Optical emission spectroscopy is used to identify chemical species and monitor the changes of process results during the plasma process. However, plasma process monitoring or fault detection by using emission signal variation monitoring is vulnerable to background signal fluctuations. IR heaters are used in semiconductor manufacturing chambers where high temperature uniformity and fast response are required. During the process, the IR lamp output fluctuates to maintain a stable process temperature. This IR signal fluctuation reacts as a background signal fluctuation to the spectrometer. In this research, we evaluate the effect of infrared background signal fluctuation on plasma process monitoring and improve the plasma process monitoring accuracy by using simple infrared background signal subtraction method. The effect of infrared background signal fluctuation on plasma process monitoring was evaluated on $SiO_2$ PECVD process. Comparing the $SiO_2$ film thickness and the measured emission line intensity from the by-product molecules, the effect of infrared background signal on plasma process monitoring and the necessity of background signal subtraction method were confirmed.
This study is measurement of radicals in gas & light oil diffusion flame focused on burner exit. The goal of this study is to analyse the relationship between flame chemiluminescence($OH^{\ast}$, $CH^{\ast}$, $C_2^{\ast}$) intensities and flame conditions. The investigation performed turbulent diffusion flame of commercial burner in varying the excess air ratio from 1.0 to 1.8. The optical emissions were measured by photomultiplier(PMT) using optical band pass filter and spectrometer system. The effects of excess air ratio and NOx emission characteristics on the radical emission intensities were investigated experimentally.
The present studying is aimed to establish the relationship between flame chemiluminescence$(OH^*,\;CH^*,\;C_2^*)$ intensities and combustion conditions such as $NO_x$ emission characteristics. Measurements are made for $OH^*,\;CH^*,\;C_2^*$ radicals in gas & light oil diffusion flames. At turbulent nonpremixed combustion mode, the equivalence ratio is varied. The optical emissions were measured by photomultiplier(PMT) using optical band pass filter and spectrometer system. The experimental results showed that the ratio of radicals and $NO_x$ emission characteristics have exponential correlations and equivalence ratio characteristics have linear correlations at this experimental conditions.
In this work, the application of laser induced breakdown spectroscopy (LIBS) for the composition analysis of thin $Cu(In,Ga)Se_2$ (CIGS) solar cell films ($1-2{\mu}m$ thickness) is reported. For the ablation of CIGS films, femtosecond (fs) laser (wavelength = 343nm, pulse width = 500fs) and nanosecond (ns) laser (wavelength = 266nm, pulse width = 5ns) were used under atmospheric environment. The emission spectra were detected with an intensified charge coupled device (ICCD) spectrometer and multichannel CCD spectrometer for fs-LIBS and ns-LIBS, respectively. The calibration curves for fs-LIBS and ns-LIBS intensity ratios of Ga/Cu, In/Cu, and Ga/In were generated with respect to the concentration ratios measured by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP-OES).
A mobile lab kart for plasma training is developed with a high vacuum pumping system, vacuum gauges and a glass discharge tube powered by a high voltage transformer connected to a household 60 Hz line. A numerical model is developed by using a commercial multiphysics software package, CFD-ACE+ to analyze the experimental data. Simulations for argon and nitrogen were carried out to provide fundamental discharge characteristics. Variations of the kart configuration were demonstrated: a glass tube with three electric probes, optical emission spectrometer attachment and infra red thermal imaging system to give more detailed analysis of the discharge characteristics.
Rewritable optical memory devices such as an CD-RW and DVD+RW are data storage media, which take advantage of the different optical properties in the amorphous and crystalline states of phase change materials. The switching property, structural transformation, transformation kinetics and chemical bindings of $Ge_xSb_{100-x}$($6{\le}x{\le}$34) were studied to investigate the feasibility of applying $Ge_xSb_{100-x}$ alloys in optical memory. The $Ge_xSb_{100-x}$ thin film was deposited by RF magnetron co-sputtering system and phase change characteristics were investigated by X-ray diffraction (XRD), static tester, inductively coupled plasma atomic emission spectrometer (ICP-AES) and atomic force microscopy (AEM). Optimum fiim composition of $Ge_xSb_{100-x}$ was studied and its minimum time fur laser induced crystallization and optical contrast fur phase transition was performed. These results might be correlated with the binding energies between Ge and Sb, and indicate that $Ge_xSb_{100-x}$ have an potential far optical memory applications.
화석연료를 대체할 새로운 청정 에너지원의 요구가 높아지고 있는 현 시점에서 고효율, 무공해, 무소음 등의 장점으로 인해 친환경적 에너지원으로 연료전지의 수요가 증가하고 있다. 연료전지 분리판으로 고밀도 흑연을 종래에 가공하여 제작하였는데, 가공이 어렵고, 비용이 크게 들며, 대량생산이 어렵다는 등의 문제로 스테인리스강을 위주로 한 금속 분리판 개발이 이루어지고 있다. 본 연구에서는, 낮은 가격, 고속 증착, 우수한 가공성, 높은 기계적 강도 및 전기전도도, 화학적 안정성 및 내식성을 충족시키기 위하여 스테인리스 강박(0.1 mm이하)에 보호막으로 CrN을 선택하였다. 저가격화를 위하여 새로운 증착원인 스퍼터-승화형 소스의 가능성을 유도 결합 플라즈마에 Cr 봉을 직류 바이어스 함으로써 시도하였다. 10 mTorr의 Ar 유도 결합 플라즈마를 2.4 MHz, 400 W로 유지하면서 직류 바이어스 전력을 120 W (615 V, 0.19 A) 인가하였을 때 10분 동안의 증발양이 0.35 gr으로 측정이 되어 그 가능성을 확인할 수 있었다. 또한 OES(Optical emission spectrometer)를 이용하여 RPS로 방전시킨 고밀도 ICP를 측정한 결과 842.4 nm, 811.4 nm, 772.3 nm 등의 파장에서 높은 intensity를 갖는 peak을 찾을 수 있었고, 이 peak 들은 Ar 중성의 peak임을 확인할 수 있었다. ICP+DC bias로 Cr rod를 가열하는 공정에서의 plasma를 OES로 측정한 결과 Ar 중성의 peak은 감소하고, 520.5 nm, 425.5 nm, 357.7 nm 등의 파장에서 높은 intensity를 갖는 peak을 찾을 수 있었으며, 이 peak들은 Cr 중성의 peak임을 확인할 수 있었다. OES 측정 data를 토대로 공정 중의 rod type Cr target의 교체 주기를 예측할 수 있고 공정 중 실시간 감시가 가능할 것으로 기대된다.
Novel Enhanced Inductively Coupled Plasma is applied to etch $SiO_2$. Effect of $O_2$ or Ar addition to $C_{4}F_{8}$ gas is monitored by Optical Emission Spectroscopy and Quadrupole Mass Spectrometer. It is fund that Ar or $O_2$ dilution to $C_{4}F_{8}$ increases F emission intensity and decreases $CF_2$ intensity. However, the ac frequency to the Helmholtz coil decreases the F intensity and thus increases $CF_2$/F ratio. By adjusting the ac frequency, the optimum etch rate and PR to $SiO_2$ selectivity can be obtained in E-lCP.
Symbiotic stars are known as binary systems with both cool and hot components with enshrounding nebulous gas. The cool component, M-type giant, is presumably loosing its mass into a hot white or main sequence companion star through the inner Lagrangian point. The lines emit from the ionized nebulous region around the hot star while the mass loss or accretion activity is believed to be the main cause of sudden variation of the continuum and line fluxes. We selected 17 symbiotics for which the emission line fluxes were measured from the IUE SWP, LWR data, to find variability of spectrum. We also investigated the periodic variation of emissions or eclipsing effect from the IUE lines. All of our symbiotics show very high electron densities in the emission regions. For other optical symbiotics, the observations had been carried in 1999 with BOAO mid-resolution spectrometer. We classified symbiotics based on their outburst activities, or emission line characteristics, i.e., $OVI{\lambda}6830.\;The\;OVI{\lambda}6830$ emission lines are also found in S-type symbiotics, which have been known as charateristics of D-types.
We prepared the Al doped ZnO (AZO) thin film on polyethersulfon (PES) without any substrate heating by Facing Targets Sputtering (FTS) system. FTS system has two different facing targets. One is ZnO doped the content of Al 2 wt% and the other is Zn in order to decrease resistivity. The electrical, structural and optical properties of AZO thin films were investigated. To evaluate the as-deposited thin film properties, we employed four-point probe (CMT-R100nw, Changmin), Surface profiler (Alpha-step, Tencor), UV/VIS spectrometer (HP), X-ray diffractometer (XRD, Rigaku) and Field Emission Scanning Electron Microscopy (FESEM, Hitachi S-4700). As a result, We obtained that AZO thin film deposited on PES substrate at a DC Power of 150 W, working pressure of 1 mTorr and $O_2$ gas flow ratio of 0.2 exhibited the resistivity of $4.2{\times}10^{-4}\;[{\Omega}cm]$ and the optical transmittance of about 85 % in the visible range.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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