차세대 노광공정용 Ta박막의 $0.2\mu\textrm{m}$ 미세패턴 식각특성 연구
(Study on the Etching Characteristics of $0.2\mu\textrm{m}$ fine Pattern of Ta Thin film for Next Generation Lithography Mask)
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- 한국재료학회지
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- 제10권12호
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- pp.819-824
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- 2000