In the automotive industry these days, plastic parts have been developed and replaced with plastic parts by maintaining the same function of existing press parts for a variety of reasons. Injection molding plastic parts are subject to molding defects due to various factors, among which the sink marks usually occur in the areas where bosses and ribs are installed. In this study, we analyzed the influence of various factors on the occurrence of sink marks by using the flow analysis of the forming analysis program(Moldflow analysis) using the rib model with the T-shape. Tests have shown that the greatest influence on the sink mark of cosmetic products is the thickness and pressure of the ribs, and the thickness of the basic moulding thickness of the product increases. However, it was considered that the resin temperature and the mold temperature do not greatly affect the occurrence of the sink mark.
Journal of the Korean Society of Surveying, Geodesy, Photogrammetry and Cartography
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v.17
no.4
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pp.403-410
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1999
Mark point(Donghaksan) of Korean geodetic datum in Suwon could not be intervisible because of the development of the surroundings, so we were in a situation that we should establish new mark point and decide azimuth of the new mark point. Getting out of the intervisibility between control stations, refraction error and effect of illumination in urban area, our research team decided new azimuth of Suwon Geodetic Datum by GPS surveying for accuracy and economical efficiency. First we corrected and supplemented the specification on the decision of azimuth in accordance with our situation based on the study of foreign studies by using GPS, and we determined and analyzed the accuracy of the new azimuth through organizing and observing the GPS network.
Supplementary features in injection molded products, which are boss, rib and snap fit, are mainly located in the products. These features might make molding flow improper in injection processing and consequently give rise to some of molding troubles such as short shot and hesitation. The sink mark on boss parts is generated by the volumetric shrinkage that is caused by both the molding thickness and the closed boss height. The volumetric shrinkage is affected by packing pressure and its amount tends to decrease by increasing the packing pressure. The packing pressure can therefore increase flow rate to a boss part and causes the sink mark depth to increase. As the molding thickness and the closed boss height in the boss part can increase the part volume, these may yield bad solidifying and also extend the molding cycle. In this paper, both the injection molding test and the flow analysis were carried out to investigate the effect of sink marks generated in the boss part of injection molded products.
A result of measurement for the relative dose distribution of neutron gamma mixed radiation field in the biological irradiation facility installed at TRIGA Mark-III reactor is described. The relative dose distributions of neutron-gamma mixed radiation field in the biological exposure room have been experimentally determined using a thermoluminescent dosimeter. Presented herein in graphical forms are the experimental results obtained. It as observed that the region commonly having the characteristics of rather homogeneous horizontal and lateral dose distributions is confined to the area bounded by the two planes horizontally parallel to the beam direction with heights of about 40 cm and 130 cm, respectively, at distances beyond 100 cm from the segmentary surface of the aluminum pool liner projected into the the exposure room, while other areas show a steeper gradient in dosage, especially the places adjacent to the segment of the aluminum pool liner and near the inner po${\gamma}$lion of the concrete walls of the exposure room.
Journal of Information Technology Applications and Management
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v.21
no.3
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pp.135-156
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2014
The Online business model for purchasing agent service is getting more popular. However, consumers perceive more risk when buying products from foreign online purchasing agents (FOPA) than from common online sellers (COS). This study focuses on finding out how consumers manage risk when they perceive risk and what different risk-reliever strategies they use when buying from high-risk FOPA and low-risk COS. This study has proved the following two. First, when consumers perceive risk at online purchasing, they tend to select risk-reliever strategies, such as the use of communication media, online assurance mark, seller's record, and secure payment to mitigate risk. With the application of those risk-reliever strategies, they built trust with the seller. Second, risk-perception of FOPA influences usage of communication media and check of online assurance mark more strongly than that of COS. On the contrary, risk-perception of COS influences the check of seller record more strongly than that of FOPA. This study helps to explain why FOPA is proliferating, despite its inherent high risk due to the fact that buyers and sellers are separated in time and space and that buyers and sellers have different social and cultural backgrounds. This study also helps managers of E-commerce to relieve consumer's risk-perception and to build trust.
Journal of Institute of Control, Robotics and Systems
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v.15
no.9
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pp.909-915
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2009
This work is to develop a vision system for high precision alignment between upper and lower plates required at the imprinting process of the large LCD flat panel. We compose a gantry-stage that has highly repeated accuracy for high precision alignment and achieves analysis about thermal transformations of stage itself. Position error in the stage is corrected by feedback control from the analysis. This system can confirm alignment mark of upper and lower plates by using two cameras at a time for the alignment of two plates. Pattern matching that uses geometric feature is proposed to consider the recognition problem for alignment mark of two plates. It is algorithm to correct central point and angle for the alignment from the recognized mark of upper and lower plates based on the special characteristics. At the alignment process, revision for error position is performed through Look and Move techniques.
The horizontal distribution of the fast neutron flux density in the Bulk Shielding Experimental Tank of the TRIGA Mark-II reactor at the steady power of 250 KW has been measured using a solid state track detector which is natural mica placed in contact with $^{232}$ Th fissile foil. The neutron flux density was calculated on the assumption that the fast neutron spectrum is similar to that from the thermal-induced $^{235}$ U fission. The resulting flux density distribution along the horizontal line from the center of the thermalizing column door is presented in tabular and graphical forms.
KSII Transactions on Internet and Information Systems (TIIS)
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v.13
no.4
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pp.2223-2242
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2019
Distance Vector-Hop (DV-Hop) algorithm is widely used in node localization. It often suffers the wormhole attack. The current researches focus on Double-Wormhole-Node-Link (DWNL) and have limited attention to Multi-Wormhole-Node-Link (MWNL). In this paper, we propose a security DV-Hop algorithm (AMLDV-Hop) to resist MWNL. Firstly, the algorithm establishes the Neighbor List (NL) in initialization phase. It uses the NL to find the suspect beacon nodes and then find the actually attacked beacon nodes by calculating the distances to other beacon nodes. The attacked beacon nodes generate and broadcast the conflict sets to distinguish the different wormhole areas. The unknown nodes take the marked beacon nodes as references and mark themselves with different numbers in the first-round marking. If the unknown nodes fail to mark themselves, they will take the marked unknown nodes as references to mark themselves in the second-round marking. The unknown nodes that still fail to be marked are semi-isolated. The results indicate that the localization error of proposed AMLDV-Hop algorithm has 112.3%, 10.2%, 41.7%, 6.9% reduction compared to the attacked DV-Hop algorithm, the Label-based DV-Hop (LBDV-Hop), the Secure Neighbor Discovery Based DV-Hop (NDDV-Hop), and the Against Wormhole DV-Hop (AWDV-Hop) algorithm.
Precision manufacturing technology is rapidly developing due to the extreme miniaturization of semiconductor processes to comply with Moore's Law. Accurate and precise alignment, which is one of the key elements of the semiconductor pre-process and post-process, is very important in the semiconductor process. The center detection of wafer align marks plays a key role in improving yield by reducing defects and research on accurate detection methods for this is necessary. Methods for accurate alignment using traditional image sensors can cause problems due to changes in image brightness and noise. To solve this problem, engineers must go directly into the line and perform maintenance work. This paper emphasizes that the development of AI technology can provide innovative solutions in the semiconductor process as high-resolution image and image processing technology also develops. This study proposes a new wafer center detection method through variable thresholding. And this study introduces a method for detecting the center that is less sensitive to the brightness of LEDs by utilizing a high-performance object detection model such as YOLOv8 without relying on existing algorithms. Through this, we aim to enable precise wafer focus detection using artificial intelligence.
The Journal of The Korea Institute of Intelligent Transport Systems
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v.6
no.2
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pp.138-145
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2007
Luminous traffic safety mark is restricted to use only the place that has a thick fog, many night traffic accidents, limited field of view due to structure of road. Recently, LEDs are used for luminous traffic safety mark, but we propose an organic LED for a novel luminous traffic safety mark in the near future. The device structure was $ITO/2-TNATA(500{\AA})/{\alpha}-NPD(200{\AA})/DPVBi(300{\AA})/BCP(10{\AA})/Alq_3(200{\AA})/LiF(10{\AA})/Al:Li(1000{\AA})$. The characteristics of the device are most efficient on occasion of using $N_2$ gas plasma treatment. Current density is $240.71mA/cm^2$ luminance $10,550cd/m^2$, and current efficiency 3.53cd/A at an applied voltage of 10V. The maximum EL wavelength of the fabricated blue organic light-emitting device is 456nm. CIE color coordinates are x=0.1449 and y=0.1633, which is similar to NTSC deep-blue color with CIE color coordinates of x=0.14 and y=0.08.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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