본 논문은 $0.13{\mu}m$ 기술의 디자인을 10% 축소하는데 기존의 로직 디바이스만의 축소와는 달리 로직뿐 아니라 입, 출력 회로의 축소에 관한 것이다. 게이트 산화막(1.2V)을 decoupled plasma nitridation(DPN) oxide로 변경함으로써 flicker 노이즈를 축소 전 공정에 비해 1/3-1/5배 감소됨을 확인하였다. 또한, 축소에 의한 피할 수 없는 문제는 일반적인 metal insulator metal(MIM)의 캐패시터 문제이다. 이를 해결하기 위하여 20% 높은 MIM 캐패시터($1.2fF/{\mu}m^2$)를 개선하고 그 특성을 평가하였다.
A plastic substrate for flexible display is developed. The gas barrier property in the substrate is improved through depositing metal and metal oxide multi layer on plastic film by PVD process. The metal/metal-oxide multiplayer on plastic film shows excellent gas barrier property and optical property.
Metal-Oxide-Metal thin film diodes have been fabricated on the glass substrates by conventional vacuum evaporation method, and the electrical properties, primarily current-voltage characteristics of diodes, have been discussed in the light of various conduction theories presented so far. The experimental results were ploted in the different figures according to the assumed theory, and the characteristic coefficients peculior to these theories were estimated from the function dependence of current (I) upon voltage (V), temperature (T) and oxide film thickness (d).
Park, Sung-Bin;Park, Byung-Heung;Seo, Chung-Seok;Jung, Ki-Jung;Park, Seong-Won
한국방사성폐기물학회:학술대회논문집
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한국방사성폐기물학회 2005년도 Proceedings of The 6th korea-china joint workshop on nuclear waste management
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pp.39-50
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2005
Electrolytic reduction of uranium oxide to uranium metal was studied in a $LiCl-Li_{2}O$ molten salt system. The reduction mechanism of the uranium oxide to a uranium metal has been studied by means of a cyclic voltammetry. Effects of the layer thickness of the uranium oxide and the thickness of the MgO on the overpotential of the cathode and the anode were investigated by means of a chronopotentiometry. From the cyclic voltamograms, the decomposition potentials of the metal oxides are the determining factors for the mechanism of the reduction of the uranium oxide in a $LiCl-3\;wt{\%} Li_{2}O$ molten salt and the two mechanisms of the electrolytic reduction were considered with regards to the applied cathode potential. In the chronopotentiograms, the exchange current and the transfer coefficient based on the Tafel behavior were obtained with regard to the layer thickness of the uranium oxide which is loaded into the porous MgO membrane and the thickness of the porous MgO membrane. The maximum allowable currents for the changes of the layer thickness of the uranium oxide and the thickness of the MgO membrane were also obtained from the limiting potential which is the decomposition potential of LiCl.
Kim, Hong-sik;Patel, Malkeshkumar;Kim, Hyunki;Kim, Joondong
한국진공학회:학술대회논문집
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한국진공학회 2016년도 제50회 동계 정기학술대회 초록집
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pp.389.2-389.2
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2016
The flexible solid state device has been widely studied as portable and wearable device applications such as display, sensor and curved circuits. A zero-bias operation without any external power consumption is a highly-demanding feature of semiconductor devices, including optical communication, environment monitoring and digital imaging applications. Moreover, the flexibility of device would give the degree of freedom of transparent electronics. Functional and transparent abrupt p/n junction device has been realized by combining of p-type NiO and n-type ZnO metal oxide semiconductors. The use of a plastic polyethylene terephthalate (PET) film substrate spontaneously allows the flexible feature of the devices. The functional design of p-NiO/n-ZnO metal oxide device provides a high rectifying ratio of 189 to ensure the quality junction quality. This all transparent metal oxide device can be operated without external power supply. The flexible p-NiO/n-ZnO device exhibit substantial photodetection performances of quick response time of $68{\mu}s$. We may suggest an efficient design scheme of flexible and functional metal oxide-based transparent electronics.
The multi-films of a metallic film and a transparent conducting oxide (TCO, indium-tin oxide, ITO) film were formed on the stainless steel 316 and 304 plates by a sputtering method and an E-beam method and then the external metallic region of the stainless steel bipolar plates was converted into the metal nitride films through an annealing process. The multi-film formed on the stainless steel bipolar plates showed the XRD patterns of the typical indium-tin oxide, the metallic phase and the metal substrate and the external nitride film. The XRD pattern of the thin film on the bipolar plates modified showed two metal nitride phases of CrN and $Cr_2N$ compound. Surface microstructural morphology of the multi-film deposited bipolar plates was observed by AFM and FE-SEM. The metal nitride film formed on the stainless steel bipolar plates represented a microstructural morphology of fine columnar grains with 10 nm diameter and 60nm length in FE-SEM images. The electrical resistivity of the stainless steel bipolar plates modified was evaluated.
Kim, Da Hye;Park, Bo Keun;Jeone, Dong Ju;Kim, Chang Gyoun;Son, Seung Uk;Chung, Taek-Mo
한국진공학회:학술대회논문집
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한국진공학회 2014년도 제46회 동계 정기학술대회 초록집
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pp.303.2-303.2
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2014
The oxides of group IV transition metals such as titanium, zirconium, hafnium have many important current and future application, including protective coatings, sensors and dielectric layers in thin film electroluminescent (TFEL) devices. Recently, group IV transition metal oxide films have been intensively investigated as replacements for SiO2. Due to high permittivities (k~14-25) compared with SiO2 (k~3.9), large band-gaps, large band offsets and high thermodynamic stability on silicon. Herein, we report the synthesis of new group IV transition metal complexes as useful precursors to deposit their oxide thin films using chemical vapor deposition technique. The complexes were characterized by FT-IR, 1H NMR, 13C NMR and thermogravimetric analysis (TGA). Newly synthesised compounds show high volatility and thermal stability, so we are trying to deposit metal oxide thin films using the complexes by Atomic Layer Deposition (ALD).
Three kinds of organometallic compounds (chromium acetylacetonate, magnesium acetate and vanadyl acetylacetonate) were used as transition metal precursor, titanium n-butoxide and multi-walled carbon nanotube as titanium and carbon precursor to prepare metal oxide-CNT/$TiO^2$ composites. The surface properties and morphology of metal oxide-CNT/$TiO^2$ composites were by Brauer-Emett-Teller (BET) surface area measurement, scanning electron microscopy (SEM), transmission electron microscopy (TEM), X-ray diffraction (XRD) and energy dispersive X-ray (EDX) analysis. The photocatalytic activity of prepared metal oxide-CNT/$TiO^2$ composites was determined by the degradation effect of methylene blue in an aqueous solution under irradiation of visible light.
The anodization of ADC12 aluminum alloy was investigated in the metal anionic acid media. Anodic oxide films containing foreign elements were formed on ADC12 Al alloy by anodization in the anion complex solution. Furthermore, the rough surface and cracks were considerably smoothened by the deposit of metal anions. When the size of metal anion was small, relatively large amount of metal anions was loaded in anodic films. Existence of $MoO_3$, $TiO_2$ and MgO was confirmed by XPS. According to the results of Tafel analysis, Mo oxide represented the most noble anti-corrosion potential due to $MoS_2$ formation. Corrosion current densities were generally higher than that of pristine anodic oxide without anion complexes.
한국초전도학회 2000년도 High Temperature Superconductivity Vol.X
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pp.111-120
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2000
Recently, metal oxide films such as MgO or ZrO$_2$ have been studied as buffer layers to fabricate the superconductor with preferred orientation and as diffusion barriers to prevent the reaction between superconductor and metal substrate. In this research, we focused fabrication and characterization of MgO and ZrO$_2$ films on textured metal substrates. We fabricated MgO and ZrO$_2$ films on the Ni metal sheets by sol-gel dipping method. The microstrcures of the films were investigated by SEM and AES analyses. The films were coated with different cycles and dryed at 400$^{\circ}$C and 500$^{\circ}$C . The final films were heat-treated at 700$^{\circ}$C, 800$^{\circ}$C, and 1000$^{\circ}$C, in air atmosphere. We investigated the alignment of MgO and ZrO$_2$ films on Ni metal sheets by XRD and pole figure. The grain growth of metal oxide films was improved by the increase of the drying temperature and annealing temperature. The grain growth was increased with the annealing temperature. The alignment of metal oxide films depended on the thickness.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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