Planarization of the free-standing diamond film surface as smooth as possible could be obtained by using the hydrogen plasma etching with the diffusion of the carbon species into the metal alloy (Fe, Cr, Ni). For this process, we placed the free-standing diamond film between the metal alloy and the Mo substrate like a metal-diamond-molybdenum (MDM) sandwich. We set the sandwich-type MDM in a microwave-plasma-enhanced chemical vapor deposition (MPECVD) system. The sandwich-type MDM was heated over ca. 1000 $^{\circ}C$ by using the hydrogen plasma. We call this process as the hydrogen plasma etching with carbon diffusion process. After etching the free-standing diamond film surface, we investigated surface roughness, morphologies, and the incorporated impurities on the etched diamond film surface. Finally, we suggest that the hydrogen plasma etching with carbon diffusion process is an adequate etching technique for the fabrication of the diamond film surface applicable to electronic devices.
Tan, Xing Yan;Jang, Tae Hwan;Kwon, Jin Uk;Kim, Tae Gyu
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.53
no.3
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pp.109-115
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2020
In this study, polycrystalline diamond was synthesized by chemical vapor deposition (CVD). Diamond films were deposited on a-plane sapphire substrates while changing the concentration of methane for hydrogen (CH4/H2), and the concentrations of methane were 0.25, 0.5, 1, 2, 3 and 4 vol%, respectively. Crystallinity and nucleation density according to changes in methane concentration were investigated. At this time, the discharge power, vacuum pressure, and deposition time were kept constant. In order to deposit polycrystalline diamond, the sapphire substrate was etched with sulfuric acid and hydrogen peroxide (ratio 3:7), and the sapphire surface was polished for 30 minutes with 100 nm-sized nanodiamond particles. The deposited diamond thin film was analyzed by a scanning electron microscope (SEM), a Raman spectra, Atomic force microscope (AFM) and an X-ray diffractometer (XRD). By controlling the ratio of methane to hydrogen and performing appropriate pre-treatment conditions, a polycrystalline diamond thin film having excellent crystallinity and nucleation density was obtained.
The diamond thin film was deposited on Si(100) substrate from$CH_3OH/H_2O$mixtured gas using a hot filament chemical vapor deposition(HFCVD) method. The deposition condition for samples has been varried with the$CH_3OH/H_2O$composition. Scanning electron microscopy(SEM) and Raman spectroscopy has been employed for the sample analysis. The diamond sample has been obtained below 20Pa with$CH_3OH/H_2O$mixtured gas. The crystallinity of diamond film improved as the composition $CH_3OH$decreases from 60Vol% to 52Vol%, and the sample structure changed from the cauliflower to the diamond structure. But the sample structure was becomes cauliflower at 50Vol% of in$CH_3OH$ in the $CH_3OH/H_2O$. It was shown that the$CH_3OH$ has threshold composition.
Diamond film was deposited on Mo substrate at atmospheric pressure using a combustion flame apparatus with the addition of $H_2$. With the substrate temperature, the nucleation density of the substrate was increased. At temperatures above $1000^{\circ}C$, some of diamond was partly converted into graphite and etched by hydrogen atoms. With an increase of the $C_2H_2/O_2$ ratio, the nucleation density was increased. But crystals were cauliflower-shaped and a large number of amorphous carbon were deposited. With the addition of $H_2$, the nucleation density of diamond was increased by the improvement of surface activity. Diamond film of high crystallinity was deposited by etching amorphous carbon. With an increase of deposition time, the thickness of diamond film was increased.
DLC(Diamond-Like-Carbon) thin film, one of the solid state amorphous carbon films, has been deposited by the method of PECVD (Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition). The structural features have been characterized using both FT-IR Spectroscopy and Raman Scattering. The film is considered to consist of microcrystalline diamond domains and graphitelike carbon domains, which are interconnected by hydrogenated $sp^3$ tetrahedral carbons. This shows a good agreement with the results by I-Vmeasurements. In I-Vstudy, the sudden increase of current has been observed and this phenomenon is understood to be due to the tunneling effect between graphitelike domains. A characteristic feature related to the $\beta$-SiC has been identified in the study of Raman Scattering for the very thin film, which suggests that a buffer layer forms at the interface of the Si substrate and the carbon film.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.1
no.1
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pp.1-5
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2000
Diamond films have been achieved on Si(100) substrates using helicon plasma chemical vapor deposition(HPCVD), Gas mixtures with methane and hydrogen have been used. The growth characteristics were investigated by means of X-ray photoelectroton spectroscopy, Atomic force microscopy and X-ray diffraction. We obtained a plasma density as high as 10$\^$10/~10$\^$11/ cm$\^$-3/ by helicon source. The smooth(100) faces of submicron diamond crystallites were found to exhibit pyramidal shaped architecture, The XPS spectrum for the nucleation layer indicates the presence of diamond at 285.4 eV, close to the reported value of 285.5 eV for diamond , XRD results demonstrates the existence of polycrystalline diamond as the diamond (111) and (220) peaks.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.32
no.3
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pp.303-306
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1999
On the effect of substrate bias at first stage of diamond synthesis at lower substrate temperature(approximately 673K) using microwave plasma CVD and effect of reaction gas system for the bias enhanced nucleation were studied. The reaction gas was mixture of methane and hydrogen or carbon monoxide and hydrogen. The nucleation density of applied bias -150V using $CH_4-H_2$ reaction gas system, significantly higher than that of $C-H_2$ reaction gas system. When the $CH_4-H_2$ reaction was used, nucleation density was increased because of existence of SiC as a interface for diamond nucleation. By use of this negative bias effect for fabrication of CVD diamond film using two-step diamond growth without pre-treatment, fabrication of the diamond film consist of diamond grains $0.2\mu\textrm{m}$ in diameter was demonstrated
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.14
no.7
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pp.584-589
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2001
Diamond thin films were synthesized on WC-Co substrate by RF PACVD(radio frequency plasma-assisted chemical vapor deposition) technique with H$_2$-CH$_4$-O$_2$ gas mixture. WC-Co substrate was pre-treated in HNO$_3$solution, scratched with 3$\mu\textrm{m}$ diamond paste and exposed in the O$_2$ plasma before deposition. The diamond thin film prepared at 11% oxygen concentration showed the best quality of good adhesion and wear resistance at various oxygen concentration with the fixed 5% CH$_4$ concentration.
In this study, it was tried to deposit diamond films from a mixture of CH4 and H2 by the microwave plasma chemical vapor deposition(MWCVD). The MWCVD process was designed and set up from the 2.45GHz microwave generator. And the diamond film was successfully deposited on silicon wafers from the mixture of methane and hydrogen. The microstructures of the deposited diamond films were studied by using the following deposition variables : (a) methane concentration(0.6-10%), (b) reaction pressure(10-100torr), and (c) the substrate temperature(450-76$0^{\circ}C$).
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers C
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v.53
no.7
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pp.387-394
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2004
Diamond films were deposited on the cemented tungsten carbide WC-Co cutting insert substrates by using both microwave plasma chemical vapor deposition(MWPCVD) and radio frequency plasma chemical vapor deposition (RFPCVD) from $CH_4$$-H_2$$-O_2$ gas mixture. Scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques were used to investigate the microstructure and phase analysis of the materials and Raman spectrometry was used to characterize the quality of the diamond coating. Diamond films deposited using MWPCVD from $CH_4$$-H_2$$-O_2$ gas mixture show a dense, uniform, well faceted and polycrystalline morphology. The compressive stress in the diamond film was estimated to be (1.0∼3.6)$\pm$0.9 GPa. Diamond films which were deposited on the WC-Co cutting insert substrates by RFPCVD from $CH_4$$-H_2$$-O_2$ gas mixture show relatively good adhesion, very uniform, dense and polycrystalline morphology.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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