• 제목/요약/키워드: A-스캔

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구내 스캔바디의 형태에 따른 임플란트의 디지털 스캔 정확도 및 구강 내 노출 높이에 따른 라이브러리 중첩 정확도 비교 연구 (Accuracy of implant digital scans with different intraoral scanbody shapes and library merging according to different oral exposure height)

  • 정병준;이영후;홍성진;백장현;노관태;배아란;김형섭;권긍록
    • 대한치과보철학회지
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    • 제59권1호
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    • pp.27-35
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    • 2021
  • 목적: 현재 임상에서 스캔바디를 이용한 임플란트의 디지털 인상이 활용되고 있으나 스캔바디의 형태에 따른 스캔의 정확도에 대한 연구는 부족한 실정이다. 본 연구의 목적은 구내 스캔바디의 형태에 따른 스캔의 정확도를 비교하고, 구강 내 노출 높이에 따른 라이브러리 중첩 정확도를 비교하기 위함이다. 재료 및 방법: 덴티폼 상에서 36번 치아를 삭제 후 모델 스캐너로 스캔하여 3D 프린터로 주모형을 출력하였다. 첫 번째 실험으로 세 종류(A, B, C)의 구내 스캔바디를 준비하여 각 그룹마다 다음과 같은 실험을 하였다: 36번 부위에 임플란트를 이상적인 위치로 식립 후 스캔바디를 15 N으로 체결하였다. 스캔바디가 체결된 주모형을 모델 스캐너로 스캔하여 master reference file (대조군)을 STL (Standard Tessellation Language) file로 생성하였다. 이후 구강 스캐너로 10회의 연속적인 스캔을 시행하여 10개의 STL file (실험군)을 생성하였다. 3D 측정 소프트웨어를 이용하여 대조군과 실험군들의 STL file들을 중첩한 후 좌표계 상에서 다음과 같은 값들을 도출하였다: 1) 스캔바디 상 특정 point의 거리 편차 2) 스캔바디 장축의 각도 편차. 두 번째 실험으로는 스캔바디의 구강내 노출 높이에 따른 라이브러리 중첩 정확도를 비교하기 위해 스캔바디 스캔 데이터를 7, 4.5, 2.5, 1.5, 1.0, 0.5 mm 총 6 가지 높이로 준비하여 라이브러리 파일과 중첩하였다. 전체가 노출된 7 mm 데이터를 대조군으로 하여 거리 편차와 각도 편차를 계산하였다. 결과: 첫번째 실험에서 A, B 스캔바디 간(P = .278), B, C 스캔바디 간(P = .568), C, A 스캔바디 간(P = .711) 스캔 파일의 거리 편차 모두 유의한 차이가 나타나지 않았다. A, B 스캔바디 간(P= .568), B, C 스캔바디 간(P = .546), C, A 스캔바디 간(P = .112) 스캔 파일의 각도 편차 또한 모두 유의한 차이가 나타나지 않았다. 또한 스캔바디는 구강 내 노출 높이가 높은 실험군(GH, Gingival Height = 4.5)의 라이브러리 중첩 정확도가 높이가 낮은 실험군(GH = 0.5)보다 통계적으로 유의하게 높았다 (P < .05). 결론: 스캔바디의 각기 다른 형태에 따른 스캔 정확도는 유의한 차이가 없었으며, 스캔바디의 구강 내 노출 높이에 따라 라이브러리 중첩의 정확도는 증가한다. 추후 in vivo 환경에서 더 다양한 형태의 스캔바디를 이용한 후속연구가 필요할 것이다.

무고정 부분 스캔 테스트 방법을 위한 스캔 선택 알고리즘 (Scan Selection Algorithms for No Holding Partial Scan Test Method)

  • 이동호
    • 전자공학회논문지C
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    • 제35C권12호
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    • pp.49-58
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    • 1998
  • 본 논문에서는 무고정 부분 스캔 테스트 방법을 위한 새로운 스캔 선택 알고리즘에 대하여 논한다. 무고정 부분 스캔 테스트 방법은 모든 플립-플롭을 스캔하지 않는다는 점을 제외하면 완전 스캔과 동일한 테스트 방법이다. 이 테스트 방법은 테스트 벡터를 입력, 인가, 혹은 적용 등, 어느 때에도 스캔, 비스캔 중 어느 플립-플롭의 데이터 값도 고정하지 않는다. 제안된 스캔 선택 알고리즘은 무고정 부분 스캔 테스트 방법에서 완전 스캔 고장 검출율을 거의 유지하면서 많은 플립-플롭을 스캔하지 않게 한다.

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축방향 CT 스캔과 나선형 CT 스캔에서 영·유아의 장기흡수선량 비교 평가 (A Comparative Evaluation of Organ Doses in Infants and toddlers between Axial and Spiral CT Scanning)

  • 김상태;은성종;김성길
    • 한국방사선학회논문지
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    • 제7권2호
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    • pp.137-143
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    • 2013
  • 성인에 비해 방사선에 민감하고 검사건수가 증가하고 있는 영 유아의 CT 스캔 시의 장기흡수선량을 평가하기 위해 스캔부위를 머리부위와 가슴부위로 구분하고 64 MDCT를 이용하여 축방향 스캔과 나선형 스캔으로 비교했다. 스캔부위에 상관없이 나선형 스캔 시의 선량이 축방향 스캔 시 보다 유의하게 낮은 것으로 나타났다. 축방향 스캔과 비교해서 나선형 스캔 중 피치 1.355를 사용했을 때가 나머지 두 피치(0.525, 0.988)를 사용했을 때보다 가슴부위 스캔의 평균 장기흡수선량이 유의하게 높게(평균 -12.03%) 나왔다. 나선형 스캔 시 장기흡수선량이 축방향 스캔보다 평균 20.54% 낮게 나왔다. 결과적으로 인체모형을 통한 장기흡수선량을 평가한 본 연구는 몬테카를로 시뮬레이션 결과값을 실증하고, CT 검사를 받는 영 유아의 장기흡수선량의 보다 정확한 평가에 기여할 것이다.

확장된 스캔 경로 구조의 성능 평가에 관한 연구 (A Study on the Performance Analysis of an Extended Scan Path Architecture)

  • 손우정
    • 한국컴퓨터정보학회논문지
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    • 제3권2호
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    • pp.105-112
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    • 1998
  • 본 논문에서는 다중 보드를 시험하기 위한 새로운 구조인 확장된 스캔 경로(ESP: Extended Scan Path) 구조를 제안한다. 보드를 시험하기 위한 기존의 구조로는 단일 스캔경로와 다중 스캔 경로가 있다. 단일 스캔경로 구조는 시험 데이타의 전송 경로인 스캔 경로가 하나로 연결되므로 스캔 경로가 단락이나 개방으로 결함이 생기면 나머지 스캔 경로에올바른 시험 데이타를 입력할 수 없다. 다중 스캔 경로 구조는 다중 보드 시험 시 보드마다별도의 신호선이 추가된다 그러므로 기존의 두 구조는 다중 보드 시험에는 부적절하다. 제안된 ESP 구조를 단일 스캔 경로 구조와 비교하면, 스캔 경로 상에 결함이 발생하더라도 그 결함은 하나의 스캔 경로에만 한정되어 다른 스캔 경로의 시험 데이타에는 영향을 주지않는다. 뿐만 아니라, 비스트 (BIST: Built In Self Test)와 IEEE 1149.1 경계면 스캔 시험을 병렬로 수행함으로써 시험에 소요되는 시간을 단축한다. 본 논문에서는 제안한 ESP 구조와 기존 시험 구조의 성능을 비교하기 위해서 수치적 비교를 한다.

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네트워크 포트스캔의 위험에 대한 정량화 방법 (A Method for Quantifying the Risk of Network Port Scan)

  • 박성철;김준태
    • 한국시뮬레이션학회논문지
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    • 제21권4호
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    • pp.91-102
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    • 2012
  • 네트워크 포트스캔 공격은 내부 네트워크에 있는 시스템에서 열려 있는 포트를 알아내기 위한 방법이다. 기존 대부분의 침입탐지시스템(Intrusion Detection System; IDS)들은 단위 시간당 시스템 또는 네트워크에 몇 번의 패킷을 보냈는지의 횟수를 기록하여 전송한 패킷의 횟수가 임계치보다 높은 소스 인터넷 주소(source IP address)에 대해서 포트스캔 공격이 수행되었다고 간주하였다. 즉, 네트워크 포트스캔 공격을 수행한 소스 인터넷 주소에 대한 위험 정도는 IDS들이 기록한 포트스캔 공격횟수에 의존하였다. 그러나 단순히 포트스캔 공격 횟수에 기반을 둔 위험성의 측정은 느린 포트스캔 공격에 대해 거짓 부정(false negative)이 높아져 포트스캔 탐지율이 낮아진다는 문제가 있다. 본 연구에서는 네트워크 포트스캔 공격에 대해 좀 더 정확하고 포괄적인 구분을 하기 위해 4가지 형태의 정보를 요약한다. 포트스캔 공격에 대한 위험성을 집약적으로 나타내기 위하여 주성분분석(principal component analysis, PCA)에 의해 이러한 정보들을 정량화한 위험지수를 제안한다. 실험을 통해 제안한 위험지수를 이용한 탐지가 포트스캔 탐지율에 있어서 Snort보다 우수하다는 것을 보인다.

방사성 옥소 치료 후 분화된 갑상선암 추적관찰에서 Thallium-201 스캔, Tc-99m MIBI 스캔과 I-131 스캔 검사 결과의 비교 (Comparison of Thallium-201, Tc-99m MIBI and I-131 Scan in the Follow-up Assessment after I-131 Ablative Therapy in Differentiated Thyroid Cancer)

  • 권재성;이성근;김도민;박세종;장경순;김은실;김종순
    • 대한핵의학회지
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    • 제33권6호
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    • pp.493-501
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    • 1999
  • 목적 : 분화된 갑상선암에서 암 절제술 및 방사성 옥소 치료 후 추적관찰 중 재발이나 전이병소를 찾기 위한 효과적인 검사 방법에 대한 자료를 제시하고자 T1-201 스캔, Tc-99m MIBI 스캔, I-131 스캔 검사의 결과를 비교하였다. 대상 및 방법: 분화된 갑상선암으로 진단되어 수술 및 방사성 옥소로 치료 후 추적관찰 중 국소 재발 또는 전이로 생각되어 한번이상의 방사성 옥소 재 치료를 시행한 20명(총 33예)의 환자를 대상하여 T1-201 스캔, Tc-99m MIBI 스캔, 진단적 및 치료적 I-131 스캔을 시행하여 각 스캔에서 결과를 후향적으로 분석하였다. 모든 환자에서 갑상선글로불린을 측정하였고 임상적, 방사선학적, 조직학적 검사로 암의 재발 및 전이를 확인하였다. 결과: 4가지 검사의 비교에서 병소를 발견할 수 있는 양성률은 Tc-99m MIBI 스캔, T1-201 스캔, 진단적 I-131 스캔, 치료적 I-131 스캔에서 각각 70% (19/27), 54% (15/28), 35% (17/48), 63% (30/48)였다. T1-201 스캔과 I-131 스캔을 같이 시행한 군(20 예, 28병소)에서는 병소의 양성률은 치료적 I-131 스캔, T1-201 스캔, 진단적 I-131 스캔 순으로 높았으나(71%, 54%, 36%), T1-201 스캔과 진단적 I-131 스캔간의 차이는 없었다(p>0.05). Tc-99m MIBI 스캔을 I-131 스캔과 같이 시행한 군(20예, 27병소)에 서는 Tc-99m MIBI, 치료적 I-131 스캔, 진단적 I-131 스캔의 순으로 높았고(70%, 52%, 33%), Tc-99m MIBI는 진단적 I-131 스캔보다 양성률이 유의하게 높았다(p<0.05). 결론: 분화된 갑상선암 환자의 치료 후 추적 관찰에서 국소 재발 및 전이 병소를 찾는데 Tc-99m MIBI 스캔은 진단적 I-131 스캔보다 우수하였다. 따라서 치료 전에 진단적 I-131 스캔을 시행하기보다는 갑상선 호르몬제를 중단하지 않은 상태에서 Tc-99m MIBI 스캔을 시행한 후 결과에 따라서 치료용량의 방사성 옥소를 투여하고 치료적 I-131 스캔을 하는 것이 효과적일 것으로 사료된다.

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SOC(System-On-a-Chip)에 있어서 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 (Efficient Test Data Compression and Low Power Scan Testing for System-On-a-Chip(SOC))

  • 박병수;정준모
    • 한국콘텐츠학회논문지
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    • 제5권1호
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    • pp.229-236
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    • 2005
  • System-On-a-Chip(SOC)을 테스트하는 동안에 요구되는 테스트 시간과 전력소모는 SOC내의 IP 코어의 개수가 증가함에 따라서 매우 중요하게 되었다. 본 논문에서는 수정된 스캔 래치 재배열을 사용하여 scan-in 전력소모와 테스트 데이터의 양을 줄일 수 있는 새로운 알고리즘을 제안한다. 스캔 벡터 내의 해밍거리를 최소화하도록 스캔 래치 재배열을 적용하였으며 스캔 래치 재배열을 하는 동안에 스캔 벡터 내에 존재하는 don't care 입력을 할당하여 저전력 및 테스트 데이터 압축을 하였으며 ISCAS 89 벤치마크 외호에 적용하여 모든 경우에 있어서 테스트 데이터를 압축하고 저전력 스캔 테스팅을 구현하였다.

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이동식 로버 기반 스캔 자동화 계획에 대한 연구 (3D Image Scan Automation Planning based on Mobile Rover)

  • 강태욱
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제20권8호
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    • pp.1-7
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    • 2019
  • 최근 3D 이미지 스캔(image scan) 작업을 통해 획득한 3D 포인트 클라우드(point cloud)를 활용하는 사례가 점차 많아지고 있다. 특히, 도시나 건물 차원의 실내/실외, 기계 플랜트 등 3D 공간정보 콘텐츠를 활용한 서비스 개발 필요성이 증가하면서, 3D 이미지 스캔 기술의 수요가 급격히 늘고 있다. 기존의 3D 이미지 스캔 방법을 사용하는 경우, 이미지 스캔 작업은 노동집약적인 수작업으로 진행되는 것이 일반적이다. 따라서, 사용자가 복잡한 설비로 이루어진 공간을 스캐닝 할 때나, 사용자가 내부로 진입하기 어려운 좁은 공간을 스캐닝하기에는 어려움이 있으며, 결과적으로 그림자 영역 문제로 인한 품질 저하 문제를 발생시킨다. 본 연구는 사람이 진입하기 어려운 영역에 스캐너가 장착된 로버를 활용해 이미지 스캔을 하는 방법을 제안한다. 스캔 경로를 정확히 제어하기 위해, 로버 이동 규칙 정의 기반 3D 이미지 원격 스캔 자동화 방법을 기술한다. 이 방법을 통해, 사용자는 로버의 스캔 경로를 규칙 기반으로 정의함으로써 3D 스캔 계획을 자동화할 수 있다.

스캔 분할 기법을 이용한 저전력 Test-Per-Scan BIST (A Low-power Test-Per-Scan BIST using Chain-Division Method)

  • 문정욱;손윤식;정정화
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2003년도 하계종합학술대회 논문집 II
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    • pp.1205-1208
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    • 2003
  • 본 논문에서는 분할된 스캔을 이용한 저전력 BIST 구조를 제안한다. 제안하는 BIST는 내부 스캔 패스를 회로의 구조적인 정보와 테스트 패턴 집합의 특성에 따라 4개의 스캔 패스로 분할하고 일부 스캔 패스에만 입력패턴이 인가되도록 설계하였다. 따라서 테스트 패턴 입력 시에 스캔 패스로의 쉬프트 동작 수를 줄임으로써 회로 내부의 전체 상태천이 수를 줄일 수 있다. 또한 4개로 분할되는 스캔패스의 길이를 고려하여 각 스캔 패스에 대해 1/4의 속도로 낮춰진 테스트 클럭을 인가함으로써 전체 회로의 전력 소모를 줄일 수 있도록 하였다. ISCAS89 벤치마크 회로에 대한 실험을 통하여 제안하는 BIST 구조가 기존 BIST 구조에 비해 최대 21%까지 전력소모를 줄일 수 있음을 확인하였다.

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구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계 (A Partial Scan Design by Unifying Structural Analysis and Testabilities)

  • 박종욱;신상훈;박성주
    • 한국정보과학회논문지:시스템및이론
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    • 제26권9호
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    • pp.1177-1184
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    • 1999
  • 본 논문에서는 스캔플립프롭 선택 시간이 짧고 높은 고장 검출률(fault coverage)을 얻을 수 있는 새로운 부분스캔 설계 기술을 제안한다. 순차회로에서 테스트패턴 생성을 용이하게 하기 위하여 완전스캔 및 부분스캔 설계 기술이 널리 이용되고 있다. 스캔 설계로 인한 추가영역을 최소화 하고 최대의 고장 검출률을 목표로 하는 부분스캔 기술은 크게 구조분석과 테스트 가능도(testability)에 의한 설계 기술로 나누어 볼 수 있다. 구조분석에 의한 부분스캔은 짧은 시간에 스캔플립프롭을 선택할 수 있지만 고장 검출률은 낮다. 반면 테스트 가능도에 의한 부분스캔은 구조분석에 의한 부분스캔보다 스캔플립프롭의 선택 시간이 많이 걸리는 단점이 있지만 높은 고장 검출률을 나타낸다. 본 논문에서는 구조분석에 의한 부분스캔과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계 기술의 장단점을 비교.분석하여 통합함으로써 스캔플립프롭 선택 시간을 단축하고 고장 검출률을 높일 수 있는 새로운 부분스캔 설계 기술을 제안한다. 실험결과 대부분의 ISCAS89 벤치마크 회로에서 스캔플립프롭 선택 시간은 현격히 감소하였고 비교적 높은 고장 검출률을 나타내었다.Abstract This paper provides a new partial scan design technique which not only reduces the time for selecting scan flip-flops but also improves fault coverage. To simplify the problem of the test pattern generation in the sequential circuits, full scan and partial scan design techniques have been widely adopted. The partial scan techniques which aim at minimizing the area overhead while maximizing the fault coverage, can be classified into the techniques based on structural analysis and testabilities. In case of the partial scan by structural analysis, it does not take much time to select scan flip-flops, but fault coverage is low. On the other hand, although the partial scan by testabilities generally results in high fault coverage, it requires more time to select scan flip-flops than the former method. In this paper, we analyzed and unified the strengths of the techniques by structural analysis and by testabilities. The new partial scan design technique not only reduces the time for selecting scan flip-flops but also improves fault coverage. Test results demonstrate the remarkable reduction of the time to select the scan flip-flops and high fault coverage in most ISCAS89 benchmark circuits.