• 제목/요약/키워드: LCD 검사

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TFT-LCD 패널 검사를 위한 지역적 분별에 기반한 결함 영역 분할 알고리즘 (Segmentation of Defective Regions based on Logical Discernment and Multiple Windows for Inspection of TFT-LCD Panels)

  • 정건희;정창도;윤병주;이준재;박길흠
    • 한국멀티미디어학회논문지
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    • 제15권2호
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    • pp.204-214
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    • 2012
  • 본 논문은 비전장비의 결함 검사 시스템을 위한 불균일한 휘도분포를 가지는 TFT-LCD 영상에서 결함 영역을 분할하는 방법을 다룬다. 불균일한 휘도분포 때문에 결함의 영역을 찾기 어려우며 이를 위해 많은 방법들이 제안되었다. Kamel과 Zhoa는 문자 및 그래픽의 분할을 위해 논리적 단계화 방법을 제안하였고, 이 방법은 공간상에서 수행되어지는 지역적 분할 방법으로 불균일한 분포 상에서도 문자가 잘 분할되는 장점이 있다. TFT-LCD의 저해상도 영상도 배경의 분포가 불균일하여 본 논문에서는 Kamel과 Zhoa의 방법을 답습하여 새로운 결함 영역 분할 방법을 제안한다. 제안한 방법은 결함주위에 발생하는 과검출(Ghost object)이 적은 장점이 있으며 제안 방법의 성능을 증명하기위해 실제 결함이 존재하는 TFT-LCD 영상을 이용하여 실험하고, 주파수상에서 많이 사용되는 FFT의 밴드패스 필터를 이용한 분할 방법과 비교하였다.

TFT-LCD의 결함 검출을 위한 원근 변환 기반의 패턴 제거 방법 (Pattern Elimination Method Based on Perspective Transform for Defect Detection of TFT-LCD)

  • 이준재;이광호;정창도;박길흠;박윤범;이병국
    • 한국멀티미디어학회논문지
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    • 제15권6호
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    • pp.784-793
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    • 2012
  • TFT-LCD의 결함은 LCD 패널 자체에 존재하는 패턴으로 인해 원본영상과 입력영상 간의 차영상에 문턱치를 적용하여 검출한다. 그러나 카메라의 특성에 기인한 기하학적인 왜곡에 의해, 패널의 패턴 주기에 해당하는 피치가 영상의 중심에서 멀어질수록 심하게 달라진다. 본 논문에서는 주어진 피치영역의 상하좌우 주변영역과의 비교에 기반한 검출을 제안한다. 이때, 왜곡 보정을 위해 피치계산을 위한 특징점을 추출하고 원근변환을 수행한다. 현장 데이터에 대한 실험을 통해 제안방법의 우수성을 입증한다.

TFT-LCD 채널검사 자동화를 위한 원격 모니터링 시스템 개발 (Development of n Remote Monitoring System for TFT-LCD Panel Test Automation)

  • 박형근;이승대;김선엽
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제8권3호
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    • pp.483-487
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    • 2007
  • 본 연구에서는 TFT-LCD Panel 생산한 후 Panel을 검사하는 공정에서 사용되는 Ti-Con 보드의 동작 상태를 실시간으로 모니터링하고 원격지에 있는 엔지니어에게 TCP/IP를 이용하여 고장 유무를 판별할 수 있는 데이터를 전송함으로써 신속한 대처가 가능할 뿐만 아니라 다중 프로세스가 가능하도록 제어할 수 있는 시스템을 개발하였다.

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LCD 결함검사 알고리즘에 관한 연구 (A Study on the Implementation of LCD Defect Inspection Algorithm)

  • 전유혁;김규태;김은수
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 1999년도 추계종합학술대회 논문집
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    • pp.637-640
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    • 1999
  • In this Paper we show the LCD simulator for defect inspection using image processing algorithm and neural network. The defect inspection algorithm of the LCD consists of preprocessing, feature extraction and defect classification. Preprocess removes noise from LCD image, using morphology operator and neural network is used for the defect classification. Sample images with scratch, pinhole, and spot from real LCD color filter image are used. The proposed algorithms show that defect detected and classified in the ratio of 92.3% and 94.6 respectively.

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측면조명을 이용한 LCD 백라이트 불량검출 시스템 (LCD BLU Defects Detection System with Sidelight)

  • 문창배;박지웅;이해연;김병만;신윤식
    • 정보처리학회논문지B
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    • 제17B권6호
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    • pp.445-458
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    • 2010
  • LCD 모니터의 백라이트로 CCFL 형광체를 많이 사용하고 있으나 그 불량여부는 육안에 의존하고 있다. 육안 검사를 함으로써 부품에 대한 일관성 있는 검사가 결여되고, 노동집약적인 검사로 인해 산업적 재해가 발생할 수 있다. 따라서, CCFL 불량유무를 자동으로 판별하기 위해서 물리적 촬영 환경과 영상처리 알고리즘은 중요하다. 본 논문에서는 CCFL 형광체를 자동으로 검사하기 위한 촬영환경 중 다섯 가지 조건과 세 가지조건 중 두 조건모두에서 사용되는 측면 촬영환경에서 획득한 영상을 이용하여 불량을 판별하기 위한 알고리즘을 제시하였다. 불량을 포함한 CCFL 형광체와 정상시료를 사용하여 영상 획득 및 실험을 수행하였고, 그 결과 제안한 촬영환경과 알고리즘은 과검율 4.65 %와 유출률 5.37 %의 성능을 보인다.

전극용 몰리브덴 핀 제조-몰리브덴 핀 제작 및 검사용 JIG and Fixture 설계 및 제작 융합연구 (Manufacturing of molybdenum pin(CCFL) for electrode - convergency research on design and manufacturing of JIG and Fixture for molybdenum pin manufacturing and inspection)

  • 이정익
    • 한국융합학회논문지
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    • 제11권6호
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    • pp.197-201
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    • 2020
  • LCD BLU의 CCFL 전극에 사용되는 몰리브덴 전극의 주요소재인 몰리브덴 컵과 몰리브덴 핀은 국내 가공기술이 개발되지 못하여 전량 일본에서 수입하여 사용되고 있어 CCFL 제조업체들의 납기 및 경쟁력에 부담을 주고 있다. 본 연구에서는 LCD BLU의 CCFL 전극에 사용되는 몰리브덴 핀의 제조 기술을 개발하는 연구로 직선처리 기술개발, 몰리브덴 와이어 표면처리 기술개발, 와이어 절단기술 개발, 몰리브덴 핀의 제작, 검사용 JIG와 Fixture 설계 및 제작, 몰리브덴 핀 시제작 및 해석, 몰리브덴 핀 전수검사 기술개발에 관한 연구를 수행하였으며 본 논문에서는 몰리브덴 핀제작 및 검사용 JIG and Fixture의 설계 및 제작에 대한 연구를 다루고자 한다.

히스토그램의 통계적 모멘트를 이용한 편광필름 결함 검출 방법 (A defect inspection method for the LCD ploarizer film using statistical moment of histogram)

  • 윤희상;박태형
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2007년도 제38회 하계학술대회
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    • pp.1760-1761
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    • 2007
  • 액정 디스플레이(LCD)의 핵심 재료인 편광필름은 제조 과정이나 운반 과정에서 실오라기 같은 이물 및 찍힘 등의 결함이 발생하며 이를 사람이 육안으로 검사하고 있다. 본 논문에서는 이런 편광필름의 결함을 자동으로 검출하기위한 방법으로 히스토그램의 통계적 모멘트를 사용하여 주변 밝기에 따라 검사 영역의 밝기의 기울기를 구하고, 이를 통해 결함의 유무를 판단하는 편광필름 검사 방법을 제안한다.

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LCD Panel 불량 검사를 위한 영상처리 알고리즘 연구 (A Study on Image Processing Algorithm fur Inspection of LCD Panel)

  • 조수용;고국원;고경철
    • 한국정밀공학회:학술대회논문집
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    • 한국정밀공학회 2006년도 춘계학술대회 논문집
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    • pp.59-60
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    • 2006
  • It is bringing out the importance of automated LCD testing equipment that satisfy a definite quality, confidence and testing speed, as LCD enterprises are recently expanding the production and facility investment in proportion to the sudden increase of LCD demand. So far, LCD inspection is however conducted by manual, or the confidence of existing testing equipment falls short of LCD enterprises's standard. It is therefore important to develop the testing equipment that determines the quality of product for production of an excellent LCD.

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적응적 임계화법에 기반한 LCD 얼룩 검사 (Adaptive Multi-threshold Based Mura Detection on A LCD Panel)

  • 류재승;곽동민;박길흠
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2003년도 신호처리소사이어티 추계학술대회 논문집
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    • pp.347-350
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    • 2003
  • In this paper, a new automated defects detection method for a TFT-LCD panel is presented. An input image is preprocessed to lessen small abnormal noises and non-uniformity of the image. The adaptive multi-thresholds are used to detect Muras, which are the major defects occurred on TFT-LCD panels. Those are determined adaptively depending on the brightness and the brightness distribution of a local block. For the synthetic images and real Mura images, the proposed algorithm can effectively detect Muras in a reasonable time.

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