• Title/Summary/Keyword: 투과 전자 현미경

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Effects of Higher-Order Laue Zone Reflections on HRTEM Images for illumination along an off-Bone Axis of a Crystal (비 결정 축(off-zone axis)으로 입사된 빔에 대한 고 분해 투과전자현미경 이미지에서 HOLZ 반사 빔의 효과)

  • Kim, Hwang-Su
    • Applied Microscopy
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    • v.37 no.4
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    • pp.259-269
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    • 2007
  • In this paper we explored a possibility of observation for effects of higher-order Laue zone(HOLZ) reflections on high resolution transmission electron microscope(HRTEM) images for illumination along an off-zone axis of a crystal. The analysis of the observation could give useful three dimensional crystal structure information. For the image simulation the Howie-Whelan equation was used with modification of including HOLZ reflections. This study clearly indicates that HRTEM images for a very thin crystal tilted by a few degrees from a zone axis show the effects of HOLZ reflections and contain some information of atomic arrangements along the zone axis.

Electron Microscopy Analysis of Pd-Cu-Ga System Dental Alloy (치과용 Pd-Cu-GarP 합금의 전자현미경 분석)

  • 김기주;김수철;이진형
    • Journal of Biomedical Engineering Research
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    • v.20 no.6
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    • pp.539-546
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    • 1999
  • 현재 상용화되고 있는 치과용 76.5% Pd-11.2% Cu-7.2% GarP 합금의 왁스모형을 원심주조기로 주조하여, 임상조건의 탈개스 및 세라믹 소성처리를 하였다. 이에따른 각각의 시편에 대해 미세조직의 변화를 주사전자현미경 및 EDS로 관찰하고, 최종적인 투과전자현미경으로 조사하였다. 각 조건의 편석, 결정립계 및 석출물부위를 주사전자현미경과 EDS 고 관찰한 결과, 이원계 Pd-GA합금의 안정상들에 해당하는 정량적인 조성비는, 단지 상대적으로 Ga의 성분비만 높게 감지되었다. 특히, 세라믹소성 처리후 미세조직에서 형성된 석출물에 근접한 기지조직일수록 Ga의 농도가 상대적으로 줄어든 고갈현상을 확인하엿다. 또한 투과전자현미경의 제한시야회절도형 분석결과, 주조 및 탈개스처리 후 미세조직의 편석부위에서는 GA의 가장 큰 강도를 보였고, 또 Ga과 Pd 고용체 사이에 미세한 판상의 석출물에 기인하는 줄무늬를 관찰하였다. 한편, 세라믹소성처리후 미세조직의 석출물은 금속간화합물 Pd2Ga으로 밝혀졌으며, 기지조직은 <100> 방향을 따라 약 25nm의 폭을 가지는 미세한 섬유상 형태의 소위 "tweed 조직'을 형성하였다.성하였다.

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Si결정에서의 격자결함의 특성 및 고분해능 투과전자현미경에 의한 격자상

  • Jo, Gyeong-Ik;Gwon, O-Jun;Gang, Sang-Won
    • Electronics and Telecommunications Trends
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    • v.4 no.4
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    • pp.98-107
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    • 1989
  • 실제의 결정은 이상적인 결정과는 달리 결함(imperfection or defect)들을 포함하고 있다. 본고에서는 이들 여러가지 결함들 중 격자 결함들에 국한해서, 그 기본적인 특성과 Si 격자에서의 이들 결함들의 구조를 살펴보고, 이것들을 고분해능 전자현미경(High Resolution Transmission Electron Microscopy ; HRTEM or HREM)으로 관찰했을 때, HRTEM의 탈초점 (defocus)에 따른 결함 상(image)의 성질의 변화와 함께 상 특성과 격자구조와의 관계를 살펴보았다.