C systems. Since digital I&C systems have an efficiency and competitive price, the analog I&C systems have been upgraded and displaced with the digital I&C systems but which have less EMI Immunity. There was no assessment to I&C systems by EMI generating corona discharge nearby transformers. When the safety-related I&C systems are installed in plants, the verification of equipment EMI should be done not in site-specific test but in test facilities. There are the need to do the site-specific EMI evaluation of corona discharge nearby transformers. This paper assesses the margin between plant emission limits and the highest composite plant emission of corona. When the non safety-related I&C systems are placed in transformer area, it suggests the appropriate radiated susceptibility level to EMI of corona discharge.
소형 위성 발사체 나로호의 전자파 적합성 성능은 탑재 위성과 우주센터에 설치되는 지상 장비, 그리고 다른 무선통신망 사이에서 정상적인 동작을 보장하도록 확보되고 검증되어야 한다. 전자파 적합성 성능을 검증하기 위해서는 서브 시스템과 시스템에 대한 적절한 시험 규격과 방법, 그리고 절차가 발사체의 운용 특성과 전자기 환경을 고려하여 수립되어야 한다. 그리고 프로그램 종료단계까지 결정된 규격에 따라 지속적으로 전자파 적합성 특성을 유지 관리하는 것이 요구된다. 본 논문에서는 나로호의 발사체 개발 전 주기 동안 수행된 순차적인 관리 업무를 기술하고, 나로호와 각 서브 시스템의 각 모델에 대한 단계별 시험계획뿐만 아니라, 시험 방법, 규격, 검증시험 결과 등이 제시된다. 또한, 멀티팩션 분석에 대한 결과를 기술한다.
추적 레이다 시스템은 지상, 함정, 항공기 등에 탑재되어 운용되며 주변의 전자장치들과의 전자기파 간섭에 대한 내성 설계가 필요하다. 특히 함정에 설치되는 추적레이다 및 항공기에 탑재되는 추적레이다의 경우 주변 여러 창치들과 전원 라인과 통신 라인으로 전기적 연결이 되어 있다. 이러한 경우 추적레이다와 연결된 케이블에 의한 전자기파 간섭에 의한 다른 장비들의 오동작을 방지하기 위하여 케이블 연결에 대한 방사규격과 내성규격을 만족해야 한다. 또한 추적레이다에서 생성되어 방사되는 전자기파 잡음이 주변장치에 영향을 주지 않도록 방사 규격 또한 만족해야 하여 주변 장치에서 방사되어 입력되는 전자기파에 대한 내성 규격을 만족 해야 한다. 본 논문에서는 CE, CS, RE, RS를 포함하는 MIL-STD-461G를 만족하기 위한 설계를 제시하고 시험을 통하여 설계 만족에 대하여 설명한다.
본 논문에서는 전자파 장해 및 복사내성 측정의 대용 시험시설로서 활용될 수 있는 전자파 잔향실의 전자기장 특성에 관하여 연구되었다. 전자파 잔향실 내부에서의 필드 균일성을 확보하기 위하여, Shroeder 방식의 Quadratic Residue 확산기(diffuser)를 설계한 후, 확산기의 방향에 따른 3가지 배열 형태로 잔향실 내부에 적용하여, 필두 분포를 해석하였다. FDTD(Finite-Difference Time-Domin) 수치해석 방식을 이용하여 잔향실 내부의 필드 특성을 연구한 결과 확산기를 부착한 3가지 형태 모두 최대 변화범위 $\pm$3 dB 이내의 필드 균일도를 나타내었으며, type 3, 대칭형 구조의 확산기 형태가 효율이 가장 우수하다는 결과를 나타내었다.
지구관측을 위한 영상레이더 위성시스템은 고전력의 고주파 신호를 방출하는 영상레이더를 비롯하여, 획득한 영상 이미지 전송을 위한 데이터 링크 시스템, 위성 운용을 위해 지상과 통신하기 위한 원격측정명령계 시스템 등의 다양한 주파수를 가지는 RF 시스템을 탑재한다. 각각의 시스템은 다양한 주파수 성분을 가진 RF 신호를 송출할 뿐만 아니라 매우 높은 RF 전력을 복사하므로 위성체에 장착된 전기전자부품에서의 복사 내성 규격을 초과할 수 있다. 또한, RF를 송수신하는 여러 서브 시스템간 간섭 문제가 발생할 수 있다. 따라서, 영상레이더 위성과 동일한 형상을 가진 시스템 구조모델을 제작하고 위성에 탑재되는 RF시스템과 유사한 전기적인 특성을 가지는 안테나를 제작 및 설치하여 위성 운용시 발생할 수 있는 RF 간섭에 의한 영향을 분석 및 검증하였다.
We investigated the malfunction and destruction characteristics of microcontroller devices under high power electromagnetic(HPEM) wave by magnetron. HPEM was rated at a microwave output of 0 to 1,000 W, at a frequency of 2,450${\pm}$50 MHz and was radiated from the open-ended standard rectangular waveguide(WR-340) to free space. The influence of different reset-, clock-, data-, and power supply-line lengths has been tested. The variation of the line length was done with flat cables. The susceptibility of the tested microcontroller devices was in general much influenced by clock-, reset-, and power supply-line length, little influenced by data-line length. Further the line length was increased, the malfunction threshold was decreased as expected, because more energy couples to the devices. The surfaces of the destroyed microcontroller devices were removed and the chip conditions were investigated with microscope. The microscopic analysis of the damaged devices showed component and bondwire destructions such as breakthroughs and melting due to thermal effects. The obtained results are expected to provide fundamental data for interpreting the combined mechanism of microcontroller devices in an intentional microwave environment.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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