TMMi와 TPI next 매핑 기반의 비/공통요소 추출을 통한 조직의 테스트 프로세스 향상 (Test Process Improvement of Test Organization Through extracting Uncommon/Common Facts based on mapping TMMi with TPI next)
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- 한국정보처리학회:학술대회논문집
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- 한국정보처리학회 2012년도 추계학술발표대회
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- pp.1504-1506
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- 2012