• 한국정보과학회논문지:시스템및이론
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• 제29권12호
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• pp.680-686
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• 2002

딥 서브 마이크론 (DSM: deep-submicron) 설계에서는 버스에서 선들 간의 커플링 효과는 크로스톡 지연, 노이즈, 전력 소모와 같은 심각한 문제를 야기 시킨다. 버스 인코딩에 대한 대부분의 이전 연구들은 버스에서의 전력 소모를 최소화하거나 크로스톡 지연을 최소화하는데 초점을 맞추고 있지만 모두를 고려한 방법은 보이지 않는다. 이 논문에서, 우리는 버스에서의 전력 소모 최소화와 크로스톡 지연 방지를 동시에 고려한 새로운 버스 인코딩 알고리즘을 제안하였다. 우리는 이 문제를 공식화하여, 자체 천이와 상호 천이의 가중 합 문제를 풂으로써 해결하였다. 여러 벤치마크 설계를 이용한 실험으로부터 제안한 인코딩 방법을 이용할 경우, 크로스톡 지연을 완전히 제거할 뿐 아니라 이전의 방법들을 사용한 것 보다 최소 15% 이상 적은 전력을 소모하였음을 보았다.

• 한국정보과학회:학술대회논문집
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• 한국정보과학회 2007년도 가을 학술발표논문집 Vol.34 No.2 (B)
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• pp.264-268
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• 2007

연결선(interconnect) 사이의 간섭으로 발생하는 crosstalk 지연시간(delay)을 제거하기 위한 두 가지의 방법을 제안 한다. (1) 체계적인 코드를 생성해내는 방법으로 crosstalk 지연시간(delay) 유발 경우를 두 가지의 종류로 분류하여 각각에 대해 버스(bus) 비트 수의 증가에 따른 analytic 한 코드 생성 공식을 유도하였다; (2) 부-버스(sub-bus) 간에 발생하는 crosstalk 지연시간(delay)을 기존의 방법에 비해 보다 효율적으로 제거하는, 즉 추가적인 차단 라인 (또는 complement 비트 라인)를 감소시키는 방법을 제안 한다. 두 연구 결과는 연결선 상의 데이터 전송에 따른 신뢰성, 지연시간 및 전력 소모 증가를 유발하는 crosstalk를 차단하는 엔코딩 기법으로 유용하게 사용될 것으로 보인다.

• 한국통신학회논문지
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• 제36권12B호
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• pp.1548-1555
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• 2011

UDSM(Ultra Deep SubMicron)기술을 이용한 시스템 온-칩 설계 시 가창 중요한 설계 요소는 버스 상에서의 전력소모와 지연시간을 최소화 하는 것이다. 인접한 선에서 발생되는 crosstalk는 전파 지연을 발생시키는데 지대한 영향을 미치며, 이를 제거하거나 최소화 시키는 일은 SoC(System on a Chip) 설계에서 시스템의 신뢰성 및 성능 향상과 직결된다. 기존의 방법들은 주로 crosstalk 지연이나 버스 스위칭 횟수 중 하나 만을 최소화하는 방법이 제안되었다. 본 논문에서는 인코딩 적용 4 비트 클러스터 상의 버스 스위칭 횟수에 따라 crosstalk과 스위칭 횟수를 동시에 최소화 할 수 있도록 "invert" 기능과 "logic-convert" 기능을 적응적으로 선택하는 새로운 인코딩 기법을 제안한다. 실험결과 제안한 버스 인코딩 기법은 완벽하게 crosstalk 지연를 제거한 반면, 기존의 다른 방법들에 비해 25% 이상 전력을 절약하였음을 보여준다.

• 대한전자공학회:학술대회논문집
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• 대한전자공학회 2004년도 하계종합학술대회 논문집(2)
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• pp.577-580
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• 2004

Our paper focus on crosstalk noise problem, especially crosstalk glitch that occurs when victim is stable state and aggressor is transitive state. This generated glitch weigh with the functional reliability if the glitch is considerable. In this paper, we use buffer insertion, down sizing, buffer insertion with up-sizing methods concurrently. These methodologies use filtering effects which gates that have bigger noise margin than glitch width eliminates glitch. In addition, we do limited optimization in boundary of node's slack. Therefore, the operated node's changes are for nothing in other node's slack.

• 한국정밀공학회:학술대회논문집
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• 한국정밀공학회 2011년도 춘계학술대회 논문집
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• pp.983-984
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• 2011

• 한국정밀공학회:학술대회논문집
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• 한국정밀공학회 2011년도 춘계학술대회 논문집
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• pp.1085-1086
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• 2011

• 한국정밀공학회지
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• 제21권11호
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• pp.75-82
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• 2004

A metrological atomic force microscope (M-AFM) was developed fur the length measurements of nanometer range, through the modification of a commercial AFM. To eliminate nonlinearity and crosstalk of the PZT tube scanner of the commercial AFM, a two-axis flexure hinge scanner employing built-in capacitive sensors is used for X-Y motion instead of PZT tube scanner. Then two-dimensional displacement of the scanner is measured using two-axis heterodyne laser interferometer to ensure the meter-traceability. Through the measurements of several specimens, we could verify the elimination of nonlinearity and crosstalk. The uncertainty of length measurements was estimated according to the Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement. Among several sources of uncertainty, the primary one is the drift of laser interferometer output, which occurs mainly from the variation of refractive index of air and the thermal stability. The Abbe error, which is proportional to the measured length, is another primary uncertainty source coming from the parasitic motion of the scanner. The expanded uncertainty (k =2) of length measurements using the M-AFM is √(4.26)$^2$+(2.84${\times}$10$^{-4}$ ${\times}$L)$^2$(nm), where f is the measured length in nm. We also measured the pitch of one-dimensional grating and compared the results with those obtained by optical diffractometry. The relative difference between these results is less than 0.01 %.