• Title/Summary/Keyword: 평균 누설전류

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WS시리즈 누설전류표시부 차단기

  • KOREA ELECTRIC ASSOCIATION KOREA ELECTRIC ASSOCIATION
    • JOURNAL OF ELECTRICAL WORLD
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    • s.307
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    • pp.68-73
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    • 2002
  • 감전보호$\cdot$누전화재보호로서 누전차단기가 일반적으로 사용되고 있는데 이 누전차단기가 누전으로 트립되었을 경우 (1) 누전트립이 재현되지 않는다. (2) 누설전류치가 고조파의 영향 때문에 측정이 곤란하다는 등의 이유로 원인조사가 어려운 경우가 많다. 그래서 누전차단기의 동작원인조사를 지원하는 기기로서 WS시리즈의 노퓨즈차단기 및 누전차단기에 각종 누설전류치의 액정표시유닛을 탑재한 $''$누설전류표시부 노퓨즈차단기$\cdot$누전차단기$''$를 제품화하였다. 이에 의하여 전로에 영상변류기(ZCT)와 계측기 등을 설치하지 않고 전로의 절연열화상태나 누전사고 상황을 간단하게 파악할 수가 있다. 또 액정표시유닛의 제어전원은 차단기 내부에 포함하고 있기 때문에 특별배선작업은 불필요하다. 이 제어전원은 차단기가 오프상태 또는 트립상태에서는 끊어지나 내부에 전기이중충 콘덴서를 내장하고 있기 때문에 각종 누설전류 정보를 표시할 수가 있다(정전보상시간 100시간). 주요특징은 다음과 같다. (1)각종 누설전류의 계측과 표시(현재치, 최대치, 이동평균치, 이동평균의 최대치, 각 최대치의 발생경과시간) (2) 누전경보의 설정 감도를 세분화하여 설정가능 또한 접점경보출력 표준탑재 (3) 누전트립 발생시의 누전사고전류치 및 누전사고 발생으로부터의 경과시간 표시(누전차단기만) (4) 미쓰비시전기 누전차단기의 액티브필터와 같은 특성의 필터를 내장하고 있으며 누전차단기의 동작특성에 맞는 누설전류치 표시가능 (5) 누전경보만으로 누전트립 동작을 하지 않는 누설전류표시부 노퓨즈차단기 라인업

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Investigation of Leakage Currents of $BaTiO_3$ Thin Films Using Aerosol Deposition in Microscopic Viewpoint

  • O, Jong-Min;Kim, Hyeong-Jun;Kim, Su-In;Lee, Chang-U;Nam, Song-Min
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2010.02a
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    • pp.114-114
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    • 2010
  • 최근 고용량의 디커플링 캐패시터를 기판에 내장하여 고주파 발생의 원인인 배선길이와 실장 면적을 획기적으로 줄이는 임베디드 디커플링 캐패시터에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다. 하지만 기존의 공정들은 높은 공정온도와 같은 공정상의 한계를 가지고 있어 상온 저 진공 분위기에서 세라믹 분말을 기판에 고속 분사시켜 기공과 균열이 거의 없는 치밀한 나노구조의 세라믹 제작이 가능한 후막코팅기술인 Aerosol Deposition Method (ADM)에 착목하였으며, 이 ADM을 박막공정으로 응용하여 $BaTiO_3$ 박막을 제작하고 고용량의 디커플링 캐패시터 제작을 실현하고자 한다. 하지만, Cu 기판 상에 성막 된 $0.5\;{\mu}m$이하의 $BaTiO_3$ 박막에서는 $BaTiO_3$ 분말 내에 존재하는 평균입자 보다 큰 입자와 응집분말로 인해 발생하는 pore, crater, not-fully-crushed particles와 같은 거시적인 결함들에서의 전류 통전과 울퉁불퉁한 $BaTiO_3$ 박막과 기판 사이의 계면에서의 전계의 집중에 의한 전류의 증가로 인하여 큰 누설전류 발생하는 문제에 봉착하였다. 이러한 문제를 해결하기 위하여 제시된 효과적인 방법으로 Stainless steel 기판과 같이 표면경도가 높은 기판을 사용하는 것이며, 이를 통해 $0.2\;{\mu}m$의 두께까지 유전 $BaTiO_3$ 박막을 성막 할 수 있었으며, 치밀한 표면 미세구조와 줄어든 $BaTiO_3$ 박막과 기판 사이의 계면의 거칠기를 확인하였다. 하지만, $BaTiO_3$ 박막 내에 발생하는 누설전류의 근본원인을 확인하기 위해서는 누설전류에 대한 미시적인 접근이 더욱 요구된다. 이에 본 연구에서는 누설전류 발생원인의 미시적 접근을 위해 두께에 따른 $BaTiO_3$ 박막의 누설전류 전도기구에 대한 조사하였으며, 이를 통해 $BaTiO_3$ 박막내 발생하는 누설전류의 원인은 $BaTiO_3$막 내에서 donor로서 역할을 하는 oxygen vacancy와 불균일한 전계의 집중으로 인한 전자의 tunneling 현상임을 확인할 수 있었다. 또한, Nano-indenter와 Conductive atomic force microscopic를 이용한 정밀 측정을 통해 표면경도의 중요성을 재확인하였으며 $BaTiO_3$ 박막의 두께가 $0.2\;{\mu}m$이하로 더욱 얇아지게 되면 입자간 결합 문제 또한 ADM을 박막화 하는데 있어 중요한 요소임을 확인하였다.

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The Calculation Method of Shielding Coefficient of Neutral Line against an Induced Voltage by an Aerial Power Distribution Line Reflecting the Principle of Earth Return Current (가공 배전선의 전자유도전압에 대하여 대지 귀로전류 원리를 반영한 중성선 차폐계수 계산 방법)

  • Lee, Sangmu
    • Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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    • v.17 no.7
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    • pp.86-91
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    • 2016
  • To solve the problem of the excessive error caused by using a single value for the shielding effect of the neutral line of an electric power distribution line in the calculation of the voltage it induces in a telecommunication line, the general expression that was previously developed to reflect the mechanism of voltage induction by a distribution line with multiple grounds is employed in this paper to represent the relationship between the leakage current rates at each ground pole. In this way, the formula for calculating the shielding effect of the neutral line can be factorized against the unbalanced current flowing in the neutral line, which is the root current of induction. This shielding coefficient of the neutral line is not constant, but can vary when a range of induced voltages is generated in the whole power distribution line. The calculation method developed herein reduces the error rate to one tenth of that of the existing calculation result in the case of overestimation and increases it by 14% in the case of underestimation.

Computer Simulation of A Power Supply Circuit for Continuous-Wave Magnetron (연속파 마그네트론을 구동하는 전원회로의 컴퓨터 시뮬레이션)

  • 김원수;나정웅
    • 전기의세계
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    • v.28 no.2
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    • pp.61-67
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    • 1979
  • 연속파 마그네트론을 구동하는 전원회로에 대하여 컴퓨터 시뮬레이션을 행함으로써, 컴퓨터를 이용한 회로설계 방법을 제시하였다. 철공진변압기는 잘 알려진 T-등가회로보다 비선형 특성을 해석하기에 용이한 .pi.-등가회로를 나타내었다. 변압기 철심의 자화특성은 i=a.phi.+b.phi.$^{7}$ 의 함수로 모델링하였으며, 마그네트론과 다이오드는 구분적직선 모델로 근사화하였다. 해석적 설계방정식으로부터 구한 커패시턴스, 변압기의 누설 인덕턴스 및 권수비의 값들을 사용하여 전원회로에 대한 컴퓨터 시뮬레이션을 행하여서 마그네트론의 전류파형및 평균양극전류의 값들을 얻었다. 이 시뮬레이션 결과를 해석적 계산치 및 실험측정 결과와 비교하였으며 특히 해석적 설계방법의 유효성을 검토하였다.

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The surface discharge performance of silicone rubber in the Salt fog test (Salt fog 시험에서 silicone rubber에서 발생하는 방전 전류의 특성)

  • 강성화;박영국;이광우;김완수;이용회
    • Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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    • 1999.05a
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    • pp.565-569
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    • 1999
  • In these days, the silicone insulators have been increasingly studied and applied for outdoor insulators because it has superior characteristics than porcelain and glass insulators, which have been used for outdoor insulators. First of all, The excellent performance of the silicone rubber in polluted and wet conditions is attributed to the ability of the material to maintain the hydrophobicity of the surface in the presence of severe contamination and wet conditions. This is because of the presence of low molecular weight mobile fluid in the silicone rubber which diffuses to the surface and to above the contamination layer. But, the leakage current and some surface discharge occurs on surface of the composite polymeric insulation materials when the insulator is used for a long time with severe contaminative condition and it can lead the contamination flashover. So the leakage current and the discharge current are important to estimate the condition of the silicone rubber surface. In this paper, the average leakage current, the relation of surface discharge current and phase angle were study to investigate electrical conduction of silicone rubber surface with the salt fog condition.

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A Voltage Binning Technique Considering LVCC Margin Characteristics of Different Process Corners to Improve Power Consumption (공정 코너별 LVCC 마진 특성을 이용한 전력 소모 개선 Voltage Binning 기법)

  • Lee, Won Jun;Han, Tae Hee
    • Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers
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    • v.51 no.7
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    • pp.122-129
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    • 2014
  • Due to remarkable market growth of smart devices, higher performance and more functionalities are required for a core system-on-chip (SoC), and thus the power demand is rapidly increasing. However, aggressive shrink of CMOS transistor have brought severe process variations thereby adversely affected the performance and power consumption under strict power constraint. Voltage binning (VB) scheme is one of the effective post silicon tuning techniques, which can reduce parametric yield loss due to process variations by adjusting supply voltage. In this paper, an optimal supply voltage tuning based voltage binning technique is proposed to reduce average power without an additional yield loss. Considering the different LVCC margins of process corners along with speed and leakage characteristics, the proposed method can optimize the deviation of voltage margin and thus save power consumption. When applying on a 30nm mobile SoC product, the experimental results showed that the proposed technique reduced average power consumption up to 6.8% compared to traditional voltage binning under the same conditions.

The improvement in the properties of $(Ba, Sr)TiO_3$films by the application of amorphous layer (비정질 $(Ba, Sr)TiO_3$층의 도입을 통한 $(Ba, Sr)TiO_3$박막의 특성 향상)

  • 백수현;이공수;마재평;박치선
    • Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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    • v.8 no.2
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    • pp.221-226
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    • 1998
  • Amorphous (Ba, Sr)$TiO_3$[BST] layer(30, 70 nm) was introduced between crystalline BST and $RuO_2$electrode to realize double-layered BST structure in order to improve the properties of BST film. The structure and surface morphology of double-layered BST film were modified by the application of amorphous BST layer; that is, surface became smoother and grain size increased abruptly. Amorphous layer thicker than 30 nm was effective to hinder the influence of $RuO_2$surface on the structure of as-grown BST films by in-situ process. Dielectric constant of double-layered BST film was improved dramatically from 152 to 340 and leakage current was lowered from $1.25{\times}10^{-5}A/{\textrm}{cm}^2);to;6.85{\times}10^{-7}A/{\textrm}{cm}^2$, respectively.

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Fabrication of Organic TFT wi th PVP Gate Insulating layer (PVP 게이트 절연막을 이용한 유기박막트랜지스터 제작)

  • Jang Ji-Geun;Seo Dong-Gyoon;Lim Yong-Gyu;Chang Ho-Jung;Oh Myung-Hwan
    • Proceedings of the Korean Society Of Semiconductor Equipment Technology
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    • 2005.09a
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    • pp.83-88
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    • 2005
  • 유기 절연층을 갖는 유기 박막트랜지스터 (organic TFT)를 제작하여 소자 성능을 조사하였다. 유기 절연층의 형성에서는 polyvinyl 계열의 PVP(poly-4-vinylphenol)와 PVT(polyvinyltoluene)를 용질로, PGMEA (propylene glycol mononethyl ether acetate)를 용매로 사용하였다. 또한, 열경화성 수지인 poly(melamine-co-formaldehyde)를 경화제로 사용하여 유기 절연층의 cross-link 를 시도하였다. MIM 구조로 유기 절연층의 특정을 측정한 결과, PVT는 PVP에 비해 절연 특성이 떨어지는 경향을 보였다. 게이트 절연막의 제작에서 PVP를 cobpolymer 방식과 cross-linked 방식으로 실험 해 본 결과, cross-link 방식에서 낮은 누설전류 특성을 나타내었다. OTFT 제작에서는 PVP를 용질로, poly(melanine-co-formaldehyde)를 경화제로 사용한 cross-linked PVP 를 게이트 절연막으로 이용하였다. PVP copolymer($20\;wt\%$)에 $10\;wt\%$ poly(melamine- co-formaldehyde)를 혼합한 cross-linked PVP 를 게이트 절연막으로 사용하여 top contact 구조의 OTFT를 제작한 결과 약 $0.23\;cm^2/Vs$의 정공 이동도와 약 $0.4{\times}10^4$의 평균 전류점멸비를 나타내었다.

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Electrical and Dielectric Characteristics of Zn-Pr-Co-Er-M(M=Ni, Mg, Cr) Oxides-Based Varistors (Zn-Pr-Co-Er-M(M=Ni, Mg, Cr)산화물계 바리스터의 전기적, 유전적 특성)

  • 남춘우;김명준
    • Journal of the Korean Ceramic Society
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    • v.41 no.8
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    • pp.605-609
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    • 2004
  • The microstructure, electrical and dielectric characteristics of ZnO varistors were investigated at various metal oxide (NiO, MgO, and Cr$_2$O$_3$) additives. The average grain size was increased with addition of NiO while that was decreased with addition of Cr$_2$O$_3$-Thereby, the varistor voltage was higher in Cr$_2$O$_3$-added composition. Among varistors, the varistor added with Cr$_2$O$_3$ exhibited the highest nonlinearity, with 40.5 in the nonlinear exponent and 2.7 ${\mu}$A in the leakage current and its dielectric dissipation factor was relatively low value of 0.0589.

Dielectric Properties of PZT(20/80)PZT(80/20) Heterolayered Thin Films Prepared by Sol-Gel Technique (Sol-Gel법으로 제조한 PZT(20/80)/PZT(80/20) 이종층 박막의 유전특성)

  • 이성갑;이영희
    • Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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    • v.11 no.11
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    • pp.990-995
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    • 1998
  • 본 연구에서는 PZT(20/80)과 PZT(80/20) 금속 alkoxide용액을 Pt/Ti/$SiO_2$/Si 기판위에 상호 반복시킨 강유전성 PZT(20/80)/PZT(80/20) 이종층 박막을 제작하였다. 건조와 소결을 한번 행한 PZT 이종층 박막의 평균 두께는 약 80~90 nm이었다. 제작된 모든 PZT 박막은 rosette상이 없는 치밀하고 균질한 미세구조를 나타내었으며, 하부의 PZT층은 열처리시 상부 PZT층은 열처리시 상부 PZT 박막의 페로브스카이트 형성에 대해 nucleation site로 작용하였다. 유전상수, 피로특성 및 누설전류특성 등은 단일 조성의 PZT(20/80), PZT(80/20) 박막에 비해 우수한 특성을 나타내었다.

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