Due to the complexity and difficulty in meeting the multiphase flow complexity, similarity, and multiscale characteristics, the mechanism of snow drift is so complicated that the snow deposition prediction is still inaccurate and needs to be far improved. Meanwhile, the validation of prediction methods is also limited due to a lack of field-measured data about snow deposition. To this end, a field measurement activity about snow deposition around a cube with time was carried out, and the snow accumulation process was measured under blowing snow conditions in northwest China. The maximum snow depth, snow profile, and variation in snow depth around the cube were discussed and analyzed. The measured results indicated three stages of snow accumulation around the cube. First, snow is deposited in windward, lateral and leeward regions, and then the snow depth in windward and lateral regions increases. Secondly, when the snow in the windward region reaches its maximum, the downwash flow erodes the snow against the front wall. Meanwhile, snow range and depth in lateral regions have a significant increase. Thirdly, a narrow road in the leeward region is formed with the increase in snow range and depth, which results in higher wind speed and reforming snow deposition there. The field measurement study in this paper not only furthers understanding of the snow accumulation process instead of final deposition under complex conditions but also provides an important benchmark for validating prediction methods.
We studied indium-doped zinc oxide (IZO) film grown by atomic layer deposition (ALD) as transparent conductive oxide (TCO). A variety of TCO layer, such as ZnO:Al (AZO), InSnO2(ITO), Zn (O,S) etc, has been grown by various method, such as ALD, chemical vapor deposition (CVD), sputtering, laser ablation, sol-gel technique, etc. Among many deposition methods, ALD has various advantages such as uniformity of film thickness, film composition, conformality, and low temperature deposition, as compared with other techniques. In this study, we deposited indium-doped zinc oxide thin films using diethyl[bis(trimethylsilyl)amido]indium [Et2InN(TMS)2] as indium precursor, DEZn as zinc precursor and H2O as oxidant for ALD and investigated the optical and electrical properties of IZO films. As an alternative, this liquid In precursor would has several advantages in indium oxide thin-film processes by ALD, especially for low resistance indium oxide thin film and high deposition rate as compared to InCp, InCl3, TMIn precursors etc. We found out that Indium oxide films grown by Et2InN(TMS)2 and H2O precursor show ALD growth mode and ALD growth window. We also found out the different growth rate of Indium oxide as the substrate and investigated the effect of the substrate on Indium oxide growth.
We investigated the effects of ZnO thin film deposition methods on the performance of inverted polymer solar cells with a structure of ITO/ZnO/P3HT:PCBM/MoO3/Al. The ZnO thin films were deposited by various methods (spin coating of nanoparticles, sol-gel process, atomic layer deposition) and their morphology was analyzed by atomic force microscopy (AFM). The device with ZnO nanoparticle thin films showed the highest power conversion efficiency of 3 % with low series resistance and high shunt resistance. The superior performance of the device with the ZnO nanoparticle layer is attributed to better electron extraction capability.
The most prevalent cause of solar cell efficiency loss is reduced recombination at the metal electrode and silicon junction. To boost efficiency, a a SiOX/poly-Si passivating interface is being developed. Poly-Si for passivating contact is formed by various deposition methods (sputtering, PECVD, LPCVD, HWCVD) where the ploy-Si characterization depends on the deposition method. The sputtering process forms a dense Si film at a low deposition rate of 2.6 nm/min and develops a low passivation characteristic of 690 mV. The PECVD process offers a deposition rate of 28 nm/min with satisfactory passivation characteristics. The LPCVD process is the slowest with a deposition rate of 1.4 nm/min, and can prevent blistering if deposited at high temperatures. The HWCVD process has the fastest deposition rate at 150 nm/min with excellent passivation characteristics. However, the uniformity of the deposited film decreases as the area increases. Also, the best passivation characteristics are obtained at high doping. Thus, it is necessary to optimize the doping process depending on the deposition method.
This paper reports a newly developed sol-gel process to synthesize dense YBCO thick films with BaTiO$_3$additives using electrophoretic deposition and metal alkoxide sol/particle suspension, which we successfully produce dense $YBCO+BaTiO_3$ ceramics at a rather low temperature, compared with the sintering temperature used in conventional methods. The thick films of HTS were prepared by electrophoretic deposition, using pre-sintered powder with barium titanate addition in the form of $BaTi(OR)_6$ solution in suspension for electrophoresis. The conditions for applied voltage and deposition times for electrophoretic deposition of HTS thick films were studied in detail.
Silicides have been commonly used in the Si technology due to the compatibility with Si. Recently the silicide has been applied in solar cells [1] and nanoscale interconnects [2]. The modulation of Ni silicide phase is an important issue to satisfy the needs. The excellent electric-conductive nickel monosilicide (NiSi) nanowire has proven the low resistive nanoscale interconnects. Otherwise the Ni disilicide (NiSi2) provides a template to grow a crystalline Si film above it by the little lattice mismatch of 0.4% between Si and NiSi2. We present the formation of Ni silicide phases performed by the single deposition and the co-deposition methods. The co-deposition of Ni and Si provides a stable Ni silicide phase at a reduced processing temperature comparing to the single deposition method. It also discusses the Schottky contact formation between the Ni silicide and the grown crystalline Si film for the solar cell application.
Lithium-ion batteries (LIBs) are rapidly improving in capacity and life cycle characteristics to meet the requirements of a wide range of applications, such as portable electronics, electric vehicles, and micro- or nanoelectro-mechanical systems. Recently, atomic layer deposition (ALD), one of the vapor deposition methods, has been explored to expand the capability of LIBs by producing near-atomically flat and uniform coatings on the shell of nanostructured electrodes and membranes for conventional LIBs. In this paper, we introduce various ALD coatings on the anode, cathode, and separator materials to protect them and improve their electrochemical and thermomechanical stability. In addition, we discuss the effects of ALD coatings on the three-dimensional structuring and conduction layer through activation of electrochemical reactions and facilitation of fluent charge collection.
The design and fabrication of photoelectrochemical (PEC) electrodes for efficient water splitting is important for developing a sustainable hydrogen evolution system. Among various development approaches for PEC electrodes, the chemical vapor deposition method of atomic layer deposition (ALD), based on self-limiting surface reactions, has attracted attention because it allows precise thickness and composition control as well as conformal coating on various substrates. In this study, recent research progress in improving PEC performance using ALD coating methods is discussed, including 3D and heterojunction-structured PEC electrodes, ALD coatings of noble metals, and the use of sulfide materials as co-catalysts. The enhanced long-term stability of PEC cells by ALD-deposited protecting layers is also reviewed. ALD provides multiple routes to develop improved hydrogen evolution PEC cells.
This paper reports a newly developed sol-gel process to synthesize dense YBCO thick films with $BaTiO_3$ additives using electrophoretic deposition and metal alkoxide sol/particle suspension, which we successfully produce dense $YBCO+BaTiO_3$ ceramics at a rather low temperature, compared with the sintering temperature used in conventional methods. The thick films of HTS were prepared by electrophoretic deposition, using pre-sintered powder with barium titanate addition in the form of $BaTi(OR)_6$ solution in suspension for electrophoresis. The conditions for applied voltage and deposition times for electrophoretic deposition of HTS thick films were studied in detail.
The effect of electrode and deposition methods on non-linear interfacial resistive switching in HfO2 based $250{\times}250$ nm2 cross-point device was studied. HfO2 based device has the interfacial resistive switching properties of non-linearity and self-compliance current switching. The operating current in HfO2 based device was increased with negatively increasing the heat of formation energy in top electrode. Also, it was investigated that the operating current in HfO2 based device was changed with deposition methods of O3 reactant ALD, H2O reactant ALD and dc reactive sputtering, resulting the magnitude of the operating current and on/off ratio in order of HfO2 films deposited by dc reactive sputtering, H2O reactant ALD, and O3 reactant ALD. To investigate the effect of electrode and deposition methods on operating current of non-linear interfacial resistive switching in the cross-point device, X-ray photoelectron spectroscopy was measured. Through the analysis of O 1s spectra, non-lattice oxygen concentration, which is closely related to oxygen vacancies, was increased in order of Pt, TiN, and Ti top electrodes and in order of O3 reactant ALD, H2O reactant ALD, and O3 reactant ALD, and dc reactive sputtering deposition method. From all results, non-lattice oxygen concentration in ultra-thin HfO2 films play a crucial role in the operating current and memory states (LRS & HRS) in the non-linear interfacial resistive switching.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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