• 제목/요약/키워드: Electroless Ni-P

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팔라듐 표면처리를 통한 Massive Spalling 현상의 억제 (Retardation of Massive Spalling by Palladium Layer Addition to Surface Finish)

  • 이대현;정보묵;허주열
    • 대한금속재료학회지
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    • 제48권11호
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    • pp.1041-1046
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    • 2010
  • The reactions between a Sn-3.0Ag-0.5Cu solder alloy and electroless Ni/electroless Pd/immersion Au (ENEPIG) surface finishes with various Pd layer thicknesses (0, 0.05, 0.1, 0.2, $0.4{\mu}m$) were examined for the effect of the Pd layer on the massive spalling of the $(Cu,Ni)_6Sn_5$ layer during reflow at $235^{\circ}C$. The thin layer deposition of an electroless Pd (EP) between the electroless Ni ($7{\mu}m$) and immersion Au ($0.06{\mu}m$) plating on the Cu substrate significantly retarded the massive spalling of the $(Cu,Ni)_6Sn_5$ layer during reflow. Its retarding effect increased with an increasing EP layer thickness. When the EP layer was thin (${\leq}0.1{\mu}m$), the retardation of the massive spalling was attributed to a reduced growth rate of the $(Cu,Ni)_6Sn_5$ layer and thus to a lowered consumption rate of Cu in the bulk solder during reflow. However, when the EP layer was thick (${\geq}0.2{\mu}m$), the initially dissolved Pd atoms in the molten solder resettled as $(Pd,Ni)Sn_4$ precipitates near the solder/$(Cu,Ni)_6Sn_5$ interface with an increasing reflow time. Since the Pd resettlement requires a continuous Ni supply across the $(Cu,Ni)_6Sn_5$ layer from the Ni(P) substrate, it suppressed the formation of $(Ni,Cu)_3Sn_4$ at the $(Cu,Ni)_6Sn_5/Ni(P)$ interface and retarded the massive spalling of the $(Cu,Ni)_6Sn_5$ layer.

무전해 Ni-Zn-P 도금의 속도 및 안정성에 미치는 첨가제의 영향 (Effect of Additives on Deposition Rate and Stability of Electroless Black Ni-Zn-P Plating)

  • 오영주;황경진;정원용;이만승
    • 한국표면공학회지
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    • 제36권4호
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    • pp.317-323
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    • 2003
  • The effect of additives such as complexing agents, stabilzers and boric acid on the bath stability and the deposition rate of electroless black Ni-Zn plating has been examined. The deposits obtained became black and showed an amorphous structure. The significant increasing in the deposition rate was not found when only glycine and citric acid were used as complexing agents. The deposition rate increased up to 3 and 4 times by adding malic acid and glycolic acid as an additional complexing agent, respectively. The stabilizers and the boric acid, however, had little influence on the deposition rate.

다이아몬드 분말상에 무전해 Ni-B 도금을 위한 계면활성제의 영향 (Effect of Surfactant in Electroless Ni-B Plating for Coating on the Diamond Powder)

  • 양창열;유시영;문환균;이정호;유봉영
    • 한국표면공학회지
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    • 제50권3호
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    • pp.177-182
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    • 2017
  • The properties of electroless Ni-B thin film on diamond powder with different parameters (temperature, pH, surfactant etc.) were studied. The surface morphology, structure and composition distribution of the Ni-B film were observed by field effect scanning electron microscope (FE-SEM), energy-dispersive spectrometer (EDS), X-ray diffraction (XRD) and Auger electron spectroscopy (AES). The growth rate of Ni-B film was increased with increase of bath temperature. The B content in Ni-B film was reduced with increase of bath pH. As a result the structure of Ni-B film was changed from amorphous to crystalline structure. The PVP in solution plays multi-functional roles as a dispersant and a stabilizer. The Ni-B film deposited with adding 0.1 mM-PVP was strongly introduced an amorphous structure with higher B content (25 at.%). Also the crystallite size of Ni-B film was reduced from 12.7 nm to 5.4 nm.

무전해 니켈 도금법으로 제조된 니켈-다이아몬드 복합분체의 특성 (Characteristics of Nickel-Diamond Composite Powders by Electroless Nickel Plating)

  • 안종관;김동진;;이재령;이익규;정헌생
    • 한국분말재료학회지
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    • 제11권3호
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    • pp.224-232
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    • 2004
  • Ni-diamond composite powders with nickel layer of round-top type on the surface of synthetic diamond (140/170 mesh) were prepared by the electroless plating method (EN) with semi-batch reactor. The effects of nickel concentration, feeding rates of reductant, temperature, reaction time and stirring speeds on the weight percentage and morphology of deposited Ni, mean particle size and specific surface area of the composite powders were investigated by Atomic Adsortion Spectrometer, SEM-EDX, PSA and BET. It was found that nucleated Ni-P islands, acted as catalytic sites for further deposition and grown into these relatively thick layers with nodule-type on the surface of diamond by a lateral growth mechanism. The weight percentage of Ni in the composite powder increased with reaction time, feeding rate of reductant and temperature, but decreased with stirring speed. The weight percentage of Ni in Ni-diamond composite powder was 55% at 150 min., 200 rpm and 7$0^{\circ}C$ .

전해Ni, 무전해 Ni pad에서의 Cu 함량에 따른 접합 신뢰성에 관한 연구 (A Study of Joint Reliability According to Various Cu Contents between Electrolytic Ni and Electroless Ni Pad Finish)

  • 이현규;천명호;추용철;오금술
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제22권3호
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    • pp.51-56
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    • 2015
  • 솔더 조인트의 신뢰성 강화를 위해서 다양한 pad finish material이 사용되고 있으며, 최근에는 Electroless Ni Electroless Pd Immersion Gold (이하 ENEPIG) pad가 많이 사용되고 있다. 따라서, 본 연구는 상용화 되어 사용중인 Electrolytic Ni (soft Ni) pad와 최근 이슈가 되고 있는 ENEPIG pad에 대한 신뢰성 평가에 관한 것으로, 다양한 Cu 함량에 따른 거동을 관찰 하였다. Reflow 후 솔더와 pad간의 접합층은 $Cu_6Sn_5$에 Ni이 치환된 형태의 금속간 화합물로 구성되어 있었으며, ENEPIG pad의 경우, 접합층과 Ni layer 사이에 $Ni_3P$ (dark layer) layer가 관찰 되었다. 또한, Cu 함량에 따라 Dark layer의 두께를 제어할 수 있었다. 충격 낙하 시험 후, 파괴모드를 관찰한 결과 soft Ni pad와 ENEPIG pad에서 서로 다른 파괴모드가 관찰 되었으며, soft Ni의 경우, 1차 IMC와 2차 IMC 경계에서 파괴가 관찰 되었고, ENEPIG pad의 경우, dark layer에서 파괴가 관찰 되었다. IMC와 pad material, bulk 솔더와의 lattice mismatch에 의해 불안정한 계면이 존재하며, 이는 연속적인 외부 충격에 의해 가해진 열적, 물리적 스트레스를 IMC 계면으로 전송하기 때문에, 솔더의 신뢰성 향상을 위해서는 솔더 벌크의 제어와 IMC의 두께 및 형상의 제어는 필요하다.

Electroless Ni-PUBM과 Sn-based 무연솔더의 계면반응에 미치는 Bi합금원소의 영향 (Effects of Bi in Sn-based Pb free solder on interfacial reaction and Electroless Ni-PUBM)

  • 조문기;전영두;백경욱;김중도;김용남
    • 한국마이크로전자및패키징학회:학술대회논문집
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    • 한국마이크로전자및패키징학회 2003년도 기술심포지움 논문집
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    • pp.128-132
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    • 2003
  • 무전해 Ni-P UBM과 3가지 경우의 무연 솔더간의 계면연구를 통해 Bi가 솔더의 합금원소로 들어감에 따라 계면반응에 어떠한 영향을 줄 수 있는 가를 연구했다. 3가지 다른 무연 솔더는 Bi가 각각 $0wt\%,\;4.8wt\%,\;58wt\%$들어간 Sn3.5Ag, Sn3.5Ag4.8Bi, Sn58Bi 이다. reflow를 수행한 후에 세 가지 솔더에서 나타나는 계면에서의 IMC는 $Ni_3Sn_4$로서 어떤 다른 솔더도 Bi를 함유한 IMC가 계면에선 관찰되지 않았다. 다만 SnAgBi 솔더의 경우 특이하게 솔더내에서 침상의 $Ni_3Sn_4$가 reflow후에 관찰되었다. 또한 반응속도의 척도가 되는 Ni-P UBM소모속도를 비교해 보면 reflow후의 SnAg와 SnAgBi의 경우에는 비슷하나 SnBi의 경우에는 알서 두 솔더에 비해 눈에 띠게 느림을 관찰하였다. 이러한 Ni-P UBM의 소모경향을 Bi의 함량, 그에 따른 Sn의 상대적인 함량의 관점에서 고찰하고자 한다.

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DMAB에 의한 P형 실리콘 기판 무전해 니켈-붕소 도금 (Electroless Nickel-Boron Plating on p-type Si Wafer by DMAB)

  • 김영기;박종환;이원해
    • 한국표면공학회지
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    • 제24권4호
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    • pp.206-214
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    • 1991
  • In the basic study of selective electroless Ni plating of Si wafers, plating rate and physical properties are investigated to obtain optimum conditions of contact hole filling. Si wafers are excellently activated in the concentration of 0.5M IF, 1mM PdCl2, 2mM EDTA at $70^{\circ}C$, 90sec. The optimum condition of Ni-B deposition on p-type Si wafers is 0.1M NiSO4, 0.11M Citrate, $70^{\circ}C$, pH6.8, 8mM DMAB. The main factor in the sheet resistences variation of films is amorphous and on heat treating matrix was transformed into a stable phase (Ni+Ni3B) at $300-400^{\circ}C$. But pH or DMAB concentration in the plating solution doesn't play role of heat-affected phase change.

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무전해 Ni 도금법을 이용한 전자파 차폐용 도전성 EPDM 고무의 제조 (Preparation of conductive EPDM rubber sheets by electroless Ni-plating for electromagnetic interference shielding applications)

  • 이병우;조수진;양준석
    • 한국결정성장학회지
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    • 제25권5호
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    • pp.193-198
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    • 2015
  • 본 연구에서는 전자파 차폐형 MCT(multi cable transit)의 인서트블록에 사용되는 유연성 EPDM(ethylene propylene diene monomer)고무 상에 무전해 도금을 이용하여 니켈도금을 실시하였다. 도금욕의 공정변수 조절 즉 pH 및 온도에 따라 Ni 도금층의 결정성 및 부착력이 결정되었다. pH와 온도를 달리하여 합성 한 결과 pH 7 및 8, $60{\sim}70^{\circ}C$에서 얻은 도금막들에서 잘 발달된 결정상과 높은 전기 전도도를 가짐을 알 수 있었다. pH 7, $70^{\circ}C$에서 도금 시 가장 높은 부착력 및 전기전도도를 얻을 수 있었으며, 또한 400 MHz~1 GHz 범위에서 우수한 전자파 차단능을 얻을 수 있었다.