• 제목/요약/키워드: Langmuir-blodgett

검색결과 363건 처리시간 0.028초

(N-docosyl quinolinium)-TCNQ(1:2) 전하 이동 착물 Langmuir-Blodgett막의 분자 배향에 관한 연구 (A Study on the Molecular Orientation of (N-docosyl quinolinium)-TCNQ(1:2) Charge Transfer Complex Langmuir-Blodgett Films)

  • 정순욱;정회걸
    • 한국재료학회지
    • /
    • 제10권8호
    • /
    • pp.564-568
    • /
    • 2000
  • Langmuir-Blodgett(LB) 법은 미래의 분자전자소자를 위한 가장 유력한 수단이며, 이러한 분자박막 소자는 그 성질이 분자는 배향에 영향을 박데 되므로 현재 새로운 물질을 이용하여 분자전자소자의 제작에 있어 관심을 모으고 있다. 본 연구에서는 (N-docosyl quinolinium)-TCNQ(1:2) 전하 이동 착물 LB 막의 분자 배향을 UV/vis 편광흡수 스펙트럼과 FT-IR transmission 및 reflection-absorption 스펙트럼의 흡수강도를 비교하여 정량적으로 평가하였다. 그 결과 TCNQ의 transition dipole moment의 각은 약 56~58。 였으며, 알킬 고리의 경사각은 약 11.1~13。였다. 제작된 Z-형 LB 막의 표면은 고압에서 중앙 높이 차가 3~4$\AA$으로 평탄하였다.

  • PDF

Langmuir-Blodgett 법을 이용한 P(VDF-TrFE) 박막 트랜지스터 (P(VDF-TrFE) Thin Film Transistors using Langmuir-Blodgett Method)

  • 김광호
    • 반도체디스플레이기술학회지
    • /
    • 제19권2호
    • /
    • pp.72-76
    • /
    • 2020
  • The author demonstrated organic ferroelectric thin-film transistors with ferroelectric materials of P(VDF-TrFE) and an amorphous oxide semiconducting In-Ga-Zn-O channel on the silicon substrates. The organic ferroelectric layers were deposited on an oxide semiconductor layer by Langmuir-Blodgett method and then annealed at 128℃ for 30min. The carrier mobility and current on/off ratio of the memory transistors showed 9 ㎠V-1s-1 and 6 orders of magnitude, respectively. We can conclude from the obtained results that proposed memory transistors were quite suitable to realize flexible and werable electronic applications.

(N-docosyl quinolinium)-TCNQ(1:2) 전하 이동 착물 Langmuir-Blodgett막의 전기적 특성 (Electrical Properties of (N-docosyl quinolinium)-TCNQ(1 :2) Charge Transfer Complex Langmuir-Blodgett Films)

  • 정순욱;정회걸
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국전기전자재료학회 1999년도 추계학술대회 논문집
    • /
    • pp.143-146
    • /
    • 1999
  • In this study, Ultra-thin films of (N-ducosyl quinolinium)-TCNQ(1:2) complex were prepared on the hydrophilic substrate by Langmuir-Blodgett(LB) technique. By measure of UV-vis spectra and capacitance, deposition status was confirmed together with the thickness of natural oxidized aluminum film inside a device and dielectric constant of (N-docosyl quinolinium)-TCNQ(1:2) complex. The electrical properties of (N-docosyl 7uin7linium)-TCNQ(1:2) complex were investigated at room temperature. The conductivity of this film measured by the direction uf either vertical or horizontal axis is results in a quite different value.

  • PDF

폴리이미드와 인지질 혼합물의 나노 Langmuir-Blodgett막의 전기화학적 특성에 관한 연구 (A Study on the Electrochemical Properties of Langmuir-Blodgett Nano-film Mixed with Polyimide and Phospholipid)

  • 박근호
    • 한국응용과학기술학회지
    • /
    • 제29권3호
    • /
    • pp.421-428
    • /
    • 2012
  • 우리는 순환전압전류법에 의한 폴리이미드와 인지질혼합 나노LB 필름에 대한 전기화학적 특성을 조사하였다. polyamic acid와 인지질 단분자 LB막은 ITO glass에 Langmuir-Blodgett법을 사용하여 제막하였다. 전기화학적 특성은 $KClO_4$ 용액에서 3 전극 시스템 (Ag/AgCl 기준전극, 백금선 카운터 전극 및 LB 필름이 코팅된 ITO 작업 전극)으로 순환전압전류법을 사용하여 측정하였다. 측정 범위는 연속적으로 1650 mV로 산화시키고, 초기전위인 -1350 mV로 환원시켰다. 주사속도는 각각 50, 100, 150, 200 및 250 mV/s였다. 그 결과 polyamic acid와 인지질 혼합물의 LB 필름은 순환전압전류도표로부터 환원전류로 인한 비가역공정으로 나타났다. Polyamic acid와 인지질혼합 LB막에서 확산계수(D)효과는 LAPC를 사용한 경우가 LLPC를 사용한 것 보다 확산계수 값이 적었다.

BAM(Brewster angle microscopy)을 이용한 PAAS(Polyamic Acid Alkylamine Salts)의 Langmuir막과 Langmuir-Blodgett막의 특성 연구 (A. Study on the PAAS(Polyamic Acid Alkylamine Salts) Langmuir Films and Langmuir-Blodgett Films using BAM(Brewster angle microscopy))

  • 이승엽;강도열;김태완
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국전기전자재료학회 1996년도 추계학술대회 논문집
    • /
    • pp.147-151
    • /
    • 1996
  • Brewster angle microscopy(BAM) makes it possible to observe the monolayer states on the water subphase and the phase transitions from a gaseous phase via a expanded phase to a condensed phase. Also BAM can be used to observe the films on the solid substrate such as Langmuir-Blodgett(LB) films. In this Paper Polyamic Acid Alkylamine Salts(PAAS) was used for forming L films and LB films and $\pi$-A isotherm showed pressure of each phase. We obtained BAM images as surface pressure increased. Images of LB films were compared with data from ellipsometry which was used to measure the film thickness. Images of both L films and LB films were analyzed with computer in the point of brightness.

  • PDF