• Title/Summary/Keyword: 테스트 기법

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Comparison of Major Black-Box Testing Methods in Object-Oriented Software (객체지향 소프트웨어를 위한 주요 블랙박스 테스트 기법들의 비고)

  • Seo, Kwang-Ik;Choi, Eun-Man
    • Journal of KIISE:Software and Applications
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    • v.33 no.1
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    • pp.1-16
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    • 2006
  • As the size of software is getting huge, it has been impossible for testers to test all of source coed. Therefore, the method which uses information of requirements for testing has been researched and accepted. Although there are a lot of test methods based on requirement specification, each method has a different approach and coverage. So we should consider their various approach and coverage in the stage of test planning. This paper presents the empirical comparison and the result by applying various black-box testing methods to software system. For this experiment we studied five black-box testing methods including UML based specification technique. We applied the five testing methods to application system and evaluated the coverage of extracted test case.

An Efficient Design Strategy of Core Test Wrapper For SOC Testing (SOC 테스트를 위한 효율적인 코어 테스트 Wrapper 설계 기법)

  • Kim, Moon-Joon;Chang, Hoon
    • Journal of KIISE:Computer Systems and Theory
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    • v.31 no.3_4
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    • pp.160-169
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    • 2004
  • With an emergence of SOC from developed IC technology, the VLSI design has required the core re-use technique and modular test development. To minimize the cost of testing SOC, an efficient method is required to optimize the test time and area overhead in conjunction for the core test wrapper, which is one of the important elements for SOC test architecture. In this paper, we propose an efficient design strategy of core test wrapper to achieve the minimum cost for SOC testing. The proposed strategy adopted advantages of traditional methods and more developed to be successfully used in practice.

A Study on Implementation of Boundary SCAN and BIST for MDSP (MDSP의 경계 주사 기법 및 자체 테스트 기법 구현에 관한 연구)

  • Yang, Sun-Woong;Chang, Hoon;Song, Oh-Young
    • The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
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    • v.25 no.11B
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    • pp.1957-1965
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    • 2000
  • 본 논문에서는 휴대 멀티미디어 응용을 위한 MDSP(Multimedia Fixed Point DSP) 칩의 내장 메모리 테스트와 기판 수준의 테스트를 지원하기 위해 내장 메모리 테스트를 위한 자체 테스트 기법, 기판 수준의 테스트 지원 및 내장 메모리를 위한 자체 테스트 회로를 제어하기 위한 경계 주사 기법을 구현하였다. 본 논문에서 구현한 기법들은 Verilog HDL을 이용하여 회로들을 설계하였으며, Synopsys 툴과 현대 heb60 라이브러리를 이용하여 합성하였다. 그리고 회로 검증을 위한 시뮬레이터는 Cadence사의 VerilogXL을 사용하였다.

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Integration Testing Technique for Distributed System (분산 시스템을 위한 통합테스트 기법)

  • 윤희진;최병주
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 1998.10b
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    • pp.538-540
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    • 1998
  • 기존의 객체지향 시스템이 갖는 한계와 통신의 대중화로 인해 분산 시스템에 대한 관심이 높아지고 있다. 따라서 분산 시스템이 갖는 여러 가지 특성에 기반하여 새로운 소프트웨어 공학적인 접근이 필요하다. 이에 대한 노력의 일환으로 본 논문에서는 분산 시스템을 이루는 분산 객체들의 통합테스트기법을 제안한다. 분산되어져 있는 여러 객체들을 통합하여 하나의 분산 시스템이 수행된다. 따라서 객체들을 통합할 때 발생하는 오류가 분산 시스템 테스트에서는 특히 고려되어져야 한다. 본 논문에서는 각 분산 객체들 사이의 인터페이스를 테스트 대상으로 보고, UML기반의 개발 산출물인 순서도.협력도.전개도가 갖는 정보들을 이용하는 새로운 테스트 기법을 제안한다. 또한 제안한 기법을 적용한 사례연구를 통해, 본 논문에서 제안한 통합 테스트기법으로 실제 통합에서 발생하는 오류가 테스트될 수 있다는 사실을 보인다. 나아가 본 논문의 통합 테스트기법에서 분산 객체를 콤포넌트로 확장한다면, 콤포넌트 기반 시스템을 위한 통합테스트도 가능하게 할 수 있는 효과도 있다.

A Test Technique for the Component Customization Failure (컴포넌트 맞춤 오류를 위한 테스트 기법)

  • Yoon, Hoi-Jin;Choi, Byoung-Ju
    • Journal of KIISE:Software and Applications
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    • v.27 no.2
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    • pp.148-156
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    • 2000
  • The test technique for the failure caused by interaction between the customized interface and core function is necessary. We propose a component customization test technique by using the fault injection technique and the mutation test case selection technique. Our technique injects fault into where the customization failure may take place and selects the test case that differentiates the fault-injected component from the customized-component. Therefore, our test case has a good fault-detectability and can reduce the testing time by injecting a fault only into a place where the customization failure may take place in the interface.

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A study of applying test design technique to weaponry embedded software (무기체계 내장형 소프트웨어에 대한 테스트 설계 기법 연구 및 적용 사례)

  • Kim, Sang-Ki;Lee, Hye-Jin;Kim, Dong-Hwan
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 2012.06b
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    • pp.83-85
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    • 2012
  • 국방 분야의 무기체계 내장형 소프트웨어(embedded software)는 그 규모와 복잡도가 증가함에 따라 소프트웨어 품질이 매우 중요하게 인식되고 있으며, 고객 또한 소프트웨어 품질 및 신뢰성 시험 활동에 대해 높은 요구사항을 제시하고 있다. 최근 "무기체계 내장형 소프트웨어 획득 및 관리 실무 지침서(방위사업청 지침, 2011.11.30)"가 명문화되었으며, 이 지침서 내에도 소프트웨어 신뢰성 시험을 강조하고 있다. 그러나 업계에서는 소프트웨어 신뢰성 시험에 대한 개발 단계의 테스트 설계 활동이 체계적으로 수행되지 않고 있으며, 테스트 설계 활동에서 테스트 설계 기법을 제대로 활용하고 있지 못하고 있다. 이를 위해 본 논문에서는 테스트 설계 활동과 테스트 설계 기법을 소개한다. TMMi 및 ISTQB 지식체계에서 제시하고 있는 테스트 설계 기법을 기반으로 실제 무기체계 내장형 소프트웨어의 테스트 시 적용하였던 테스트 설계 기법을 소개하고, 테스트케이스를 효과적으로 도출할 수 있는 방법을 제안한다.

Implementation of Built-In Self Test Using IEEE 1149.1 (IEEE 1149.1을 이용한 내장된 자체 테스트 기법의 구현)

  • Park, Jae-Heung;Chang, Hoon;Song, Oh-Young
    • The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
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    • v.25 no.12A
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    • pp.1912-1923
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    • 2000
  • 본 논문에서는 내장된 자체 테스트(BIST: Built-In Self Test) 기법의 구현에 관해 기술한다. 내장된 자체 테스트 기법이 적용된 칩은 영상 처리 및 3차원 그래픽스용 부동 소수점 DSP 코어인 FLOVA이다. 내장된 로직 자체 테스트 기법은 FLOVA의 부동 소수점 연산 데이터 패스에 적용하였으며, 내장된 메모리 자체 테스트 기법은 FLOVA에 내장된 데이터 메모리와 프로그램 메모리에 적용하였다. 그리고, 기판 수준의 테스팅을 지원하기 위한 표준안인 경계 주사 기법(IEEE 1149.1)을 구현하였다. 특히, 내장된 자체 테스트 로직을 제어할 수 있도록 경계주사 기법을 확장하여 적용하였다.

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a improved neighborhood selection of simulated annealing technique for test data generation (테스트 데이터 생성을 위한 개선된 이웃 선택 방법을 이용한 담금질 기법 기술)

  • Choi, Hyun Jae;Lee, Seon Yeol;Chae, Heung Seok
    • Journal of Software Engineering Society
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    • v.24 no.2
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    • pp.35-45
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    • 2011
  • Simulated annealing has been studied a long times. And it is one of the effective techniques for test data generation. But basic SA methods showed bad performance because of neighborhood selection strategies in the case of large input domain. To overcome this limitation, we propose new neighborhood selection approach, Branch Distance. We performs case studies based on the proposed approach to evaluate it's performance and to compare it whit basic SA and Random test generation. The results of the case studies appear that proposed approach show better performance than the other approach.

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Test Case Grouping and Filtering for Better Performance of Spectrum-based Fault Localization (결함위치식별 기법의 성능 향상을 위한 테스트케이스 그룹화 및 필터링 기법)

  • Kim, Jeongho;Lee, Eunseok
    • Journal of KIISE
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    • v.43 no.8
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    • pp.883-892
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    • 2016
  • Spectrum-based fault localization (SFL) method assigns a suspicious ratio. The statement is strongly affected by a failed test case compared to a passed test case. A failed test case assigns a suspicious ratio while a passed test case reduces some parts of assigned suspicious ratio. In the absence of a failed test case, it is impossible to localize the fault. Thus, a failed test case is very important for fault localization. However, spectrum-based fault localization has difficulty in reflecting the unique characteristics of a failed test because a failed test case and a passed test case are input at the same time to calculate a suspicious ratio. This paper supplements for this limitation and suggests a test case grouping method for more accurate fault localization. In addition, this paper suggested a filtering method considering test efficiency and verified the effectiveness by applying 65 algorithms. In 90 % of whole methods, the accuracy was improved by 13% and the effectiveness was improved by 72% based on EXAM score.

Generating Test Cases of Stateflow Model Using Extended RRT Method Based on Test Goal (테스트 목표 기반의 향상된 RRT 확장 기법을 이용한 Stateflow 모델 테스트 케이스 생성)

  • Park, Hyeon Sang;Choi, Kyung Hee;Chung, Ki Hyun
    • KIPS Transactions on Software and Data Engineering
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    • v.2 no.11
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    • pp.765-778
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    • 2013
  • This paper proposes a test case generation method for Stateflow model using the extended RRT method. The RRT method which has been popularly used for planning paths for complex systems also shows a good performance for test case generation. However, it does not consider the test coverage which is important for test case generation. The proposed extension method hires the concept of test goal achievement to increase test coverage and drives RRT extension in the direction that increases the goal achievement. Considering the concept, a RRT distance metric, random node generation method and modified RRT extension algorithm are proposed. The effectiveness of proposed algorithm is compared with that of the typical RRT algorithm through the experiment using the practical automotive ECUs.