FIB 기술을 이용한 $SiC_f/SiC$ 복합체내 휘스커 혼합 기지상의 투과전자현미경 관찰
(FIB-assisted TEM observation of whisker-grown matrix in $SiC_f/SiC$ composite)
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- 한국전자현미경학회:학술대회논문집
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- 한국현미경학회 2005년도 제36차 추계학술대회 및 제4회 HVEM 이용자 워크샵
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- pp.170-174
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- 2005