This study compares the subtypes of central beta adrenergic receptors (ARs) of brains of untreated rats with those of imipramine-treated rats. Beta adrenergic receptors were measured by quantitative autoradiography of the binding of $^3H$-dihydroalprenolol ($^3H$-DHA) in coronal sections of rat brain. Repeated treatment of rats with imipramine significantly reduced the binding of $^3H$-DHA to beta-1 AR in many brain areas, especially throughout the cerebral cortex, hippocampus, thalamus, and amygdala. Significant reductions of the binding of $^3H$-DHA to beta-2 AR were not found in any area of the brain. These data suggests that a selective down-regulation of beta-1 AR may be involved in the adaptive changes occurring after prolonged imipramine treatment.
$SnO_2$ thin films were prepared on the Si substrate by radio frequency (RF) magnetron sputtering and then surface of the films were irradiated with intense Ar ion beam to investigate the effect of Ar ion irradiation on the properties and hydrogen gas sensitivity of the films. From atomic force microscope observation, it is supposed that intense Ar bombardments promote rough surface and increase gas sensitivity of $SnO_2$ films for hydrogen gas. The films that Ar ion beam irradiated at 6 keV show the higher sensitivity than the films were irradiated at 3 keV and 9 keV. These results suggest that the $SnO_2$ thin films irradiated with optimized Ar ion beam are promising for practical high-performance hydrogen gas sensors.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.15
no.7
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pp.570-575
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2002
$SrBi_2Ta_2O_9$ thin films were etched in $Cl_2/CF_4/Ar$ inductively coupled plasma (ICP). The maximum etch rate was 1300 ${\AA}/min$ at 900 W ICP power in Cl$_2$(20%)/$CF_4$(20%)/Ar(60%). As RF source power increased, radicals (F, Cl) and ion ($Ar^+$) increased. The influence of plasma induced damage during etching process was investigated in terms of P-E hysteresis loops, chemical states on the surface, surface morphology and phase of X-ray diffraction. The chemical states on the etched surface were investigated with X-ray spectroscopy and secondary ion mass spectrometry. After annealing $700^{\circ}C$ for 1 h in $O_2$ atmosphere, the decreased P-E hysteresises of the etched SBT thin films in Ar and $Cl_2/CF_4/Ar$ plasma were recovered.
We have investigated the effect of ambient gases on the structural, electrical, and optical characteristics of IZO thin films intended for use as anode contacts in the organic light emitting diodes (OLED) devices. These IZO thin films were deposited on the PES film by radio frequency (RF) magnetron sputtering under different ambient gases (Ar, Ar + O2, and Ar + H2) at room temperature. In order to investigate the influences of the ambient gases, the flow rate of oxygen and hydrogen in argon has been changed from 0.1 sccm to 0.5 sccm, respectively. All the IZO thin film has an (222) preferential orientation regardless of ambient gases. The electrical resistivity of the IZO film increased with increasing O2 flow rate, whereas the electrical resistivity decreased sharply under an Ar + H2 atmosphere and was nearly similar regardless of the H2 flow rate. The change of electrical resistivity with changes in the ambient gas composition was mainly interpreted in terms of the charge carrier concentration rather than the charge carrier mobility. All the films showed the average transmittance over 85% in the visible range. The OLED device was fabricated with different IZO substrates made with the configuration of IZO/α-NPD/DPVB/Alq3/LiF/Al in order to elucidate the performance of the IZO substrate. The current density and the luminance of OLED devices with IZO thin films deposited in 0.5 sccm H2 ambient gas are the highest amongst all other films.
We calculated the electron transport coefficients in $H_2$+Ar gas calculated E/N values 0.01 ~ 1 Td by the Boltzmann equation method. This study gained the values of the electron swarm parameters such as the electron drift velocity and the transverse diffusion coefficients for $H_2$+Ar gas at a range of E/N. The transport coefficient W and Dt/u have been calculated in mixtures of 0.5% and 4% hydrogen in argon. All values were made at 293 K.
To investigate the effects of reactive oxygen species (ROS) on capacitation, acrosome reaction in human spermatozoa. Human spermatozoa were incubated with xanthine-xanthine oxidase (X-XO), $H_2O$$_2$, sodium nitroprusside (SNP) or lymphocyte. Otherwise, spermatozoa were incubated under low $O_2$ (5 %) condition. Chlortetracycline (CTC) staining was conducted to assess capacitation and acrosome reaction. Analysis of lipid peroxidation was done by spectrophotometric determination of malondialdehyde (MDA) production in spermatozoa. $H_2O$$_2$, X-XO, SNP and lymphocyte treatment significantly increased capacitated spermatozoa within 1 h of incubation. There was no significant difference in capacitation between low- and high $O_2$ groups. In the presence of low concentration of $H_2O$$_2$, lipid peroxidation decreased significantly. However, under the high concentration of $H_2O$$_2$, lipid peroxidation significantly increased at the end of incubation compared to control. In the presence of high concentration of lymphocytes, lipid peroxidation significantly increased compared to control at 1hr of incubation. There was no significant difference in lipid peroxidation according to $O_2$ concentration examined. Acrosome reaction (AR) was evaluated by CTC staining after the progesterone challenge. In all ROS groups, AR increased compared to control. The X(100 $\mu$M) - XO (100mIU) system was the most potent to induce AR. Taken together, it suggested positive control of AR by ROS and the positive relationship between the lipid peroxidation and AR. The early onset of capacitation in the presence of ROS suggest that ROS might be a positive regulator of sperm capacitation and hyperactivation.
A highly sensitive detecting method has been developed for determining part per billion of sulfur in $H_2S$/Ar plasma. The method is based on the excitation of Ar/$H_2S\;or\;Ar/H_2S/O_2$ mixture in hollow cathode glow discharge sustained by radiofrequency (RF) or 60 Hz AC power and the spectroscopic measurement of the intensity of emission lines from electronically excited $S_2^*\;or\;SO_2^*$ species, respectively. The RF or AC power needed for the excitation did not exceed 30 W at a gas pressure maintained at several mbar. The emission intensity from the $SO_2^*$ species showed excellent linear response to the sulfur concentration ranging from 5 ppbv, which correspond to S/N = 5, to 500 ppbv. But the intensity from the $S_2^*$ species showed a linear response to the $H_2S$ only at low flow rate under 20 sccm (mL/min) of the sample gas. Separate experiments using $SO_2$ gas as the source of sulfur demonstrated that the presence of $O_2$ in the argon plasma is essential for obtaining prominent $SO_2^*$ emission lines.
This paper applies forecasting models such as ARIMA, Holt-Winters and AR-GARCH models to analyze daily tourism data in Korea. To evaluate the performance of the models, we need single and double seasonal models that compare the RMSE and SE for a better accuracy of the forecasting models based on Armstrong (2001).
We report on the deposition of ZnO films using a metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) as a function of pushing pressure and kind of reactant such as oxygen gas and water A diethylzinc (DEZ) is supplied and controlled by Ar pushing pressure through bubbling system. Oxygen gas and water are used as reactant in order to form oxidation. We knew that the surface roughness is related in the process conditions such as reactant kind and DEZ flow rate. A substrate temperature has little role of surface roughness with $O_2$ reactant. However, $H_2O$ reactant makes it to increase over the 20 times. We could get the maximum roughness of 39.16 nm at the 90 sccm of DEZ Ar flow rate, the 8 Pa of $H_2O$ vapor pressure, and the $140^{\circ}C$ of substrate temperature. In this paper, we investigated the ZnO films for the application to the light absorption layer of solar cell layer.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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