• 제목/요약/키워드: RF induction heating

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Improvement of Heating Pattern in RF Hyperthermia -Simultaneous Application of Dielectric Heating and Induction Heating-

  • Sakakibara, Norifumi;Ochiai, Makoto;Hayakawa, Yoshinori
    • 한국의학물리학회:학술대회논문집
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    • 한국의학물리학회 2002년도 Proceedings
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    • pp.478-480
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    • 2002
  • Heating by RF wave is divided into dielectric heating and induction heating. Dielectric heating and induction heating from outside the body have the compensatory heating pattern. While surface fat layer is heated by dielectric heating, it is not heated by induction heating. While the peripheral part at the middle of the electrodes is not heated by dielectric heating, it is heated by induction heating. By the simultaneous application both modalities, heating pattern seems to be more uniform and improved. Computer simulation of Finite Element Method (FEM) using ANSYS was conducted to dielectric heating with the results of above-mentioned feature. Theoretical considerations by the uniform RF magnetic field in a cylinder and textbooks support the feature of the above-mentioned heating pattern of induction heating. Further computer simulation of FEM using ANSYS will be conducted to simultaneous application of dielectric heating and induction heating to verify and will be reported.

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스컬법에 의한 루틸 단결정 성장에 관한 연구 (A study on the growth of rutile single crystal by skull melting method)

  • 석정원;최종건
    • 한국결정성장학회지
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    • 제14권6호
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    • pp.262-266
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    • 2004
  • 초기 RF유도가열을 위해 Ti 금속링을 사용하여 스컬법에 의해 루릴 단결정을 성장시켰다. 성장시킨 단결정은 ${\varnothing}55.5{\times}1.0mm$의 wafer로 가공하였으며,$1300^{\circ}C$에서 15시간까지 대기중에서 열처리 하여 $\lambda=200~25000nm$의 범위에서 투광도를 비교하였다.

고주파 유도 가열에 의한 Si의 열적질화 (Thermal Nitridation of Si by RF Induction Heating)

  • 이용현;왕진석
    • 대한전자공학회논문지
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    • 제27권9호
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    • pp.1386-1392
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    • 1990
  • Characteristics of the direct thermal nitrided films by RF induction heating has been studied. The nitrided films on Si were prepared at 1000-1200\ulcorner in ammonia gas ambient. The nitrided films were analyzed by ellipsometry an Auger electron spectroscopy. I-V and C-V characteristics of MIS capacitors fabricated using nitrided film were investicated. The nitrided films were grown up mostly within initial thirty minutes and no significant growth was observed thereafter. Etch rates of films were about 1\ulcornermin in diluted HF (HF:H2O= 1:50). The nitrided films were resistant to dry and wet oxidations at temperatures below 1000\ulcorner and 900\ulcorner, respectively.

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스컬용융법에 의한 루틸 단결정 성장메커니즘과 RE generator 조건에 관한 연구 (A study on the growth mechanism of rutile single crystal by skull melting method and conditions of RF generator)

  • 석정원;최종건
    • 한국결정성장학회지
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    • 제15권5호
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    • pp.175-181
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    • 2005
  • 스컬용융법에 의해 루틸 단결정들을 성장시켰으며, 서로 다른 융액의 유지시간에 따른 ingot의 특성을 비교하였다. 스컬용융법은 교류전자기장(RF)에 의해 전기가 흐르는 융액의 직접유도가열에 근거하며, 가열은 RF 에너지의 흡수로 실행된다. $TiO_2$는 상온에서는 부도체이지만 온도가 올라갈수록 전기 전도성이 증가한다. 따라서, 초기 RF 유도가열을 위해 티타늄 금속 링(외경 : 6cm, 내경 : 4cm, 두께 : 0.2cm)을 $TiO_2$ 분말(아나타제상, CERAC, 3N)내부에 묻었다. 스컬용융법에 의한 산화물 용융에서 매우 중요한 것은 융점에서의 전기 저항 값, RF generator의 주파수 그리고 냉각도가니 크기이다. 본 연구에서는, $TiO_2$의 융점에서의 전기저항$(10^{-2}\~10^{-1}\;{\Omega}{\cdot}m)$은 알루미나$(10^{-1}\;{\Omega}{\cdot}m)$의 지르코니아$(10^{-3}\;{\Omega}{\cdot}m)$의 전기저항 데이터를 바탕으로 추정하였다. 냉각도가니의 내부직경은 11cm, 높이는 14cm였으며, 이것은 침투깊이$(0.36\~1.13cm)$와 RF generator 주파수를 고려하여 결정하였다

저항가열 방식을 적용한 승화법에 의한 SiC 결정 성장에 대한 연구 (A study on SiC crystal growth by sublimation process using resistance heating method)

  • 강승민
    • 한국결정성장학회지
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    • 제25권3호
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    • pp.85-92
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    • 2015
  • SiC 결정은 전력반도체 소자용 소재로서 지금까지 외국은 물론 국내에서도 많은 연구가 이루어지고 있으며, 지금까지 고주파 유도가열 방식을 이용한 승화법으로 성장되어 왔다. 그러나, SiC 단결정은 결정 성장 계면에서의 온도 안정성에 따라 쉽게 다른 다형으로 성장하기 때문에, 고품질의 결정을 얻기 위해서는 결정성장 계면에서의 안정적인 온도 구배가 필요하다. 본 논문에서는 저항가열 방식을 이용한 승화법 성장 장치를 이용하여 종자결정을 사용하지 않은 상태에서 SIC 다결정상을 성장하여 보고, 성장 양상에 대하여 고찰하고자 하였다. SiC 다결정상은 성장속도 0.02~0.5 mm/hr로 성장되었으며, 성장된 SiC 다결정상의 두께는 0.25 mm~0.5 mm이고, 이 때 도가니 하부의 온도는 $2100{\sim}2300^{\circ}C$, 성장 압력은 10~760 torr의 범위에서 조절되었다. 성장된 다결정상 결정은 광학현미경으로 관찰하여, 성장 거동을 고찰하였다.

열처리에 따른 AlN 단결정의 결정성에 관한 연구 (A study on the crystallinity of AlN single crystals by heat treatment)

  • 강승민
    • 한국결정성장학회지
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    • 제27권3호
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    • pp.105-109
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    • 2017
  • 고주파 유도 가열 장치를 이용하여 승화법으로 성장된 AlN 단결정을 질소 분위기 하에서 $1200^{\circ}C$$1500^{\circ}C$에서 열처리하였다. 열처리 후 단결정 시편들의 표면을 광학현미경으로 관찰하였으며, DCXRD(Double crystal X-ray Diffractometry)를 이용하여 FWHM(Full width of half maximum) 값을 측정하여 결정성의 변화를 평가하였다.

PVT 법으로 성장된 AlN 단결정의 열처리 공정에 대한 연구 (A study on the heat treatment process for AlN single crystals grown by PVT method)

  • 강승민
    • 한국결정성장학회지
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    • 제27권2호
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    • pp.65-69
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    • 2017
  • AlN 단결정을 $1600{\sim}1800^{\circ}C$의 온도에서 100 torr 이하의 진공하에서 $100^{\circ}C$ 간격으로 열처리하였다. AlN 단결정은 고주파유도가열 방식으로 가열되는 성장부를 갖는 성장장치를 사용하여 PVT법으로 얻어내었다. 단결정 시편들의 표면을 광학현미경으로 관찰하였으며, 성장된 압력 하에서 온도에 따라 형상이 달라짐을 알 수 있었다. 본 연구에서는 광학현미경 관찰 결과를 보고하고자 하며, 열처리 온도가 증가함에 따라 표면의 열에칭이 나타났는데, 이는 작은 에치핏의 형성을 통하여 관찰하였다.