Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference (한국정보처리학회:학술대회논문집)

  • 2012.11a
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  • Pages.1504-1506
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  • 2012
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  • 2005-0011(pISSN)
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  • 2671-7298(eISSN)
Korea Information Processing Society (한국정보처리학회)
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Test Process Improvement of Test Organization Through extracting Uncommon/Common Facts based on mapping TMMi with TPI next

TMMi와 TPI next 매핑 기반의 비/공통요소 추출을 통한 조직의 테스트 프로세스 향상

  • 김기두 (한국정보통신기술협회) ;
  • 박용범 (단국대학교) ;
  • 박보경 (홍익대학교 컴퓨터정보통신 소프트웨어공학연구실) ;
  • 김영철 (홍익대학교 컴퓨터정보통신 소프트웨어공학연구실) ;
  • 송기평 (한국정보통신기술협회) ;
  • 신석규 (한국정보통신기술협회)
  • Published : 2012.11.22
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Abstract

소프트웨어 개발 생태계의 변화에 따른 소프트웨어 개발의 다양화 및 Time-to-Market으로 인해 사용자들이 요구하는 소프트웨어 품질수준이 높아졌다. 그러나, 소프트웨어 품질을 향상하는 여러 가지가 방법의 하나로 완벽한 테스트를 통해 가능하다. 하지만, 완벽한 테스트를 수행하는 것은 불가능하다. 이를 해결하기 위해 정형화된 올바른 테스트 프로세스를 적용하여 품질을 높이고자 한다. 본 논문에서는 조직의 테스트 성숙도 수준을 평가할 수 있는 TMMi와 테스트 프로세스를 개선할 수 있는 TPI next의 매핑을 기반으로 조직의 테스트 성숙도 측정과 함께 테스트 프로세스 수준 향상을 위한 가이드를 제공하고자 한다. 이를 위한 절차로 TMMi(level2)와 TPI next의 매핑, 비/공통 요소 추출을 통해 조직의 테스트 프로세스 개선을 위한 가이드를 제공하고자 한다.

Keywords