We investigated that the fabrication and reproducing signal characteristics of tri-layered magnetoresistance (MR) element for the high density magnetic thin film heads and sensors. Magnetoresistance curve of tri-layered MR element predicted by computer modeling was saturated above external field of -15 Oe~+22 Oe, and it was shifted to linearized region as large as 4 Oe. In the case of fabricated real device, magnetoresistance curve was saturated above external field of $\pm$15 Oe, and it was shifted to linearized region as large as 4 Oe. As shown in real device, MR response curve was in good agreement with the simulation results. As a result of experimental data of reproducing output signal in real device, it retained normal sinusoidal waveforms in 1~4 Oe external magnetic field. In this magnetic field region, the fabricated heads with tri-layered MR element can be operated with good reproduced characteristics. This will be beneficial to the use of efficient processes of manufacturing elements and the vacuum deposition techniques which control thin film properties.
$Glass\Cr_{40\AA}\{[Cr_{10\AA}\NiFe_{50\AA}]}_N$ multilayers (number of layer N = 1, 2, 3, 4, 5, 6, 10) were made by dc magnetron sputtering under magnetic anisotropy of 200 G. Magnetoresistance curve MR(xx), MR(xy) were measured for the parallel and perpendicular current direction to external magnetic field. MR(xx) curves for the number of layer N=1, 5, 10 were almost became about zero percent, however the curves of other numbers appeared the phenomena of "positive magnetoresistance" that the resistance increased to external magnetic field, and the irregular and reversed curves in the vicinity of H=0 Oe.
The water level and temperature properties for the cooling system of potassium titanyl phosphate laser systems were observed. The middle point of the GMR-SV magnetoresistance curve is set in the neighborhood of high magnetic sensitivity (2.8 %/Oe). The experimental results for resistance dependence on water height and temperature showed linear regions with rates of 0.4 ${\Omega}/mm$ and 0.1 ${\Omega}/^{\circ}C$, respectively. The proposed results were found to be for adjusting the water level and temperature in the laser cooling system.
The antiferromagnet IrMn based four different GMR-SV multilayers on Corning glass were prepared by using ion beam deposition and DC magnetron sputtering system. The magnetoresistance (MR) properties for single-type and dual-type GMR-SV multilayer films were investigated through the measured major and minor MR curves. The exchange bias coupling field ($H_{ex}$) and coercivity ($H_c$) of pinned layer, the $H_c$ and interlayer exchange coupling field ($H_{int}$) of free layer for the dual-type structure GMR-SV multilayer films consisted of top IrMn layer were 410 Oe, 60 Oe, 1.6 Oe, and 7.0 Oe, respectively. The minor MR curve of two free layers was performed the squarelike feature having a MR ratio of 8.7 % as the sum of 3.7 % and 5.0 %. The value of average magnetic field sensitivity (MS) was maintained at 2.0 %/Oe. Also, the magnetoresistance properties of the single-type and dual-type structure GMR-SV multilayer films consisted of bottom IrMn layer were decreased more than those of top IrMn layer. Two antiparallel states of magnetization spin arrays of the pinned and free layers in the dual-type GMR-SV multilayer films occurred the maximum MR value by the effect of spin dependence scattering.
The magnetic isotropy property from the magnetoresistance (MR) curve and magnetization (MH) loop for the PtMn based spin valve (SV) multilayer films fabricated with different the bottom structure after post-annealing treatment was investigated. The exchange biased coupling field ($H_{ex}$), coercivity ($H_c$), and MR ratio of Glass/Ta(10 nm)/CoFe(6 nm)/Cu(2.5 nm)/CoFe(3 nm)/Ta(4 nm) SV multilayer film without antiferromagnetic PtMn layer are 0 Oe, 25 Oe, and 3.3 %, respectively. MR curve for the Glass/Ta(10 nm)/CoFe(6 nm)/Cu(2.5 nm)/CoFe(3 nm)/PtMn(6 nm)/Ta(4 nm) SV multilayer film showed $H_{ex}=2Oe$, $H_c=316Oe$, and MR (%) = 4.4 % with one butterfly MR curve having by the effect of antiferromagnetic PtMn layer. MR curve for the dualtype Glass/Ta(10 nm)/CoFe(6 nm)/Cu(2.5 nm)/CoFe(3 nm)/PtMn(6 nm)/CoFe(3 nm)/Cu(2.5 nm)/CoFe(6 nm)/Ta(4 nm) SV multilayer film showed $H_c=37.5Oe$ and 386 Oe, MR = 3.5 % and 6.5 % with two butterfly MR curves and square-like hysteresis MH loops. The anisotropy property in CoFe spin valve-PtMn multilayer is neglected by the effects of a very small value of $H_{ex}$ and a very slightly shape magnetic anisotropy. This result is possible to explain the effect of magnetization configuration spin array of the bottom SV film and the top SV film of PtMn layer.
The low-field tunnel-type magnetoresistance (MR) properties of sol-gel derived $La_{0.7}Pb_{0.3}MnO_3(LPMO)$ thin film deposited on different substrate have been investigated. Polycrystalline thin films were fabricated by spin-coating on $SiO_2/Si(100)$ substrate and that with yttria-stabilized zirconia (YSZ) buffer layer, while c-axis-oriented thim film was grown on $LaAlO_3(001)$ (LAO) single crystal substrate. The full width half maximum (FWHM) of the rocking curve scan of LPMO/LAO film is $0.32^{\circ}$. Tunnel-type MR ratio is 0.52 % in $LPMO/SiO_2/Si$(100) film and that of $LPMO/YSZ/SiO_2/Si$(100) film is as high as 0.68 %, whereas that of LPMO/LAO(001) film is less than 0.4 % under the applied field of 500 Oe at 300 K. Well-pronounced MR hysteresis was registered with an MR peak in the vicinity of the coercive field. The low-field tunnel-type MR characteristics of thin films deposited on different substrates originates from the behavior of grain boundary properties.
Park, S. J.;Park, K. L.;Kim, M. Y.;j. R. Rhee;D. G. Hwang;Lee, S. S.;Lee, k. A.;Park, C. M.
Journal of Magnetics
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v.2
no.1
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pp.7-11
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1997
The dependence of magnetoresistance (MR) ratio on various variables like the thickness of the second Co layer, on the presence of cap layer, on deposition field (Hdep) and on annealing in Co/Cu/Co sandwiches was investigated. Spin-valve sandwiches were deposited on the corning glass by means of the 3-gun dcmagnetron sputtering at a 5 mTorr partial Ar pressure and room temperature. The deposition field was varied from 70 Oe to 720 Oe. The MR curve was measured by the four-terminal method with applied magnetic field up to 1000 Oe perpendicular to the direction of a current in the film plne. The MR ratio of glass/Fe(50${\AA}$)/Co(17${\AA}$)/Cu(24${\AA}$)/Cot(${\AA}$) fabricated by making 50 ${\AA}$ of Fe buffer layer has the maximum value of 8.2% when the thickness of the second Co layer was 17${\AA}$and the deposition field was 350 Oe. In the case of glass/Fe(50${\AA}$)/Co(17${\AA}$)/Cu(24${\AA}$)/Cot(${\AA}$) with Cu cap layer on top, the decrease in the MR ratio seemed to relate with the oxidation of the second Co layer. Samples prepared with deposition field showed greater MR ratios through the formation of more complete spin valve films. After annealing for 2 hours at 300$^{\circ}C$, the MR ratio of the samples prepared with deposition field decreased rapidly while the MR raito of the sample prepared without the field remained.
The pseudo spin valve with a structure of Tl/CoFe(t $\AA$)/Cu(30 $\AA$)/NiFe(50 $\AA$)/Ta, showing giant magnetoresistance properties by utilizing coercivity difference between only two soft ferromagnetic layers were produced by d.c UHV magnetron sputtering system. In pseudo spin valve Ta/CoFe/Cu/NiFe/Ta, the magnetic and magnetoresistance properties with change of CoFe thickness were investigated. When the thickness of CoFe was 60 $\AA$, a typical MR curve of pseudo spin valve structure was obtained, showing MR ratio of 3.8 cio and the coercivity difference of 27.4 Oe with a sharp change of hard layer switching. When the CoFe thickness was varied from 20 to 100 $\AA$, coercivity difference between two layers was increased to 40 $\AA$. and decreased to 100 $\AA$ gradually. It is thought the change in coercivity of hard layer was due to the crystallinity and magnetostriction of thin CoFe layer. In order to improve the MR property in CoFe/Cu/NiFe trier layer structure, CoFe layer with change of 2-20 $\AA$ thick was inserted between Cu and NiFe. When the thickness of CoFe was 10 $\AA$, MR ratio was 6.7%, showing excellent MR property. This indicates 50 % higher than that of CoFe/Cu/NiFe pseudo spin valve.
Amorphous $Ge_1$_$_xMn_x$ semiconductor thin films grown by low temperature vapor deposition were annealed at various temperatures from 400 to $700^{\circ}C$ for 3 minutes in high vaccum chamber. The electrical and magnetotransport properties of as-grown and annealed samples have been studied. X-ray diffraction patterns analysis revealed that the samples still maintain amorphous state after annealling at $500^{\circ}C$ for 3 minutes and they were crystallized when annealing temperature increase to $600^{\circ}C$. Temperature dependence of resistivity measurement implied that as-grown and annealed $Ge_1$_$_xMn_x$ films have semiconductor characteristics, the increase of resistivity with annealling temperature was obseved. The $700^{\circ}C$-annealed sample exhibited negative magnetoresistance (MR) at low temperatures and the MR ratio was ${\sim}$8.5% at 10 K. The asymmetry was present in all MR curves. The anomalous Hall Effect was also observed at 250 K.
Linear GMR isolator which is profitable for transmitting analog signal was modeled and the output voltage and current in relation to the input current were investigated. GMR isolator modeling was divided into two parts, namely magnetic and electric parts. The flow chart of the modeling was drawn in which the MR curve of the spin valves were incorporated to obtain the electrical voltage output. For magnetic modeling, 3-dimensional model of planar coil was analyzed by FEM method to obtain the magnetic field strength corresponding to the input current. Coil efficiency of the planar coil having magnetic core layer was shown to have about 1.5 times larger than that of the coil without the magnetic core layer. The feedback coil current(output current) corresponding to the input coil current was calculated to be within ${\pm}$0.25 mA of the linear fitting function of I$\_$out/= I$\_$in/-5 mA. Also, the response time and output waveforms were obtained when the coil current was a rectangular waveform. The rise time and fall time was 6 ${\mu}\textrm{s}$, respectively when the slew rate of the op-amp was 0.3 V/${\mu}\textrm{s}$.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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