• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 1998.10c
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• pp.671-673
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• 1998

본 논문에서는 CMOS 2단 연산 증폭기에 존재하는 강고장을 검출하기 위한 새로운 아날로그 테스트 방법을 제안한다. 테스트 대상 회로는 테스트를 용이하도록 궤환 루프를 삽입하고 정현파 테스트 입력을 인가하여 출력단에 고장 효과를 발생시켜 고장을 검출하는 테스트 방법이다. 테스트 대상회로에 고장이 존재할 경우 출력 단에서 정현파가 아닌 DC 전압이나 왜곡 신호가 나타나 고장 검출이 용이하다. 제안된 테스트 방법은 테스트 입력 신호를 생성하기 위한 복잡한 알고리즘을 요구하지 않으므로 테스트 패턴 시간이 짧고, 비용이 절감된다. 또한 테스트를 위한 추가적인 하드웨어의 오브헤드가 적다. 본 논문에서 제안된 테스트 방법의 정당성과 효율성은 HSPICE 모의실험을 통하여 검증하였다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 1999.11c
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• pp.803-806
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• 1999

고성능 시스템이 개발됨에 따라 실시간 테스트의 중요성이 증가하고 있다. 메모리의 경우 저장된 값을 보존하면서 테스트할 수 있는 Transparent 테스트 알고리듬들이 개발되고 있다. 본 논문에서는 테스트 시간과 오버 헤드를 줄일 수 있는 새로운 Transparent 테스트 알고리듬을 제안한다. 제안하는 알고리듬은 SRAM의 전이 쓰기 동작 중에 발생하는 동적 전원 전류를 이용하는 방법이다. 동적 전원전류와 고장 모델과의 상관 관계를 규명한 결과 기존의 알고리듬보다 많은 고장 모델들을 테스트 할 수 있음을 발견하였다. 또한 쓰기 동작 중의 전류를 감지하기 때문에 압축치를 생성할 필요가 없어 그에 따른 테스트 시간과 오버 헤드를 줄일 수 있다. 본 논문에서는 기존의 March 알고리듬들을 본 테스트 방법론에 적합하도록 변형하는 방법을 설명하고 기존의 transparent 알고리듬과의 테스트 시간 고장 검출률 그리고 BIST 구현시의 하드웨어 오버헤드 측면에서 비교를 한다.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2004.10b
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• pp.346-348
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• 2004

최근 개발되는 임베디드 시스템의 경우 하드웨어와 소프트웨어의 구조가 매우 복잡해짐에 따라, 시스템에 탑재되는 소프트웨어의 신뢰성 확보를 위한 테스트 절차가 요구되고 있다. 특히 시스템에 탑재되는 소프트웨어는 다중 함수에 의해 의사결정이 되면서. 시스템 디자인 단계에서 요구되는 스펙(Specification)을 만족하지 못하는 경우가 빈번하게 발생한다 본 논문에서는 임베디드 소프트웨어의 자동화된 테스트를 위해 요구되는 검증 모듈을 디자인하고 구현하였다 검증 모듈은 요구사항 기반으로 설계되었으며, 각각의 요구사항을 만족하는 검증 모듈을 구현하여 실제 상용화 제품에 대한 테스트를 진행하였다.

• Annual Conference of KIPS
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• 2024.05a
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• pp.497-499
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• 2024

Fuzzing Test 와 같은 자동화된 소프트웨어 테스트 기법이 점차 출현함에 따라, 소프트웨어 테스트의 시간적 효율성과 성능의 상충을 조절하여 최적의 테스트를 진행하려는 시도가 발생하고 있다. 본 연구는 이러한 소프트웨어 테스트 기법을 하드웨어 단위에서 지원할 수 있는 기능을 확률 기반 명령어 생략 구조를 통해 제시하였다.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2008.06b
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• pp.30-33
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• 2008

PLC는 실시간 운영체제와 어플리케이션을 이용하여 하드웨어 장치들을 관리하고 제어한다. 하지만 하드웨어 장치를 관리하는 핵심인 실시간 운영체제가 블랙박스화 된 경우 어플리케이션 만을 이용 한 입출력 장치의 테스트 방안이 고려되어야 한다. 본 논문에서는, PLC의 어플리케이션 프로그램인 FBD를 이용한 입출력 장치의 테스트 방안과 원자력 발전소 PLC에 적용한 사례에 대해 기술 한다.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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• v.42 no.12
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• pp.79-90
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• 2005

In this paper, we propose a new clustered reconfigurable interconnect network (CRIN) BIST to improve the embedding probabilities of random-pattern-resistant-patterns. The proposed method uses a scan-cell reordering technique based on the signal probabilities of given test cubes and specific hardware blocks that increases the embedding probabilities of care bit clustered scan chain test cubes. We have developed a simulated annealing based algorithm that maximizes the embedding probabilities of scan chain test cubes to reorder scan cells, and an iterative algorithm for synthesizing the CRIN hardware. Experimental results demonstrate that the proposed CRIN BIST technique achieves complete fault coverage with lower storage requirement and shorter testing time in comparison with the conventional methods.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2005.07b
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• pp.424-426
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• 2005

임베디드 소프트웨어의 품질 향상을 위해 소프트웨어에 대한 테스트가 필요하다. 이때 임베디드 소프트웨어가 가진 다양한 제약성을 고려해야 하며, 이를 위해 시스템 수준에서의 테스트를 수행하는 것이 가장 적합하다고 할 수 있다. 시스템 테스트에서는 SUT(System Under Test)의 하드웨어 구성에 따라 센서, 스위치, 액추에이터 등이 시스템과 연결되어 작동하여야 한다. 특히 온도센서나 습도센서 등과 같이 외부의 환경정보를 시스템의 입력으로 사용하는 임베디드 시스템을 테스트하기 위해서는 테스트 자동화 도구 내부에 환경을 관리하고, 정해진 환경 시나리오에 따라 시스템에 입력을 주는 모듈이 요구된다. 본 논문에서는 임베디드 시스템에 구성되어 있는 센서의 기능을 대신하는 가상 환경 관리자(Virtual Environment Operator)를 설계하고 구현하였다. 구현된 가상 환경 관리자의 도입으로 테스트 스크립트의 간결화와 현실 세계를 반영하는 다양한 테스트가 가능한 테스트 환경을 구축하였다.

• Annual Conference of KIPS
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• 2001.10b
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• pp.1459-1462
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• 2001

혼성 신호 회로의 설계에 있어 저비용의 고효율 테스트 효율을 보장하기 위해 테스트의 노력은 계속되어 왔다. 특히 테스트를 고려한 BIST(built-in-self-test)설계 방법으로 발전해가고 있는 추세인데, 회로상에서 전체적인 테스트 용이도와 분석에 있어 보다 향상된 방법으로 접근할 수 있고 이러한 시스템에 대해 분석하는데 수월하게 할 수도 있다. 이 논문에서는 효과적인 테스트를 위한 방법을 위해 전압 검출기를 이용한 기준 전압 DC 테스트로써 테스트시간을 감소시키고 효과적인 고장 검출률을 갖는 BIST를 구현하는 것을 제안하였다. 즉 정상적인 회로와 고장회로에서의 동작에서 전압의 파이를 검출하는 회로를 하드웨어상으로 구성함으로써 비용과 시간등을 효과적으로 줄이는 방법을 제안하였다. 실험 결과에서는 기존의 BIST와 비교하여 향상된 것을 나타낸다.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2004.04a
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• pp.772-774
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• 2004

임베디드 시스템이란 미리 정해진 특정 기능을 수행하기 위해 컴퓨터의 하드웨어와 소프트웨어가 조합된 전자 제어 시스템을 말한다. 임베디드 시스템은 다양한 분야에 적용될 수 있으며, 그 적용 범위는 날로 증가하고 있는 추세이다. 본 논문에서는 이동성을 가지는 임베디드 시스템을 구축하기 위한 테스트베드를 구현하였다. 본 논문에서 임베디드 시스템 사이의 무선 통신은 MANET의 가장 대표적인 요구기반 라우팅 프로토콜인 AODV를 이용하였고 개발한 테스트베드를 이용하여 MP3 스트리밍 서비스를 구현하였다.

• Annual Conference of KIPS
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• 2009.11a
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• pp.25-26
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• 2009

아두이노 보드는 Atmel 8 비트 RISC 마이크로프로세서를 이용해서 제작된 임베디드 보드이다. 마이크로프로세서 내부에 프로그램을 쓸 수 있다는 기능과 하드웨어 설계도가 오픈소스로 제작된다는 점, 일반 사용자들을 위해서 제공되는 쉬운 개발 언어 및 개발 환경을 제공한다. 본 논문에서는 아두이노 보드 위에서 동작하는 임베디드 소프트웨어에 대해 테스트하는 방법과 앞으로의 테스트 방법에 대한 개발방향에 대하여 논한다.