Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2011.08a
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pp.136-136
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2011
AlSb는 광전자 소자응용에 매우 유용한 재료이며 이를 이용한 반도체소자 설계 및 밴드갭 엔지니어링을 위해서는 화합물 반도체의 전자밴드구조를 포함한 광학적 특성이 반드시 요구된다. 본 연구는 이러한 요구의 해결방안으로서 AlSb 화합물의 유전함수 온도의존성을 0.7~5.0 eV의 에너지 영역에서 타원편광분석법을 이용하여 분석하였다. AlSb는 산소와 급격히 반응하기 때문에, 대기 중에서 물질 고유의 광특성이 유지되기 어려울 뿐만 아니라, 박막 위에 생성되는 산화막 때문에 순수한 AlSb의 유전함수 측정이 불가능하다. 따라서 박막의 산화 효과를 최소화하기 위하여 초고진공 상태의 molecular beam epitaxy 챔버 안에서 800 K의 온도로 성장한 1.5 ${\mu}m$ 두께의 AlSb 박막을 상온 300 K 까지 온도를 단계적으로 변화시켜가며 타원편광분석기를 이용하여 실시간으로 측정하였다. 각 온도에서 측정된 AlSb의 유전함수를 2차 미분하여 전이점(critical point)을 분석한 결과 $E_0$, $E_0+{\Delta}_0$, $E_1$, $E_1+{\Delta}_1$, $E_0'$, $E_0'+{\Delta}_0'$, $E_2$, $E_2+{\Delta}_2$에 해당하는 각 전이점들의 온도 의존성을 확인할 수 있었다. 실험에서 측정된 특정 온도를 포함하여 임의의 온도에서의 AlSb의 유전함수를 유도하기 위하여 변수화모델을 사용하였고 이를 통하여 각 변수들의 온도 의존 궤적을 분석하였다. 2차 미분법을 이용한 전이점들의 온도의존성 분석결과를 기준으로 변수화 모델링을 진행하였으며 그 결과 각 온도에서 실제 유전함수와 근소한 차이를 갖는 AlSb의 유전함수 모델을 만들 수 있었다. 따라서 본 연구결과는 반도체 물성에 대한 학술적 측면뿐 아니라 고온에서의 소자공정 실시간 모니터링 및 반도체 소자 설계 등의 산업적 측면에서 매우 유용하게 사용될 것으로 기대된다.
Journal of the Korea Institute of Information Security & Cryptology
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v.25
no.3
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pp.567-571
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2015
Brezing and Weng proposed a method to generate CM parameters of pairing-friendly elliptic curves using polynomial representations of a number field, and Freeman generalized the method for the case of abelian varieties. In this paper we derive explicit formulae to find a family of polynomials used in Brezing-Weng method especially in the case of abelian surfaces, and present some examples generated by the proposed method.
본 논문은 네트워크계층에서 IP패킷을 송 수신자간에 사전에 합의된 알고리즘을 이용하여 암, 복호화 하는 통신 터널링 프로토콜로, 공유비밀키 생성을 위해 ECC((Elliptic Curve Cryptosystem)알고리즘을 사용함으로서 키 생성시간의 단축과 보안 강도을 강화시켰다. 또한, 공유비밀키 교환을 위해서 타원곡선을 이용한 EC-DH(Elliptic Curve Diffie Hellman)알고리즘을 사용하고, IP패킷의 무결성 검증과 인증을 위해 HMAC-SHA-1알고리즘, 패킷을 암 복호화하기 위한 대칭키 알고리즘인 DES를 사용하였다.
$SiO_2/TiO_2/ZrO_2$ broadband anti-reflective multi-layer thin films were prepared at room temperature by RF sputtering system. Optical constants and structural properties on each layer of films were analyzed by spectroscopic ellipsometer and transmittance spectra of the films were measured by $UV-V_{is}$ spectrophotometer in the range of 300$\sim$900 nm. To evaluate the films, we compared the measured and analyzed spectra with designed spectra. We investigated influence of discrepancy of thickness and refractive indices of each layer on changes of the transmittance spectra. It was found that refractive indices and shape of dispersion of deposition materials are more contributed to changes of the transmittance spectra than thickness of layer.
Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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2010.05a
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pp.389-392
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2010
In this paper, it presents to detect location using structural information of hand from the input color images on Webcam and to recognize hand gestures. In this system, based on the skin color, the image changes a binary number and labels. Within each labeled area, we can find the Maximum Inscribed Circle using Voronoi Diagram. This circle can find the center of hand. And the circle extracts hand region from analyzing the ellipse elements to relate Maximum Inscribed Circle. We use the Maximum Inscribed Circle and the ellipse elements as characteristic of hand gesture recognition. In various environments, we cannot recognize the object that have similar colors like the background colors. But the proposed algorithm has the advantage that can be effectively eliminated about it.
Journal of the Korea Institute of Information Security & Cryptology
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v.21
no.2
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pp.83-90
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2011
Recently, pairings over elliptic curve have been applied for various ID-based encryption/signature/authentication/key agreement schemes. For efficiency, the $Eta_T$ pairings over GF($P^n$) (P = 2, 3) were invented, however, they are vulnerable to side channel attacks such as DPA because of their symmetric computation structure compared to other pairings such as Tate, Ate pairings. Several countermeasures have been proposed to prevent side channel attacks. Especially, Masaaki Shirase's method is very efficient with regard to computational efficiency, however, it has security flaws. This paper examines closely the security flaws of RVA-based countermeasure on $Eta_T$ Pairing algorithm from the implementation point of view.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2000.02a
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pp.125-125
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2000
백금 스퍼터 증착시 아르곤에 산소와 같은 첨가 가스를 사용할 경우 산화막에 대한 접착력이 좋아지며 백금 박막의 우선배향성을 조절할 수 있음이 알려져 있다. 이러한 첨가 가스는 백금 박막에 상당량 포함되며 스퍼터링 후 열처리 과정에서 탈착되는 것으로 알려져 있다. 후열처리 도중 첨가 가스의 탈착 거동이 백금 박막의 미세구조, 조성 및 전기 전도도 등과 같은 제반 물성에 영향을 미칠 것이라 추정된다. 본 연구에서는 백금의 스퍼터링 시 질소를 첨가하여 질소가 포함된 백금 박막을 증착한 후 질소 탈착 거동을 연구하기 위해 실시간 타원해석기(in situ ellipsometer)를 이용하여 진공열처리(15mTorr)하면서 온도변화에 따른 유효굴절율(n)과 소광계수(k) 값을 구하였다. 또한 산소를 첨가하여 얻은 백금 박막의 결과와 비교하여 백금 박막내에 포함된 산소와 질소의 탈착 거동의 차이를 조사하였다. 산소를 이용하여 우선배향성이 (200)으로 조절된 박막의 경우 n과 k의 급격한 변화가 관찰되었으며 이로부터 55$0^{\circ}C$ 온도에서 산소가 급격히 빠져나감을 추측할 수 있었으며 열처리 후에는 백금 bulk 값에 가까운 값을 가짐을 알 수 있었다. 한편, 질소를 사용하여 (200)으로 우선배향성이 조절된 박막의 경우 n,k 값의 후열처리 도중의 변화 양상은 스퍼터링 압력에 크게 의존하는 것으로 나타났다. 22mTorr에서 스퍼터링한 박막의 경우 23$0^{\circ}C$ 부근에서 굴절률과 미세구조의 변화가 있음을 관찰할 수 있었으나, 10mTorr에서 스퍼터링한 시편의 경우 굴절률의 변화양상은 산소를 상요한 경우와 매우 유사한 거동을 나타내지만 열처리 후에는 상대적으로 낮은 n,k 값을 나타내고 있었다. 또한 열처리 시편의 미세구조 변화에 대한 분석 결과 산소 사용의 경우는 측정온도 범위내에서는 후 열처리 후에도 박막내에 hole이나 hillock 등이 관찰되지 않아 bulk 값에 가까운 n, k 값을 가지지만, 질소 사용의 경우는 hole, 표면 거칠기, 혹은 스퍼터링 중에 인입된 질소의 탈착이 완전히 이루어지지 못해 bulk 값과 다르게 나온 것으로 생각된다.
Using an in-situ ellipsometer, we monitored the growth curve of optical recording media in real time. For confirmation of the thickness control using in-situ ellipsometry, we analyzed the deposited multi-layer sample made of Ge-Sb-Te alloy film and ZnS-Si0$_2$ dielectric films using an exsitu spectroscopic ellipsometer. The target material in the first sputtering gun is ZnS-SiO$_2$ as the protecting dielectric layer and that in the second gun is Ge$_2$sb$_2$Te$_{5}$ as the receding layer. While depositing ZnS-SiO$_2$, Ge$_2$Sb$_2$Te$_{5}$ and ZnS-SiO$_2$ films on c-Si substrate in sequence, we measured Ψ $\Delta$ in real time. Utilizing the complex refractive indices of Ge$_2$Sb$_2$Te$_{5}$ and ZnS-SiO$_2$ obtained from the analysis of spectroscopic ellipsometry data, the evolution of ellipsometric constants Ψ, $\Delta$ with thickness is calculated. By comparing the calculated evolution curve of ellipsometric constants with the measured one, and by analyzing the effect of density variation of the Ge$_2$Sb$_2$Te$_{5}$ recording layer on ellipsometric constants with thickness, we precisely monitored the growth rate of the Ge-Sb-Te multilayer and controlled the growth process. The deviation of the real thicknesses of Ge-Sb-Te multilayer obtained under the strict monitoring is post confirmed to be less than 1.5% from the target structure of ZnS-SiO$_2$(1400 $\AA$)IGST(200 $\AA$)$\mid$ZnS-SiO$_2$(200$\AA$).(200$\AA$).
The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
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v.36
no.1C
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pp.14-21
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2011
Cryptographic protocols based on bilinear pairings provide excellent alternatives to conventional elliptic curve cryptosystems based on discrete logarithm problems. Through active research has been done toward fast computation of the bilinear pairings, it is still believed that the computational cost of one pairing computation is heavier than the cost of one ECC scalar multiplication. However, there have been many progresses in pairing computations over binary fields. In this paper, we compare the cost of BLS signature scheme with ECDSA with equvalent level of security parameters. Analysis shows that the cost of the pairing computation is quite comparable to the cost of ECC scalar multiplication for the case of binary fields.
Journal of the Korea Institute of Information Security & Cryptology
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v.21
no.3
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pp.11-25
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2011
The Miller algorithm is employed in the typical pairing computation such as Weil, Tate and Ate for implementing ID based cryptosystem. By analyzing the Mrabet's attack that is one of fault attacks against the Miller algorithm, this paper presents au efficient fault attack in Affine coordinate system, it is the most basic coordinates for construction of elliptic curve. The proposed attack is the effective model of a count check fault attack, it is verified to work well by practical fault injection experiments and can omit the probabilistic analysis that is required in the previous counter fault model.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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