• Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers
• /
• v.51 no.1
• /
• pp.79-89
• /
• 2014

It has been an increase in consumers who want a high-capacity and fast speed by the newly diffused mobile device(Smart phones, Ultra books, Tablet PC). As a result, the demand for Flash Memory is constantly increasing. Flash Memory is separated by a NAND-type and NOR-type. NAND-type Flash Memory speed is slow, but price is cheaper than the NOR-type Flash Memory. For this reason, NAND-type Flash Memory is widely used in the mobile market. So Fault Detection is very important for Flash Memory Test. In this paper, Proposed PMBIST for Pattern Test of NAND-type Flash Memory improved Fault detection.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
• /
• v.46 no.1
• /
• pp.7-14
• /
• 2009

Lately, NAND flash cards have been used to store massive amounts of multimedia data. However, these nand flash cells itself has a slow operation time and by that, the nand flash cards are not appropriate for high performance massive data transfer. Indeed, most flash card products have a disadvantage in that they require plenty of time to transfer massive amounts of data. Therefore, we propose a new architectural design for the hardware and software of the NAND flash cards by improving their data transfer rate. Our design is based on a multiprocessing which is different from the conventional serial processing method. We simulated our design under the VIP (Virtual IP) environment, and verified our work using FPGA test platforms. As a result, the downloading performances was approximately 160MB/s on VIP and 85.3MB/s on FPGA.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
• /
• 2014.02a
• /
• pp.236.2-236.2
• /
• 2014

세계 반도체 시장은 컴퓨터 기능이 더해진 모바일 기기의 수요가 증가함에 따라 메모리반도체의 시장규모가 최근 빠른 속도로 증가했다. 특히 모바일 기기에서 저장장치 역할을 하는 비휘발성 반도체인 NAND Flash Memory는 스마트폰 및 태블릿PC 등 휴대용 기기의 수요 증가, SSD (Solid State Drive)를 탑재한 PC의 수요 확대, 서버용 SSD시장의 활성화 등으로 연평균 18.9%의 성장을 보이고 있다. 이러한 경제적인 배경 속에서 NAND Flash 미세공정 기술의 마지막 단계로 여겨지는 1Xnm 공정이 개발되었다. 그러나 1Xnm Flash Memory의 생산은 새로운 제조설비 구축과 차세대 공정 기술의 적용으로 제조비용이 상승하는 단점이 있다. 이에 따라 제조공정기술을 미세화하지 않고 기존의 수평적 셀구조에서 수직적 셀구조로 설계 구조를 다양화하는 기술이 대두되고 있는데 이 중 Flash Memory의 대용량화와 수명 향상을 동시에 추구할 수 있는 3D NAND 기술이 주목을 받게 되면서 공정기술의 변화도 함께 대두되고 있다. 3D NAND 기술은 기존라인에서 전환하는데 드는 비용이 크지 않으며, 노광장비의 중요도가 축소되는 반면, 증착(Chemical Vapor Deposition) 및 식각공정(Etching)의 기술적 난이도와 스텝수가 증가한다. 이 중 V-NAND 3D 기술에서 사용하는 박막증착 공정의 경우 산화막과 질화막을 번갈아 증착하여 30layer 이상을 하나의 챔버 내에서 연속으로 증착한다. 다층막 증착 공정이 비정상적으로 진행되었을 경우, V-NAND Flash Memory를 제조하기 위한 후속공정에 영향을 미쳐 웨이퍼를 폐기해야 하는 손실을 초래할 수 있다. 본 연구에서는 V-NAND 다층막 증착공정 중에 다층막의 두께를 가상 계측하는 알고리즘을 개발하고자 하였다. 증착공정이 진행될수록 박막의 두께는 증가하여 커패시터 관점에서 변화가 생겨 RF 신호의 진폭과 위상의 변화가 생긴다는 점을 착안하여 증착 공정 중 PECVD 장비 RF matcher와 heater에서 RF 신호의 진폭과 위상을 실시간으로 측정하여 데이터를 수집하고, 박막의 두께와의 상관성을 분석하였다. 이 연구 결과를 토대로 V-NAND Flash memory 제조 품질향상 및 웨이퍼 손실 최소화를 실현하여 제조 시스템을 효율적으로 운영할 수 있는 효과를 기대할 수 있다.

• Journal of KIISE
• /
• v.44 no.11
• /
• pp.1130-1137
• /
• 2017

The multi-leveling technique that stores multiple bits in a single memory cell has significantly improved the density of NAND flash memory along with shrinking processes. However, because of the side effects of the multi-leveling technique, the average write performance of MLC NAND flash memory is degraded more than twice that of SLC NAND flash memory. In this paper, we introduce existing cross-layer optimization techniques proposed to improve the performance of MLC NAND flash-based storages, and propose a new integration technique that overcomes the limitations of existing techniques by exploiting their complementarity. By fully exploiting the performance asymmetry in MLC NAND flash devices at the flash translation layer, the proposed technique can handle many write requests with the performance of SLC NAND flash devices, thus significantly improving the performance of NAND flash-based storages. Experimental results show that the proposed technique improves performance 39% on average over individual techniques.

• Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers
• /
• v.50 no.6
• /
• pp.122-130
• /
• 2013

The demand and the supply are increasing sharply in accordance with the growth of the Memory Semiconductor Industry. The Flash Memory above all is being utilized substantially in the Industry of smart phone, the tablet PC and the System on Chip (SoC). The Flash Memory is divided into the NOR-type Flash Memory and the NAND-type Flash Memory. A lot of study such as the Built-In Self Test (BIST), the Built-In Self Repair (BISR) and the Built-In Redundancy Analysis (BIRA), etc. has been progressed in the NOR-type fash Memory, the study for the Built-In Self Test of the NAND-type Flash Memory has not been progressed. At present, the pattern test of the NAND-type Flash Memory is being carried out using the outside test equipment of high price. The NAND-type Flash Memory is being depended on the outside equipment as there is no Built-In Self Test since the erasure of block unit, the reading and writing of page unit are possible in the NAND-type Flash Memory. The Built-In Self Test equipped with 2 kinds of finite state machine based structure is proposed, so as to carry out the pattern test without the outside pattern test equipment from the NAND-type Flash Memory which carried out the test dependant on the outside pattern test equipment of high price.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
• /
• 2005.11a
• /
• pp.781-783
• /
• 2005

본 논문은 임베디드 시스템에서 대용량 저장시스템에 적합한 NAND 플래시 메모리 기반의 파일 시스템을 제안한다. 플래시 메모리는 비휘발성이며 기존의 하드디스크와 같은 자기 매체에 비해서 크기가 작고 전력소모도 적으며 내구성이 높은 장점을 지니고 있다. 그러나 제자리 덮어쓰기 (update-in-place)가 불가능하고 메모리 셀에 대한 초기화 횟수가 제한되는 단점이 있다. 또한 NAND 플래시 메모리는 바이트 단위의 입출력이 불가능하다. 이러한 특성 때문에 NAND 플래시 메모리를 저장장치로 사용할 경우 기존의 저장 장치 관리 방법과는 다른 방법을 요구한다. 본 논문은 임베디드 시스템에서 대용량 저장장치를 위한 NAND 플래시 메모리 기반의 파일 시스템의 구조를 제시하고, 대용량 파일 지원을 위한 메타 데이터 구조와 데이터 수정 기법을 제안한다.

• JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
• /
• v.14 no.5
• /
• pp.537-542
• /
• 2014

The three-dimensional (3-D) NAND flash structure with fully charge storage using edge fringing field effect is presented, and its programming characteristic is evaluated. We successfully confirmed that this structure using fringing field effect provides good program characteristics showing sufficient threshold voltage ($V_T$) margin by technology computer-aided design (TCAD) simulation. From the simulation results, we expect that program speed characteristics of proposed structure have competitive compared to other 3D NAND flash structure. Moreover, it is estimated that this structural feature using edge fringing field effect gives better design scalability compared to the conventional 3D NAND flash structures by scaling of the hole size for the vertical channel. As a result, the proposed structure is one of the candidates of Terabit 3D vertical NAND flash cell with lower bit cost and design scalability.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
• /
• 2008.06b
• /
• pp.366-370
• /
• 2008

NAND 플래시 메모리는 특성상 쓰기 횟수가 제한적이라는 단점을 가지고 있어 쓰기 연산이 빈번히 발생하게 되면 NAND 플래시 메모리의 수명이 줄어든다. 이러한 문제점을 해결하기 위해 NAND 플래시 메모리의 특성을 고려한 지연 쓰기 기법이 연구되고 있다. 하지만 지연 쓰기를 하기 때문에 쓰기 횟수는 줄어들지만 캐시 적중률이 낮아진다. 이러한 문제해결을 위해 본 논문에서는 NAND 플래시 메모리 기반 파일 시스템을 위한 더블 캐시 정책을 제안한다. 더블 캐시는 실질적인 캐시인 Real Cache와 요구 페이지의 패턴을 관찰하기 위한 Ghost Cache로 구성된다. 이 정책은 Real Cache에서의 지연 쓰기를 하지 않고, Ghost Cache 공간에서 dirty페이지와 clean페이지를 활용하여 효율적인 지연 쓰기가 가능하도록 설계함으로써 쓰기 횟수를 줄이고, 적중률을 높인다.

• Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
• /
• 2010.10a
• /
• pp.58-61
• /
• 2010

In this paper, we research the method for HDD I/O Performance improvement by Filter Driver &NAND FLASH Memory. We analyze the effect of the operation of the Device Driver & NAND FLASH Memory and propose the method for the HDD I/O Performance improvement.

• Journal of Digital Contents Society
• /
• v.16 no.4
• /
• pp.535-543
• /
• 2015

Recently, NAND flash based storage devices are being used as a storage device in various fields through hiding the limitations of NAND flash memory and maximizing the advantages. In particular, those storage devices contain a software layer called Flash Translation Layer(FTL) to hide the "erase-before-write" characteristics of NAND flash memory. FTL includes the metadata for managing the data requested from host. That metadata is stored in internal memory because metadata is very frequently accessed data for processing the requests from host. Thus, if the power-loss occurs, all data in memory is lost. So metadata management scheme is necessary to store the metadata periodically and to load the metadata in the initialization step. Therefore we proposed the scheme which satisfies the core requirements for metadata management and efficient operation. And we verified the efficiency of proposed scheme by experiments.