Improvement of Signal Transfer Characteristics of Fine Pitch Probe Pin Using Coaxial Test Socket with New Structure (새로운 구조의 동축 테스트 소켓을 이용한 미세 피치 프로브 핀의 신호 전달 특성 개선)
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- Journal of the Semiconductor & Display Technology
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- v.23 no.1
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- pp.97-103
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- 2024