Journal of the Korean Data and Information Science Society
/
v.17
no.4
/
pp.1375-1386
/
2006
In life testing, the lifetimes of test units under the usual conditions are so long that life testing at usual conditions is impractical. Testing units are subjected to conditions of high stress to yield informations quickly. In this paper, the inferences of parameters on the three step-stress accelerated life testing are studied. The two-parameter exponential distribution with a failure rate function that a log-quadratic function of stress and the tempered failure rate model are considered. We obtain the maximum likelihood estimators of the model parameters and their confidence regions. A numerical example will be given to illustrate the proposed inferential procedures.
Yang, Il Young;Yu, Sang Woo;Park, Jung Won;Joe, Won-Seo
Journal of Applied Reliability
/
v.14
no.2
/
pp.93-96
/
2014
RFID (Radio Frequency IDentification) system is recognition technology which can maintain various object's information. Reliability of RFID tags is the most important factor in RFID system. In this paper, we proposed ALT (Accelerated Life Test) method for UHF RFID tags. Temperature and humidity were adopted as stress factors and the accelerated life tests were conducted in three different conditions. We performed failure analysis for identifying failure mechanism and statistical analysis of test data. In the statistical analysis, we employed Inverse Power law for relationship between tag's life and stress. Through the statistical analysis, we proposed acceleration factor for several levels of temperature-humidity. The reliability qualification test plans were also designed for the tag's target reliability.
This paper describes a highly accelerated life test (HALT, USPCBT) method for rapid qualification testing of STH PWB(Silver Through Hole Printed Wiring Boards). This method was carried out to be an alternative to the present time-consuming standard 1344 hours life testing(THB). The accelerated life test conditions were $121^{\circ}C$/95%R.H. at 50V bias and without bias. Their results are compared with those observed in the standard 1344 hours life test at $40^{\circ}C$/95%R.H. at 50V bias and without bias. The studies were focused on the samples time-to-failure as well as the associated conduction and failure mechanisms. The abrupt drop of insulation resistance is due to the absorption of water vapour. And the continuous drop of insulation resistance is due to the Ag migration. The ratios of time-to-failure of HALT(USPCBT) to THB were 25 and 11 at 50V bias and without bias respectively.
Park, Byung-Chan;Chang, Il-Ho;Back, Seung-Jun;Son, Young-Kap;Jung, Eun-Jin;Hwang, Taek-Sung
Journal of the Korea Institute of Military Science and Technology
/
v.12
no.6
/
pp.719-726
/
2009
A delay system in fuze for high explosive shell is an important safety device, but failure in the delay system usually causes failure of the shell. Root-cause analysis of failure in the delay system is required since failure in over 10-years stored delay system recently occurs. In this paper, failure in the delay system was reproduced experimentally to examine aged characteristics of the delay system, and the failed delay system shows the same characteristics as ones of failed delay systems in field. Based on the reproduced experiments, accelerated life testings and the data analysis of failure times of delay systems were performed to predict the storage lifetime.
The phenomenological evolution laws of damage can be defined either based on residual life or residual strength. The failure of a specimen can be defined immediately after or before fracture. The former is called in this paper by "failure defined by approach I" and the latter "failure defined by approach II." Usually at failure there is a discontinuity of loading variables and, because of this, damage at failure is discontinuous. Therefore the values of damage at failure by two different approaches are not the same. Based on this idea the sequence effects of the phenomenological evolution law of damage given by $dD/dN=g(D)f({\Phi})$ were studied. Thin-walled graphite/epoxy tubes consisting of four of $[{\pm}45]_s$ laminates were used for the experimental study of sequence effects and the effects of mean stress on fatigue life. It was found that the sequence effects in two step uniaxial fatigue for $[{\pm}45]_s$ graphite/epoxy tubular specimen showed that a high-low block loading sequence was less damaging than a low-high one.
This paper presents a study on the analyzing reliability of smoke fire detector using accelerated life test. In general, the smoke fire detector is broken by dust which flow in smoke detection chamber. In order to conduct accelerated life test of smoke fire detector dust is set accelerated factor in this paper. The dust is fly-ash which is test particle 5th regulated by KS A 0090. The dust accelerated level is 60 g, 180 g and 360 g and failure time is measured by smoke sensitivity testing. It is considered to failure of detector if detector don't operate within 30 secconds when subjected to an air stream having a velocity of 20 cm/s~40 cm/s containing smoke with a concentration of 15% of rate of light-response of 1 m. The goodness of fit test and mean life prediction conduct using the failure time. The result show that life distribution fits the weibull distribution for failure time data and the mean lifes calculate 22.5 year in domestic product and 14.7 years in overseas product applied dust stress only.
Transactions of the Korean Society of Machine Tool Engineers
/
v.15
no.4
/
pp.63-68
/
2006
This research presents the reliability analysis of the pneumatic actuator within the tape feeder that is used to transfer the correct force to linked parts during l.0E+7 cycles. First, the degradation analysis for thrust and air leakage is executed to obtain the failure data of a product based on its performance over time. Second, once the parameters has been calculated using the weibull 2-parameter distribution and MLE(Maximum Likelihood Estimation), information related to life such as reliability, failure rate, probability density function is estimated. Finally, MTTF(Mean Time To Failure) and $B_{10}$ life of actuators are calculated. MTTF means the mean life at the confidence level and $B_{10}$ life refers to the time by which 10% of the product would fail. In this study, failure causes and solutions are examined using the reliability analysis.
The reliability issue of IGBT is a concern for researchers given the critical role the device plays in the safety of operations of the converter system. The reliability of power devices can be estimated from the intermittent life test, which aims to simulate typical applications in power electronics in an accelerated manner to obtain lifetime data. However, the test is time-consuming, as testing conditions are not well considered and only rough provisions have been made in the current standards. Acceleration of the test by changing critical test conditions is controversial due to the activation of unexpected failure mechanisms. Therefore, full investigations were conducted on critical test conditions of intermittent life test. A design optimization process for IGBT intermittent life testing program was developed to save on test times without imposing additional failure mechanisms. The applicability of the process has been supported by a number of tests and failure analysis of the test results. The process proposed in this paper can guide the test process for other power semiconductors.
Many researches related to the reliability of Pb-free solder joints with PCB (printed circuit board) surface finish under thermal or vibration stresses are in progress, because the electronics is operating in hash environment. Therefore, it is necessary to assess Pb-free solder joints life with PCB surface finish under thermal and mechanical stresses. We have investigated 4-points bending fatigue lifetime of Pb-free solder joints with OSP (organic solderability preservative) and ENIG (electroless nickel and immersion gold) surface finish. To predict the bending fatigue life of Sn-3.0Ag-0.5Cu solder joints, we use the test coupons mounted 192 BGA (ball grid array) package to be added the thermal stress by conducting thermal shock test, 500, 1,000, 1,500 and 2,000 cycles, respectively. An 4-point bending test is performed in force controlling mode. It is considered that as a failure when the resistance of daisy-chain circuit of test coupons reaches more than $1,000{\Omega}$. Finally, we obtained the solder joints fatigue life with OSP and ENIG surface finish using by Weibull probability distribution.
Aluminum foams sandwich panel (AFSP) has been used in engineering field, where cyclic loading is used in most of the applications. In this paper, the fatigue life of AFSP prepared by the bonding method was investigated through a three-point bending test. The mathematical statistics method was used to analyze the influence of different plate thicknesses and core densities on the bending fatigue life. The macroscopic fatigue failure modes and damage mechanisms were observed by scanning electron microscopy (SEM). The results indicate that panel thickness and core layer density have a significant influence on the bending fatigue life of AFSP and their dispersion. The damage mechanism of fatigue failure to cells in aluminum foam is that the initial fatigue crack begins the cell wall, the thinnest position of the cell wall or the intersection of the cell wall and the cell ridge, where stress concentrations are more likely to occur. The fatigue failure of aluminum foam core usually starts from the semi-closed unit of the lower layer, and the fatigue crack propagates layer by layer along the direction of the maximum shear stress. The results can provide a reference for the practical engineering design and application of AFSP.
본 웹사이트에 게시된 이메일 주소가 전자우편 수집 프로그램이나
그 밖의 기술적 장치를 이용하여 무단으로 수집되는 것을 거부하며,
이를 위반시 정보통신망법에 의해 형사 처벌됨을 유념하시기 바랍니다.
[게시일 2004년 10월 1일]
이용약관
제 1 장 총칙
제 1 조 (목적)
이 이용약관은 KoreaScience 홈페이지(이하 “당 사이트”)에서 제공하는 인터넷 서비스(이하 '서비스')의 가입조건 및 이용에 관한 제반 사항과 기타 필요한 사항을 구체적으로 규정함을 목적으로 합니다.
제 2 조 (용어의 정의)
① "이용자"라 함은 당 사이트에 접속하여 이 약관에 따라 당 사이트가 제공하는 서비스를 받는 회원 및 비회원을
말합니다.
② "회원"이라 함은 서비스를 이용하기 위하여 당 사이트에 개인정보를 제공하여 아이디(ID)와 비밀번호를 부여
받은 자를 말합니다.
③ "회원 아이디(ID)"라 함은 회원의 식별 및 서비스 이용을 위하여 자신이 선정한 문자 및 숫자의 조합을
말합니다.
④ "비밀번호(패스워드)"라 함은 회원이 자신의 비밀보호를 위하여 선정한 문자 및 숫자의 조합을 말합니다.
제 3 조 (이용약관의 효력 및 변경)
① 이 약관은 당 사이트에 게시하거나 기타의 방법으로 회원에게 공지함으로써 효력이 발생합니다.
② 당 사이트는 이 약관을 개정할 경우에 적용일자 및 개정사유를 명시하여 현행 약관과 함께 당 사이트의
초기화면에 그 적용일자 7일 이전부터 적용일자 전일까지 공지합니다. 다만, 회원에게 불리하게 약관내용을
변경하는 경우에는 최소한 30일 이상의 사전 유예기간을 두고 공지합니다. 이 경우 당 사이트는 개정 전
내용과 개정 후 내용을 명확하게 비교하여 이용자가 알기 쉽도록 표시합니다.
제 4 조(약관 외 준칙)
① 이 약관은 당 사이트가 제공하는 서비스에 관한 이용안내와 함께 적용됩니다.
② 이 약관에 명시되지 아니한 사항은 관계법령의 규정이 적용됩니다.
제 2 장 이용계약의 체결
제 5 조 (이용계약의 성립 등)
① 이용계약은 이용고객이 당 사이트가 정한 약관에 「동의합니다」를 선택하고, 당 사이트가 정한
온라인신청양식을 작성하여 서비스 이용을 신청한 후, 당 사이트가 이를 승낙함으로써 성립합니다.
② 제1항의 승낙은 당 사이트가 제공하는 과학기술정보검색, 맞춤정보, 서지정보 등 다른 서비스의 이용승낙을
포함합니다.
제 6 조 (회원가입)
서비스를 이용하고자 하는 고객은 당 사이트에서 정한 회원가입양식에 개인정보를 기재하여 가입을 하여야 합니다.
제 7 조 (개인정보의 보호 및 사용)
당 사이트는 관계법령이 정하는 바에 따라 회원 등록정보를 포함한 회원의 개인정보를 보호하기 위해 노력합니다. 회원 개인정보의 보호 및 사용에 대해서는 관련법령 및 당 사이트의 개인정보 보호정책이 적용됩니다.
제 8 조 (이용 신청의 승낙과 제한)
① 당 사이트는 제6조의 규정에 의한 이용신청고객에 대하여 서비스 이용을 승낙합니다.
② 당 사이트는 아래사항에 해당하는 경우에 대해서 승낙하지 아니 합니다.
- 이용계약 신청서의 내용을 허위로 기재한 경우
- 기타 규정한 제반사항을 위반하며 신청하는 경우
제 9 조 (회원 ID 부여 및 변경 등)
① 당 사이트는 이용고객에 대하여 약관에 정하는 바에 따라 자신이 선정한 회원 ID를 부여합니다.
② 회원 ID는 원칙적으로 변경이 불가하며 부득이한 사유로 인하여 변경 하고자 하는 경우에는 해당 ID를
해지하고 재가입해야 합니다.
③ 기타 회원 개인정보 관리 및 변경 등에 관한 사항은 서비스별 안내에 정하는 바에 의합니다.
제 3 장 계약 당사자의 의무
제 10 조 (KISTI의 의무)
① 당 사이트는 이용고객이 희망한 서비스 제공 개시일에 특별한 사정이 없는 한 서비스를 이용할 수 있도록
하여야 합니다.
② 당 사이트는 개인정보 보호를 위해 보안시스템을 구축하며 개인정보 보호정책을 공시하고 준수합니다.
③ 당 사이트는 회원으로부터 제기되는 의견이나 불만이 정당하다고 객관적으로 인정될 경우에는 적절한 절차를
거쳐 즉시 처리하여야 합니다. 다만, 즉시 처리가 곤란한 경우는 회원에게 그 사유와 처리일정을 통보하여야
합니다.
제 11 조 (회원의 의무)
① 이용자는 회원가입 신청 또는 회원정보 변경 시 실명으로 모든 사항을 사실에 근거하여 작성하여야 하며,
허위 또는 타인의 정보를 등록할 경우 일체의 권리를 주장할 수 없습니다.
② 당 사이트가 관계법령 및 개인정보 보호정책에 의거하여 그 책임을 지는 경우를 제외하고 회원에게 부여된
ID의 비밀번호 관리소홀, 부정사용에 의하여 발생하는 모든 결과에 대한 책임은 회원에게 있습니다.
③ 회원은 당 사이트 및 제 3자의 지적 재산권을 침해해서는 안 됩니다.
제 4 장 서비스의 이용
제 12 조 (서비스 이용 시간)
① 서비스 이용은 당 사이트의 업무상 또는 기술상 특별한 지장이 없는 한 연중무휴, 1일 24시간 운영을
원칙으로 합니다. 단, 당 사이트는 시스템 정기점검, 증설 및 교체를 위해 당 사이트가 정한 날이나 시간에
서비스를 일시 중단할 수 있으며, 예정되어 있는 작업으로 인한 서비스 일시중단은 당 사이트 홈페이지를
통해 사전에 공지합니다.
② 당 사이트는 서비스를 특정범위로 분할하여 각 범위별로 이용가능시간을 별도로 지정할 수 있습니다. 다만
이 경우 그 내용을 공지합니다.
제 13 조 (홈페이지 저작권)
① NDSL에서 제공하는 모든 저작물의 저작권은 원저작자에게 있으며, KISTI는 복제/배포/전송권을 확보하고
있습니다.
② NDSL에서 제공하는 콘텐츠를 상업적 및 기타 영리목적으로 복제/배포/전송할 경우 사전에 KISTI의 허락을
받아야 합니다.
③ NDSL에서 제공하는 콘텐츠를 보도, 비평, 교육, 연구 등을 위하여 정당한 범위 안에서 공정한 관행에
합치되게 인용할 수 있습니다.
④ NDSL에서 제공하는 콘텐츠를 무단 복제, 전송, 배포 기타 저작권법에 위반되는 방법으로 이용할 경우
저작권법 제136조에 따라 5년 이하의 징역 또는 5천만 원 이하의 벌금에 처해질 수 있습니다.
제 14 조 (유료서비스)
① 당 사이트 및 협력기관이 정한 유료서비스(원문복사 등)는 별도로 정해진 바에 따르며, 변경사항은 시행 전에
당 사이트 홈페이지를 통하여 회원에게 공지합니다.
② 유료서비스를 이용하려는 회원은 정해진 요금체계에 따라 요금을 납부해야 합니다.
제 5 장 계약 해지 및 이용 제한
제 15 조 (계약 해지)
회원이 이용계약을 해지하고자 하는 때에는 [가입해지] 메뉴를 이용해 직접 해지해야 합니다.
제 16 조 (서비스 이용제한)
① 당 사이트는 회원이 서비스 이용내용에 있어서 본 약관 제 11조 내용을 위반하거나, 다음 각 호에 해당하는
경우 서비스 이용을 제한할 수 있습니다.
- 2년 이상 서비스를 이용한 적이 없는 경우
- 기타 정상적인 서비스 운영에 방해가 될 경우
② 상기 이용제한 규정에 따라 서비스를 이용하는 회원에게 서비스 이용에 대하여 별도 공지 없이 서비스 이용의
일시정지, 이용계약 해지 할 수 있습니다.
제 17 조 (전자우편주소 수집 금지)
회원은 전자우편주소 추출기 등을 이용하여 전자우편주소를 수집 또는 제3자에게 제공할 수 없습니다.
제 6 장 손해배상 및 기타사항
제 18 조 (손해배상)
당 사이트는 무료로 제공되는 서비스와 관련하여 회원에게 어떠한 손해가 발생하더라도 당 사이트가 고의 또는 과실로 인한 손해발생을 제외하고는 이에 대하여 책임을 부담하지 아니합니다.
제 19 조 (관할 법원)
서비스 이용으로 발생한 분쟁에 대해 소송이 제기되는 경우 민사 소송법상의 관할 법원에 제기합니다.
[부 칙]
1. (시행일) 이 약관은 2016년 9월 5일부터 적용되며, 종전 약관은 본 약관으로 대체되며, 개정된 약관의 적용일 이전 가입자도 개정된 약관의 적용을 받습니다.