Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.7
no.3
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pp.37-44
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2000
The corrosion behavior of aluminum pad coated with epoxy molding compound (EMC) was investigated using electrochemical impedance spectroscopy (EIS). The impedance change was evaluated by the absorption of deionized water (DI water) to EMC coating and the interface between EMC and aluminum. During the absorption a decrease in resistance and thus an increase in capacitance of EMC as well as the interface of EMC/Al could be observed. Up to about 170 hours of absorption the EMC was saturated with the water molecules and ions generated from EMC. Subsequently the ionic water was penetrated to the interface and finally the corrosion of aluminum was occurred by the Dl water and ions. From measuring the adhesion strength with the Dl water absorption it was expected that the saturation of water and ions in the interface decreased the adhesion strength. The higher filler content of EMC should be necessary to inhibit the corrosion of aluminum electrode in microelectronic packages.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.29
no.4
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pp.83-87
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2022
Recently, as the thickness of the semiconductor package becomes thinner, warpage has become a major issue. Since the warpage is caused by differences in material properties between package components, it is essential to precisely evaluate the material properties of the EMC(Epoxy molding compound), one of the main components, to predict the warpage accurately. Especially, the cure shrinkage of the EMC is generated during the curing process, and among them, the effective cure shrinkage that occurs after the gelation point is a key factor in warpage. In this study, the gelation point of the EMC was defined from the dissipation factor measured using the dielectric sensor during the curing process similar with actual semiconductor package. In addition, DSC (Differential scanning calorimetry) test and rheometer test were conducted to analyze the dielectrometry measurement. As a result, the dielectrometry was verified to be an effective method for monitoring the curing status of the EMC. Simultaneously, the strain transition of the EMC during the curing process was measured using the FBG (Fiber Bragg grating) sensor. From these results, the effective cure shrinkage of the EMC during the curing process was measured.
Silica for Epoxy Molding Compound (EMC) was coated via plasma-polymerization with RF plasma (13.56 MHz) as a function of treatment time, power and pressure. 1,3-diaminopropane, allylamine, pyrrole, 1,2-epoxy-5-hexene, allylmercaptan or allylalcohol were utilized for plasma polymerization coating and adhesion of coated silica was evaluated by measuring flexural strength. CTE and water absorption of EMC were also measured, and fracture surface of flexural specimen was analyzed by SEM in order to elucidate the failure mode. The plasma polymer coated silica was analyzed by FT-IR and reactivity of plasma polymer coating with epoxy resin was evaluated with DSC in order to investigate the adhesion mechanism. The EMC prepared from the silica coated with 1,3-diaminopropane or allylamine exhibited high flexural strength, low CTE, and low water absorption compared with the control sample, and also exhibited 100% cohesive failure mode. These results can be attributed to the chemical reaction between the functional groups in the plasma polymer coating and epoxy resin, and also consistent with the results from FT-IR and DSC analysis.
A polymeric adhesion promoter was synthesized to improve the adhesive strength of the Ni lead frame/epoxy composite. Poly(itaconic acid-co-acrylamide) (IAcAAM) was prepared by copolymerizing itaconic acid and acrylamide. We compared the adhesive strength between the Ni lead frame and epoxy composite according to the molecular weight of IAcAAM. The molecular weight of IAcAAM was controlled using an initiator, which made it possible to use IAcAAM in the epoxy molding compound (EMC) manufacturing process by modulating the melting temperature. The adhesive strength of Ni lead frame/epoxy composite increased with the addition of IAcAAM to the epoxy composite. In addition, as the molecular weight of IAcAAM increased, the adhesive strength of the Ni lead frame/epoxy composite slightly increased. We confirmed that IAcAAM with an appropriate molecular weight can be used in the EMC manufacturing process and increase the adhesive strength of the Ni lead frame/epoxy composite.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.7
no.2
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pp.7-12
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2000
Copper-based leadframe sheets were oxidized in a black-oxide forming solution, and molded with epoxy molding compound (EMC) to form sandwiched double-cantilever beam (SDCB) specimens. The adhesion strength of leadframe/EMC interface was measured in terms of fracture toughness by using SDCB specimens and the fracture surfaces were analyzed by various equipments such as glancing-angle XRD, AFM, and SEM. Results showed that three types of failure paths, which were closely related to the surface condition of leadframes before molding.
Copper-based leadframe sheets were oxidized in two kinds of hot alkaline solutions to form brown-oxide or black-oxide layer on the surface. The oxide coated leadframe sheets were molded with epoxy molding compound (EMC). After post mold curing, the oxide-coated EMC-leadframe joints were machined to form sandwiched Brazil-nut (SBN) specimens. The SBN specimens were used to measure the fracture toughness of the EMC/leadframe interfaces under mixed-mode (mode I + mode II) loading conditions. Fracture surfaces were analyzed by various equipment to investigate failure path. The results revealed that the failure paths were strongly dependent on the oxide type. In case of brown oxide, hackle-type failure was observed and failure path lay near the EMC/CuO interface with a little inclining to CuO at all case. On the other hand, in case of black oxide, quite different failure path was observed with respect to the distance from the tip of pre-crack and phase angle. Different failures occurred with oxide type is presumed to be due to the difference in microstructure of the oxides.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.36
no.4
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pp.347-355
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2003
Roughening of metal surfaces frequently enhances the adhesion strength of metals to polymers by mechanical interlocking. When a failure occurs at a roughened metal/polymer interface, the failure prone to be cohesive. In a previous work, an adhesion study on a roughened metal (oxidized copper-based leadframe)/polymer (Epoxy Molding Compound, EMC) interface was carried out, and the correlation between adhesion strength and failure path was investigated. In the present work, an attempt to interpret the failure path was made under the assumption that microvoids are formed in the EMC as well as near the roots of the CuO needles during compression-molding process. A simple adhesion model developed from the theory of fiber reinforcement of composite materials was introduced to explain the adhesion behavior of the oxidized copper-based leadframe/EMC interface and failure path. It is believed that this adhesion model can be used to explain the adhesion behavior of other similarly roughened metal/polymer interfaces.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.56
no.1
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pp.77-83
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2023
The reliability of leadframe-based semiconductor package depends on the adhesion between metal and epoxy molding compound (EMC). In this study, the Ag surface was electrochemically treated in a solution containing silanes in order to improve the adhesion between Ag and epoxy substrate. After electrochemical treatment, the thin silane layer was deposited on the Ag surface, whereby the peel strength between Ag and epoxy substrate was clearly improved. The improvement of peel strength depended on the functional group of silane, implying the chemical linkage between Ag and epoxy.
Due to the inherently poor adhesion strength of Cu-based leadframe/EMC(Epoxy Molding Compound) interface, popcorn-cracking phenomena of thin plastic packages frequently occur during the solder reflow process. In this study, in order to enhance the adhesion strength of Cu-based leadframe/EMC interface, brown-oxide layer was formed on the leadframe surface by immersing of leadframe sheets in hot alkaline solution, and the adhesion strength of leadframe/EMC interface was measured by using SDCB(Sandwiched Double Cantilever Beam) and SBN(Sandwiched Brazil-Nut) specimens. Results showed that brown oxide treatment of leadframe introduced fine acicular CuO crystals on the leadframe surface and improved the adhesion strength of leadframe/EMC interface. Enhancement of adhesion strength was directly related to the thickening kinetics of oxide layer. This might be due to the mechanical interlocking of fine acicular CuO crystals into EMC.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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