• 한국근적외분광분석학회:학술대회논문집
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• 한국근적외분광분석학회 2001년도 NIR-2001
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• pp.1531-1531
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• 2001

A novel technique has been developed to observe the three-dimensional (3-D) distribution of chemical components in biological materials using both automatic sectioning microtome and infrared microscope. The 3-D image was reconstructed based on the relationship between the content and the absorbancy of specified wavelength for chemical components. By using the automatic sectioning microtome, the kernel of rice sample fixed in paraffin was sequentially sliced with the thickness of $5\;\mutextrm{m}$ after pasting the sliced sectional specimens on an adhesive tape. The chemical components of the specimens, which are placed on the X-Y controlling stage with positioning accuracy of ${\pm}10\;\mutextrm{m}$, were analyzed by the infrared microscope. The 3-D images demonstrated that the zonal protein about $200\mutextrm{m}$ in width was observed mainly at the outer parts of a rice particle, and carbohydrates entirely. These images can be observed by choosing arbitrary observation angle. The result indicated that the developed technique could be applied 3-D information to investigate intrinsic chemical components but also residual pesticides as well as bacteria contamination for agricultural produce.

• 비파괴검사학회지
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• 제35권3호
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• pp.200-205
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• 2015

현대의 컴팩트 반도체 소자들은 정확한 품질검사를 위해 비파괴, 고분해능의 검사 장비가 요구되고 있다. 검사 장비 중 고분해능 적외선 대물렌즈와 적외선 센서로 구성된 초정밀 열영상 현미경은 반도체 내부의 결함에서 발생되는 국소적 열원의 위치와 깊이 정보를 얻는데 유용하게 활용되고 있다. 본 연구에서는 위 상잠금기법이 적용된 적외선열영상 현미경을 이용하여 다층구조로 된 반도체 소자 내부 열원의 위치와 깊이 정보에 대해 분석하였다. 시편은 내부에 3개의 열원을 포함한 TSV(through silicon via technology) 기반 4단 적층구조로서 측정 표면으로부터 열원의 깊이는 $240{\mu}m$이다. 본 실험에서는 위상잠금기법을 통해 시편 내부열원의 위치와 깊이를 정확히 찾을 수 있는 초점면 위치, 노출시간 그리고 위상잠금주파수 등 최적의 조건을 찾고 그 조건에서 적외선 대물렌즈와 시편의 거리 변화에 따른 위상 변이와 깊이 정보에 대한 영향을 알아보았다. 이와 같은 반도체 내부결함에 의한 열원의 위치와 깊이 분석에 대한 연구는 품질검사용 열영상 분석장비 개발에 큰 도움을 줄 것으로 예상한다.

• 진공이야기
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• 제2권1호
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• pp.17-20
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• 2015

In this article, a historical and scientific review on the development of an ultrafast electron microscope is supplied, and the challenges in further improvement of time resolution under sub-picosecond or even sub-femtosecond scale is reviewed. By combining conventional scanning electron microscope and femtosecond laser technique, an ultrafast electron microscope was invented. To overcome its temporal resolution limit which originates from chromatic aberration and Coulomb repulsion between individual electrons, a generation of electron pulse via strong-field photoemission has been investigated thoroughly. Recent studies reveal that the field enhancement and field accumulation associated with the near-field formation at sharply etched metal nanoprobe enabled such field emission by ordinary femtosecond laser irradiation. Moreover, a considerable acceleration reaching 20 eV with near-infrared laser and up to 300 eV acceleration with mid-infrared laser was observed, and the possibility to control the amount of acceleration by varying the incident laser pulse intensity and wavelength. Such findings are noteworthy because of the possibility of realizing a sub-femtosecond, few nanometer imaging of nanostructured sample.in silicon as thermoelectric materials.

• 한국정밀공학회:학술대회논문집
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• 한국정밀공학회 2012년도 춘계학술대회 논문집
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• pp.827-828
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• 2012

• 산업경영시스템학회지
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• 제36권2호
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• pp.49-55
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• 2013

When developing a product, ensuring the quality and reliability is essential. Reliability process is always underestimated compared to its importance, especially in the field of domestic medical devices. In this paper, reliability process developed for near-infrared solid microscope, based on a variety of existing practices and other product process. The following findings were obtained as research progressed. First, learning about the medical equipment needed to assure the quality and reliability standards. Second, reliability process established to design a product in the field of medical devices.

• 한국정밀공학회지
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• 제27권12호
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• pp.15-21
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• 2010

Recently, there is a demand for a thermal imaging microscope in the medical field as well as the semi-conductor industry Although the demand of the advanced thermal imaging microscope has been increased, it is very difficult to obtain the technology of developing a thermal camera, because it is used for defense industry. We developed the ${\times}5$ zoom microscope which has $3\;{\mu}m$ spatial resolution to research the design and fabrication of the IR (Infrared) optical system. The optical system of the IR microscope consists of four spherical lenses and four aspheric lenses. We verified individual sensitivity of each optical parameter as the first order approach to the analysis. And we also performed structure and vibration analysis. The optical elements are fabricated using Freeform 700A. The measurement results of surface roughness and form accuracy using NT 2000 and UA3P are Ra 2.36 nm and P-V $0.13\;{\mu}m$. Finally we ascertained resolution power of $3\;{\mu}m$ using USAF (United State Air Force) 1951 IR resolution test chart.

• 한국염색가공학회지
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• 제21권3호
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• pp.19-25
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• 2009

Polymerization of tetraethoxysilane on a glass substrate was investigated by remote microwave plasma using argon with portions of nitrous oxide as carrier gas. Transparent layer like a thickness of 0.5 ${\mu}m$ 3 ${\mu}m$ were obtained, differing in chemical composition, depending on plasma power and treatment time as well as on ageing time. In general the milder the treatment and the shorter the ageing was, the higher was the content of organic structural elements in the layer. We have identified that the chemical structure of our samples composed of mainly Si O and Si C groups containing aliphatics, carbonyl groups. These results were obtained by X ray photon spectroscopy, Fourier transformed infrared spectroscopy, and scanning electron microscope combined with Energy dispersive X ray spectroscopy.

• 한국화재조사학회논문지
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• 제11권1호
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• pp.37-40
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• 2008

본 연구는 저압 분전함내에서 발생한 사고사례를 분석하여 사고의 메커니즘과 사고특성 등을 연구하여 사고 패턴을 제시함으로서 전기설비 사고 원인 분석 및 진단을 위한 자료를 확보하고자 하였다. 이를 위해 금속현미경, X-ray, FI-IR 등의 분석을 하였다.

• 한국화재소방학회:학술대회논문집
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• 한국화재소방학회 2008년도 춘계학술논문발표회 논문집
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• pp.269-272
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• 2008

This paper deals with damage patterns of cabinet panel for low voltage deteriorated by flame. In order to analyze damage patterns, we used Metallurgical Microscope, x-ray system, and Fourier Transform Infrared spectroscopy. Firstly, Metallurgical microscope was used for analysis of electrical causes, such as electric short and overload. Secondly, X-ray system was used for analysis of internal characteristics of circuit breakers. Lastly, Fourier Transform Infrared spectroscopy was used for analysis of damage direction by flame. The following results were obtained.

• 대한치과보철학회지
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• 제50권1호
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• pp.53-60
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• 2012

연구 목적: 본 연구는 치과영역에서 많이 사용되는 비귀금속 합금인 니켈-크롬 합금을 산소-아세틸렌 불꽃 납착법과 적외선 용접법을 이용해 용접하고 용접부 및 그 주변을 광학 현미경과 EPMA (Electron Probe Micro Analyzer, 전자미세현미분석기)를 통해 관찰하여 용접방법이 금속의 성상(性狀)에 미치는 영향을 조사하였다. 연구 재료 및 방법: 니켈-크롬 합금을 이용하여 3.0 mm 직경, 30 mm 길이의 시편을 제작하였다. 시편은 산소-아세틸렌 불꽃 납착법, 적외선 용접법의 두 개의 그룹으로 분류하였다(n=4). 시편을 low-speed disc로 자른 후 각각을 산소-아세틸렌 토치와 적외선 용접기를 이용해 용접하였다. 용접과 마무리 후에 시편을 광학현미경으로 용접부, 5 mm 떨어진 지점, 10 mm 떨어진 지점의 3개 부위에서 관찰하고EPMA를 이용하여 분석하였다. 결과: 광학 현미경 관찰 결과 용접부에서는 두 방법 모두 다수의 파절선이 관찰되었고, 10.0 mm 떨어진 거리에서는 두 방법 모두 시편의 표면에서 파절선이 발견되지 않았으나 5.0 mm 떨어진 거리에서는 적외선 용접법에서는 시편의 표면이 다소 거칠기는 했으나 파절선은 발견되지 않았고 산소-아세틸렌 불꽃 납착 표면에서는 다수의 파절선이 관찰되었다. EPMA분석에서 적외선 용접법에 의한 방법에서는 용접부위, 5.0 mm 떨어진 부위, 10.0 mm 떨어진 부위 모두에서 시편 금속의 구성성분 비율이 제조사의 구성성분 비율과 10.0%이내의 오차를 나타내었고, 산소-아세틸렌 불꽃 납착법에서는 5.0, 10.0 mm에서는 시편금속의 구성성분이 10.0%이내의 오차를 나타내었으나, 납착 부위에서는 Ni만이 검출되어 적외선 용접법과는 차이를 나타내었다. 이와 같은 분석결과를 살펴 볼 때 적외선 용접을 시행한 시편의 구성 성분이 모금속의 성분과 유사한 것 을알수있었다. 결론: 이상의 결과로 산소-아세틸렌 불꽃 납착법보다 적외선 용접법을 이용할 때, 금속의 결함 및 성분의 변화가 적어서 좀 더 우수한 금속 보철물의 제작이 가능할 것으로 사료된다.