• 산업기술연구
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• 제27권B호
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• pp.153-160
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• 2007

In this paper, the exact analysis of the parallel coupled line with open stub is presented. This structure shows LPF characteristics with broad stopband and sharp skirt characteristics. We derived the exact Z-matrix expression of the structure. In order to show the validation of the expression we designed $3^{th}$ order Chebyshev LPF using the structure. The simulated data excellently agreed with the predicted values by the calculation using the derived expression.

• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 1985년도 하계학술회의논문집
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• pp.26-28
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• 1985

The open delta circuit of the power transformer is still often applied, in spite of its reduced utilization of the power. In this paper, a new approach to the calculation of the power and its distribution in each transformer component is presented. For the power evaluation, the method of the complex power analysis is applied.

• 한국통신학회논문지
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• 제19권3호
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• pp.401-417
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• 1994

본 논문에서는 논리 모니터링 방식에 의해 stuck-at(s-at)고장, stuck-open(s-op)고장 및 stuck on(s-on) 고장을 검출하기 위한 Domino CMOS회로의 테스트용이화 셀계기법을 제안한다. Domino CMOS게이트내 nMOS트랜지스터들의 s-op고장과 s-on고장을 검출하기 위하여 한개의 pMOS 트랜지스터를 부가하고 단일 게이트 및 다단 Domino CMOS회로내 인버어터의 pMOS트랜지스터 s-on 고장을 검출하기 위해서 한개의 nMOS트랜지스터를 부가한가. 부가된 트랜지스터는 Domino CMOS를 테스트 모드에서 pseudo nMOS회로로 동작하도록 만든다. 따라서 일반 domino CMOS회로의 테스트 시 회로지연에 의한 오동작을 방지하는 선충전(precharge phase)과 논리결정(evaluation phase)의 이상(two-phase)동작을 필요로 하지 않아 테스트 시간과 테스트 생성의 복잡도를 줄일 수 있게 된다. 제안된 회로에서는 대부분의 고장들이 단일 테스트 패턴에 의해 검출되는데 이에따라 경로지연이나 타임스큐, 전하재분배 및 그리치 등에 의해 테스트가 무효화되는 것을 피할 수 있으며 테스트 패턴 생성을 위하여 기존의 자동 테스트패턴생성기(ATPG)를 이용할 수 있는 장점을 갖는다.

• 전자공학회논문지D
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• 제35D권9호
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• pp.26-34
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• 1998

본 논문은 주사전자현미경(SEM)의 전자총을 이용하여 MCM 또는 PCB 회로기판의 신호연결선에서 전압차를 유도시켜 개방/단락 등의 결함을 측정 검사하는 방법을 제시한다. 본 실험에서는 주사전자현미경의 구조를 변형시키지 알고 회로기판의 개방/단락 검사를 실시할 수 있는 이중전위전자빔(Dual Potential) 검사방법을 사용한다. 이중전위전자빔(Dual Potential) 측정검사 방법은 이차전자수율 값 δ의 차이를 유기시키는 δ < 1 인 충전 전자빔과 δ > 1 인 읽기 전자빔을 사용하여 한 개의 전자총이 각각 다른 가속전압에 의해 생성된 두 개의 전자빔으로 측정하는 방법으로 특정 회로네트에 대한 개방/단락 등의 측정 검사가 가능하다. 또한 읽기 전자빔을 이용할 경우 검사한 회로 네트를 방전시킬 수 있어 기판 도체에 유기된 전압차를 없앨 수 있는 방전시험도 실시할 수 있어, 많은 수의 회로네트를 지닌 회로 기판에 대해 측정 검사할 때 충전되어 있는 회로네트에 대한 측정오류를 줄일 수 있다. 측정검사를 실시한 결과 glass-epoxy 회로기판 위에 실장된 구리(Cu) 신호연결선은 7KeV의 충전 전자빔으로 충전시키고 10초 이내에 주사전자현미경을 읽기 모드로 바꾸어 2KeV의 읽기 전자빔으로 구리표면에서의 명암 밝기 차이를 읽어 개방/단락 상태를 검사할 수 있었다. 또한 IC 칩의 Au 패드와 BGA의 Au 도금된 Cu 회로패드를 검사한 결과도 7KeV 충전 전자빔과 2KeV 읽기 전자빔으로 IC칩 내부회로에서의 개방 단락 상태를 쉽게 검사할 수 있었다. 이 검사방법은 주사전자현미경에 있는 한 개의 전자총으로 비파괴적으로 회로 기판의 신호 연결선의 개방/단락 상태를 측정 검사할 수 있음을 보여 주었다.

• 전기학회논문지
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• 제63권9호
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• pp.1317-1320
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• 2014

In case of using three-phase induction motor in three-phase power system, if he deficiency happens in phase among three-phase, the motor will drive in an open phase state. As to the motor, the continuing operation is possible then, but the phenomenon that the power supply stops happening by the result of the overload electricity order on the healthy phase of two phases with a damage and activating the circuit breaker. Consequently, in order to overcome this problem in treatise accordingly. I propose an uninterruptible power supply which is able to prevent that the over current on the health phase through the restoration that in case happening open phase on the power line when driving the motor. Also, it is possible to supply power consecutively without interruption of electric power and we proved the performance and reliability through an experiment.

• ETRI Journal
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• 제23권2호
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• pp.77-84
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• 2001

The detection of open defects in CMOS SRAM has been a time consuming process. This paper proposes a new dynamic power supply current testing method to detect open defects in CMOS SRAM cells. By monitoring a dynamic current pulse during a transition write operation or a read operation, open defects can be detected. In order to measure the dynamic power supply current pulse, a current monitoring circuit with low hardware overhead is developed. Using the sensor, the new testing method does not require any additional test sequence. The results show that the new test method is very efficient compared with other testing methods. Therefore, the new testing method is very attractive.

• International Journal of Reliability and Applications
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• 제4권2호
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• pp.51-56
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• 2003

A k-out-of-n system with n identical and independent components is considered in which the components takes two types of function: 0 (open-circuit) or 1 (closed) on command (e.g. electromagnetic relays and solid state switches). Components are subject to two types of failure on command: failure to close or failure to open. In our k-out-of-n system, failure of (n-k)＋1 or more components to close causes to the close failure of the system, or failure of k or more components to open causes the open failure of the system. The long-run average cost rate is obtained. We find the optimal k minimizing the long run average cost rate for given n. A numerical example is presented.

• 대한전기학회논문지:전기기기및에너지변환시스템부문B
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• 제52권9호
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• pp.468-474
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• 2003

This paper describes the development of an open frame type high power density switching converter. It is based on the active clamp forward converter with synchronous rectifier, and packaged by using the open frame and multi-layer printed circuit board (PCB) technology to achieve the higher power density. Furthermore, the windings of transformer and inductor are also realized by multi-layer PCB so that it also contributes to achieve higher power density. Through the experiment on the prototype converter of 50[W], it is confirmed that power density of 50[W/i$n_3$] and maximum efficiency of over 91[%] are obtained.

• Journal of Power Electronics
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• 제10권6호
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• pp.702-708
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• 2010

In this paper, a fault diagnosis algorithm for brushless DC (BLDC) motor drives is proposed to maintain control performance under switch open-damage. The proposed fault diagnosis algorithm consists of a simple algorithm using measured phase current information and it detects open-circuit faults based on the operating characteristic of BLDC motors. The proposed algorithm quickly recovers control performance due to its short detection time and its reconfiguration of the system topology. It can be embedded into existing BLDC drive software as a subroutine without additional sensors. The feasibility of the proposed fault diagnosis algorithm is proven by simulation and experimental results.

• 전력전자학회:학술대회논문집
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• 전력전자학회 2019년도 전력전자학술대회
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• pp.540-542
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• 2019

This paper proposes an open-phase fault control system using 3-phase neutral voltage. The proposed control system is designed as a new topology which uses the potential difference between neutral point and ground of three phase. The open-phase detection system is also configured to Y-wiring of three capacitance devices of the same capacity to each line of three phase power source R-S-T. This paper also designs a mobile phone application for remote alarm of open-phase fault.