In this paper, we design circuits embedded in memory chip which perform memory testing algorithms using BIST scheme to reduce testing time and cost for testing. In order to implement circuits for MSCAN, Marching and checkerboard test algorithms, which have widely used in memory testing, we survey structure of the BIST circuits and describe each block of BIST circuits by using VHDL. Thereafter, We verify behavior of each VHDL coding block and extract BIST circuits for target testing algorithms by CAD tool for simulation and synthesis. Extracted circuits have very low area overhead.
본 논문에서는 저가형 PDP 구동 회로를 위한 새로운 단일 스위치 에너지 회수 회로를 제안한다. 제안한 회로는 기존의 에너지 회수 회로가 주스위치 외에 별도로 4개의 스위치가 더 필요한 데 비해 하나의 스위치만을 사용함으로써, 그 구조가 간단하여 작고 가벼우며 저가로 구현 가능하다. 또한 이 회로는 우수한 에너지 회수 성능을 보이며 패널전압을 충분히 충, 방전시킴으로써 모든 주스위치들이 영전압 스위칭하도록 하고 낮은 EMI 특성을 갖는다. 본 논문에서는 제안한 회로의 동작 원리, 설계 방법 그리고 실험 결과를 제시한다. 제안한회로는 PDP TV의 저가격화에 도움이 되리라 기대된다.
본 논문에서는 독립된 DC 입력전원을 요구하는 Cascaded H-bridge 멀티레벨 인버터를 단일 입력전원으로 구동시키기 위한 회로 구조를 제안한다. 변압기 포화를 방지하기 위해 채용되는 리센 권선을 가지는 포워드 컨버터의 구조를 변경한 것으로 리셋 권선에 의해 전원으로 회생되는 에너지가 출력단으로 전달되도록 변경된다. 제안된 회로 구조의 입출력전압과 스위치의 도통비와의 관계를 이론적으로 분석하고 시뮬레이션을 통해 타당성을 검증한다.
Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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2005.11a
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pp.835-837
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2005
이동기기들이 늘어가고 있는 추세에서 기기들의 구성품인 디지털 회로들의 테스트 시간과 전력소모는 성능에 상당한 영향을 미친다. 테스트 시간을 줄이는 방법은 병렬 코어 테스트 방법으로 줄일 수 있으나, 다양한 코어들이 동시에 테스트 되면 많은 전력 소모를 야기 시킨다. 스캔 구조를 기반으로 한 회로에서 전력 소모는 테스트 데이터의 불필요한 천이에 의해 많이 발tod한다. 그러므로 스캔 체인을 수정함으로 인해 입력 값과 출력 간의 천이를 줄일 수 있다. 제안하는 스캔 체인의 수정은 스캔 셀의 재배치와 특정한 회로의 추가로 이루어진다. 또한 회로의 추가는 그에 적합한 그룹화를 시킴으로써 최소의 수를 결정한다. 천이 주기를 해석하여 효과적인 알고리즘을 세움으로써 최적의 스캔 체인구조와 그룹을 구함으로써 전력 소모를 최소화할 수 있다.
현대 사회의 기술 발달에 따라서 회로의 집적도 대비 이용하는 주파수가 매우 높아지고 있다. 즉, 회로의 이용 주파수가 높아짐에 따라서 파장이 신호를 전달하는 전선만큼 짧아져 기존의 회로이론을 기반으로 하는 집중 정수 회로적 관점으로 해석할 수 없다. 따라서 전송선로 이론에 따라 해석하여야 하지만, 최근 전자기기들은 높은 집적도나 여러 모듈(Module)을 종합해서 만들기 때문에 전기적 특성이 일정한 전송선로의 이론을 적용하기가 힘들며, 따라서 이는 불연속을 고려한 전송선로의 분석이 이루어져야 함을 시사한다. 이에 본 논문에서는 전송선로에서 불연속 구간이 존재할 경우 기존의 전송선로 이론을 적용한 전기파라미터 변환에 미치는 영향을 알아보기 위해서 불연속 구간이 존재하는 마이크로 스트립 구조를 설계해 VNA(Vector Network Analyzer)를 이용해서 산란계수(S-Parameter)를 측정 및 분석하였다.
신재생에너지원의 하나인 연료전지 시스템이나 배터리 백업용 전력변환 회로는 많은 응용분야에서 고승압 직류변환장치의 구조로 낮은 입력전압을 높은 출력전압으로 승압한다. 이를 위한 고승압회로의 여러 가지 방식중에서 다단으로 직렬 접속된 구조의 직류변환장치는 복잡하고 비용이 큰 단점이 있다. 또한 높은 출력전압을 얻을 수 있는 플라이백 직류전원장치는 누설성분에 의해 손실이 크므로 효율이 낮고 소자의 스트레스가 큰 단점이 있다. 본 논문에서는 배압회로와 결합 인덕터를 이용한 고승압 전원장치를 제안한다. 제안하는 회로는 24V입력에서 300V로 승압한다. 결합 인덕터의 이차 전압은 배압회로에 의해 정류되고 인덕터의 일차측 승압전압과 병렬로 연결되어 출력전압을 만든다. 높은 승압전압이 낮은 듀티사이클로도 얻어지는 제안 회로는 이론적인 해석과 100W 실험장치를 통해 시험하며 그 타당성을 검증한다.
In this paper Low Drop-Out (LDO) regulator that improved load regulation characteristics due to the feedback detection structure. The proposed feedback sensing circuit is added between the output of the LDO's internal error amplifier and the input of the pass transistor to improve the regulation of the delta value coming into the output. It has a voltage value with improved load regulation characteristics than existing LDO regulator. The proposed LDO structure was analyzed in Samsung 0.13um process using Cadence's Virtuoso, Spectre simulator.
The Journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science
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v.13
no.9
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pp.882-888
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2002
This paper proposed a bias stability circuit that compensates the degradation of MMIC's performance for the variation of the process and temperature. The proposed bias circuit proved the superior effect compared with the conventional bias circuit using the constant current source. It designed and fabricated simultaneously two amplifier on one layout for comparison in same conditions. One is amplifier with conventional bias circuit using constant current source and the other is amplifier with proposed bias stability circuit. The chip was measured the microwave performances under process variation that classed the level NOM, MIN and MAX. The amplifier with a conventional bias circuit using constant current source has 6.4 dB gain variation and 7 mA Ids variation at 1.8 GHz, but the amplifier with the proposed bias circuit has the 2.1 dB gain variation and 3 mA Ids variation. As the result, MMIC having the proposed bias circuit shows the superior compensation of the quiescent point than the MMIC having the conventional bias circuit under the variations of the process and temperature and can improve the yield of the MMIC. The fabricated chip size is 1.2 mm $\times$ 1.4 mm.
Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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2003.04d
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pp.442-444
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2003
본 논문에서는 IEEE 802.113 무선 LAN 용 CODEC 회로를 설계하고, VHDL 코딩 과 FPGA에 의한 회로설계 검증에 관해 기술한다. IEEE 802.11a WLAN CODEC의 구조는 크게 데이터 보호를 위한 스크램블러/디스크램블러, 채널 에러에 대한 정보보호를 위한 Convolutional 부호기와 Viterbi 복호기로 구성된 채널 코덱, 그리고 연집에러를 랜덤 에러로 변화시키는 인터리버/디인터 리버로 구성된다. 본 논문에서는, 이와 같은 CODEC의 각 부분을 하드웨어로 구현하기 위한 새로운 회로구성을 제안하고, 그 성능을 VHDL 코딩에 의한 시뮬레이션과 FPGA에 의한 하드웨어 검증 결과를 제시한다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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