LCD BLU Defects Detection System with Sidelight
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Moon, Chang-Bae
(금오공과대학교 컴퓨터공학부 소프트웨어공학과)
Bark, Jee-Woong ((주)유비젼 장비사업부) Lee, Hae-Yeoun (국립금오공과대학교 컴퓨터공학부) Kim, Byeong-Man (국립금오공과대학교 컴퓨터공학부) Shin, Yoon-Sik (국립금오공과대학교 컴퓨터공학부) |
1 | 정운국, 문창배, 이해연, 김병만, 양한석 “CCFL 불량 판별을 위한 전처리 알고리즘” 한국정보과학회 2009 가을학술발표논문집 제36권 제2호(C), 2009. 11, pp.359-362. |
2 | 최승태, 허윤, 이준형, 최태호, 강진규, 최유화 “ EEFL 불량검사를 위한 네트워크기반 멀티비젼 통합시스템 구현” 제어로봇시스템학회지 Vol.14, No.2, 2008년, pp.21-25. |
3 | 문창배, 정운국, 이흥수, 이준영, 이해연, 김병만, 양한석, “CCFL 검사를 위한 촬영환경 및 불량판별 알고리즘”, 제33회 한국정보처리학회 춘계학술발표대회논문집 제17권 제1호 (2010. 4) |
4 | Jaythech Vision Light, http://www.jaytech.kr |
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