• Smart Structures and Systems
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• 제19권2호
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• pp.195-202
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• 2017

The aim of this paper is to develop a novel method to determine the severity of a damage in a thin plate. This paper presents a novel fault detection and diagnosis approach employing a new electromagnetic acoustic transducer, called EMAT, together with a complex signal processing method. The method consists in the recognition of a fault that exists within the structure, the fault location, i.e. the identification of the geometric position of damage, and the determining the significance of the damage, which indicates the importance or severity of the defect. The main scientific novelties presented in this paper is: to develop of a new type of electromagnetic acoustic transducer; to incorporate wavelet transforms for signal representation enhancements; to investigate multi-parametric analysis for noise identification and defect classification; to study attenuation curves properties for defect localization improvement; flaw sizing and location algorithm development.

• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2002년도 춘계합동학술대회 논문집
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• pp.35-39
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• 2002

아몰퍼스 자성와이어를 센서헤드로 이용한 금속 구조체의 미세결함 검사에 대해 검토하였다. 측정 방법은 스파이럴 코일의 균일 자장범위에 직선 갭을 가진 동판을 놓고 갭 주위를 관통하는 자속량의 차이를 센서헤드의 유기전압으로 측정하는 것이다. 이 결과 두께 1mm, 갭폭 0.5mm의 동판에 대해 100kHz~600kHz의 주라수 범위에 있어서 갭 근방에서 약 2.5mV의 전압차가 얻어져 결함의 유무를 확인할 수 있었다.

• 한국농업기계학회:학술대회논문집
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• 한국농업기계학회 1996년도 International Conference on Agricultural Machinery Engineering Proceedings
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• pp.852-862
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• 1996

This study was carried out to develop tools to detect defects of apple using machine vision. For the purpose, 6 kinds of frame for color images, R, G, B, h, S, and I frame, and a frame for near infra-red images (NIR frame) were tested first to select one which is useful to segment defect areas from apple images. After then, several methods to classify kind of defect for the segmented defect areas were developed and tested. Five kinds of apple defect -bruise , decay ,fleck worm hole and scar were investigated . The results are as follows: NIR frame was selected as the best one among the 7 kinds of image frame, and R, G and I frames showed favourable result to segment areas of apple defect. Various features of the segmented defect areas were measured to classify the defect areas. Eight kids of feature of the areas-size, roundness, axes length ratio, mean and variance of pixel values, variance of real part of spectrum, mean and variance of power spectrum resulted from spacial ourier transform were observed for the segmented defect areas in the selected 4 frames. then procedures to classify defects using the features were developed for the 4 frames and tested with 75-113 defects on apples. The test resulted that NIR and I frames showed high accuracies to classify the kind of defect as 77% and 76% , respectively.

• 대한기계학회논문집A
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• 제28권7호
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• pp.1047-1054
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• 2004

Internal defects in the glass, like-as micro-voids, micro-cracks, or inclusions, easily cause the failure when the glass is exposed to the shock or the thermal variation. In order to produce the highly reliable glass product, the precision inspection of the defect in the glass is required. For this purpose, this paper proposes a machine vision technique based on the auto-focusing method, which searches the defect and measures the location under the fact that the edge image of defect must be the most clear when the focal plane of CCD camera is coincided with the defect. As for the search index, the gradient indicator is presented. The basic principles are verified through the simulations for the computer-generated defect images, where the affects of defect shape, gray level of background, and the brightness of the defect image are also analyzed. Finally, experimental results for actual glass specimens are shown to confirm the applicability of this method to the actual field.

• 한국정보과학회논문지:소프트웨어및응용
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• 제34권5호
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• pp.447-454
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• 2007

최근 TFT-LCD (Thin film transistor liquid crystal display)패널의 수요증가에 비례하여 공정상 발생하는 LCD 불량의 수도 증가하고 있다. LCD 불량은 배경화면과 미세한 밝기대비 차이를 가지는 패널상의 불균등한 영역으로서 크게 정형과 비정형으로 나누어지며 사람의 눈에 매끄럽지 않게 보여진다. 이러한 불량은 배경과의 대비 차이가 미세하여 기존의 임계수준 검출이나 윤곽선 검출로는 불량을 검출할 수 없다. 본 논문은 비정형 LCD 불량을 독립성분분석, 적응 임계수준 검출 그리고 왜도를 이용하여 검출하는 방법을 제시한다. 본 검출방법은 잡음이 심한 영상에 대해서도 대응력이 뛰어나며, 생산라인에서 성공적으로 적용된다.

• 한국정밀공학회지
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• 제28권5호
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• pp.606-613
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• 2011

In this paper, patterns of laser scattering and detection of micro defects have been investigated based on Rayleigh criterion for silicon wafer in solar cell. Also, a new laser scattering mechanism is designed using characteristics of light scattering against silicon wafer surfaces. Its parameters are to be optimally selected to obtain effective and featured patterns of laser scattering. The optimal parametric ranges of laser scattering are determined using the mean intensity of laser scattering. Scattering patterns of micro defects are investigated at the extracted parameter region. Among a lot of pattern features, both maximum connected area and number of connected component in patterns of laser scattering are regarded as the important information for detecting micro defects. Their usefulness is verified in the experiment.

• 한국정밀공학회:학술대회논문집
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• 한국정밀공학회 2005년도 추계학술대회 논문집
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• pp.24-27
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• 2005

The NDT(Non-Destructive Testing) is valid fur the defect detection of rolling stocks because it can be used to detect defects in invisible places. For example, in case of wheelsets fatigue cracks are initiated in the wheel seat that suffers from fretting fatigue damage. But the conventional ICFPD method can not be applied to detect such cracks in press-fit area of the axle by some technical problems. In this study, we introduced a new ICFPD (Induced Current Focusing Potential Drop) method that can be applied in press-fit area of the axle. And we performed the finite element analysis of the new ICFPD method using measured electromagnetic properties of the wheel and axle. It seems that our approach is very useful f3r the detection of defects in invisible places.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
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• 한국정보통신학회 2019년도 춘계학술대회
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• pp.600-602
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• 2019

금속은 산업 현장 및 일상 생활에서 다양하게 사용되고 있다. 금속은 기계, 자동차 부품, 전선, 로봇 등에 많이 사용된다. 금속은 가공 과정 및 사용자의 사용 환경과 같은 다양한 이유로 금속 표면에 작은 손상을 입게 된다. 본 논문에서는 금속의 결함 검사를 위한 위상 검출을 구현하였다. 금속의 전기전도도를 이용하여 결함의 깊이와 크기에 따라 위상이 변하는 회로를 구성하고, 변화된 위상으로 결함의 깊이와 크기를 추정할 수 있다.

• 한국컴퓨터정보학회:학술대회논문집
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• 한국컴퓨터정보학회 2023년도 제68차 하계학술대회논문집 31권2호
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• pp.21-22
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• 2023

딥러닝 모델은 영상 처리와 불량 감지 등 다양한 분야에서 높은 성능을 발휘하여 산업적으로 매우 중요하고 필수적인 기술이 되었다. 특히, 불량 감지는 제조업 분야에서 제품 품질 향상과 생산성 향상에 핵심적인 역할을 하는 기술로써 큰 관심을 받고 있다. 본 논문에서는 재건축 방식의 대표적인 모델인 DRAEM에 대해 불량 감지 성능을 향상하는 방법을 제시합니다. 이를 위해 컬러 분포의 차이를 최소화하는 손실 함수와 마스킹에 고주파 필터링을 적용하여 노이즈를 제거하는 방법을 활용한다. 이러한 방법들을 통해 DRAEM 모델의 성능을 개선하고, 정확하고 효과적인 불량 감지를 실현할 수 있다.

• 한국정보통신학회논문지
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• 제8권2호
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• pp.449-455
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• 2004

본 논문에서는 입력 정합(input matching) BIST(Built-In Self-Test, 자체내부검사) 회로를 이용한 RF front end(고주파 전단부)의 새로운 결함 검사방법을 제안한다. 자체내부검사 회로를 가진 고주파 전단부는 1.8GHz LNA(Low Noise Amplifier, 저 잡음 증폭기)와 이중 대칭 구조의 Gilbert 셀 믹서로 구성되어 있으며, TSMC 40.25{\mu}m$ CMOS 기술을 이용하여 설계되었다. catastrophic 결함(거폭 결함) 및 parametric 변동 (미세 결함)을 가진 고주파 전단부와 결함을 갖지 않은 고주파 전단부를 판별하기 위해 고주파 전단부의 입력 전압특성을 조사하였다. 본 검사방법에서는 DUT(Device Under Test, 검사대상이 되는 소자)와 자체내부검사회로가 동일한 칩 상에 설계되어 있기 때문에 측정할 때 단지 디지털 전압계와 고주파 전압 발생기만 필요하며, 측정이 간단하고 비용이 저렴하다는 장점이 있다.