• Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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• v.10 no.1
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• pp.42-48
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• 2006

In this paper a joint detection method for other cell interference cancellation is proposed in the next generation hybrid TD-CDMA mobile communication systems. A joint detection technique, a most characteristic feature of hybrid TD-CDMA mobile communication systems. retrieves users' data in the same time slot simultaneously with the elimination of multiple user interference. Previously a two stage joint detection method was proposed to cancel other cell interference as well as multiple user interference in the target cell. However the previous scheme does not have concrete ways to recognize other cell users who give major interference to the target cell. Thus all users in neighbor other cells has to be jointly detected and it causes huge complexity of the two stage joint detection. In this paper a method is proposed to perform two stage joint detection according to users' interference with the target cell. Performances of the proposed scheme are investigated through simulations and compared to the previous method the proposed method has no performance degradation and also lower the complexity of two stage joint detection significantly.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea TC
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• v.43 no.10 s.352
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• pp.55-59
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• 2006

In cellular OFDMA(Orthogonal Frequency Division Multiple Access) systems, each subcarrier may suffer from different amount of interferences from neighbor cells. Suppose that it is possible to accurately estimate inter-cell interferences for each subcarrier, the performance can be considerably improved by applying SINR(Signal to Interference and Noise Ratio) weighting. This paper proposes an inter-cell interference estimation method for cellular OFDMA systems. The proposed method extracts amounts of noise and interferencesby eliminating the channel variation effects of pilot symbols caused by frequency offset, timing offset mobile velocity, and delay spread.

• The Journal of the Korea institute of electronic communication sciences
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• v.8 no.8
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• pp.1227-1234
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• 2013

An analog array with a 1.2 double poly floating gate transistor has been developed with a standard CMOS fabrication process. The programming of each cell by means of an efficient control circuit eliminates the unnecessary erasing operation which has been widely used in conventional analog memories. It is seen that the path of the signal for both the programming and the reading is almost exactly the same since just one comparator supports both operations. It helps to eliminate the effects of the amplifier input-offset voltage problem on the output voltage for the read operation. In the array, there is no pass transistor isolating a cell of interest from the adjacent cells in the array. Instead of the extra transistors, one extra bias voltage, Vmid, is employed. The experimental results from the memory shows that the resolution of the memory is equivalent to the information content of at least six digital cells. Programming/erasing of each cell is achieved with no detectable disturbance of adjacent cells. Finally, the unique shape of the injector structure in a EEPROM is adopted as a cell of analog array. It reduces the programming voltage below the transistor breakdown voltage without any special fabrication process.

• Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics C
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• v.35C no.10
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• pp.30-37
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• 1998

An analog array with a 1.2 $\mu\textrm{m}$ double poly floating gate transistor has been developed with a standard CMOS fabrication process. The programming of each cell by means of an efficient control circuit eliminates the unnecessary erasing operation which has been widely used in conventional analog memories. It is seen that the path of the signal for both the programming and the reading is almost exactly the same since just one comparator supports both operations. It helps to eliminate the effects of the amplifier input-offset voltage problem on the output voltage for the read operation. In the array, there is no pass transistor isolating a cell of interest from the adjacent cells in the array. Instead of the extra transistors, one extra bias voltage, Vmid, is employed. The experimental results from the memory shows that the resolution of the memory is equivalent to the information content of at least six digital cells. Programming/erasing of each cell is achieved with no detectable disturbance of adjacent cells. Finally, the unique shape of the injector structure in a EEPROM is adopted as a cell of analog array. It reduces the programming voltage below the transistor breakdown voltage without any special fabrication process.

• The Proceeding of the Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science
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• v.13 no.1
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• pp.51-62
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• 2002

EMI/EMS 측정을 위해서는 주변 전자파 잡음(background noise)이 낮은 야외시험장(Open Area Test Site)이 가장 바람직하나, 근래 전자(전기 기기 사용의 증가와 방송.무선통신 시스템의 다양화로 인한 인공잡음(artificial noise)의 증대로 조건에 부합된 부지 선정이 어렵고, 설치 비용이 매우 크며 날씨 변화에 따라 시험 계획이 변경 될 수도 있는 단점이 있다. 전자파 분-무반사실(Semi Anechoic Chamber)은 대부분의 환경 잡음을 감쇠시키므로 야외시험장처럼 장소의 구애를 받지 않아 도시나 혹은 제품 생산지 가까이에 설치 운용이 가능하다. 그러나 큰 설치 공간과 많은 시설 유지 비용을 필요로 하며, 저주파 대역에서는 반사에 의한 공진을 완전히 제거할 수 없어 성능이 떨어진다. 또한, 최근 컴퓨터 CPU의 동작주파수가 급속하게 높아지고 PCS, IMT-2000 등과 같은 이동전화의 사용주파수도 계속해서 높아짐에 다라 미연방통신위원회(Federal Communication Commission)에서는 5㎓까지의 복사 방출 시험을 요구하고 있다. IEC 61000-4-3 복사 내성 시험규격도 휴대폰 주파수인 2㎓까지 확장되었으며 IMT-2000, Bluetooth 등 새로운 이동통신서비스가 속속 개발됨에 따라 18㎓ 까지 시험 주파수가 확장되는 추세이다. 그러나, 현재 국내 각 연구실에서 보유하고 있는 야외시험장이나 전자파 반-무반사실의 경우 1㎓이상에서의 시험이 곤란하여 수 ㎓주파수대역에서 시험이 가능한 복사 및 내성시험 시설이 필요하게 되었다. 이러한 문제점들을 해결하기 위해 고안된 대용 측정 시설 중 대표적인 것이 TEM 셀이나 GTEM셀과 같은 TEM 도파관(waveguide) 형태의 장비들이다. 이들은 본래 EMS 측정을 위한 장비이지만 협소한 공간이나 외부와의 전자파 간섭의 우려가 없고, 설치가 비교적 자유로워 여러 연구기관에서 도파관 원리를 이용한 측정 방식을 연구(개발하여 범용적인 전자파 적합성 측정 장비로서 활용하고 있다. 야외시험장과 무반사실 등이 안테나에 의한 피시험기기 주변 공간에서의 1점 측정으로 인해 시험 시간이 많아 소요되는 공통적인 단점이 있는 반면, TEM 도파관에 의한 측정은 일단 피시험기기의 모델링 정보만 얻어지면 계산에 의해 EMI 측정을 바로 할 수 있다. <표 1>에서 현재 상용화되어 사용되고 있는 TEM/GTEM 셀, 야외 시험장 및 전자파 무반사실에 대해 EMI 측정과 관련된 몇 가지 사안에 대해 비교하였다. 본 문서에서는 야외시험장이나 전자파 반-무반사실 등과 같은 기존 EMI/EMS 측정 시설의 단점을 보완하고, 광대역 특성을 갖는 대용 측정 시설로서의 TEM 도파관에 대해 소개하고 야외시험장 결과와의 상관관계 알고리즘 및 표준화 동향에 대해 기술하였다. 2절에서는 대표적인 TEM 도파관 구조의 측정 시설인 TEM 셀과 GTEM 셀의 전기적.구조적 특징에 대해 간단히 기술하고, 3절에서는 TEM 셀과 GTEM 셀에서이 측정결과를 이용하여 야외 시험장 결과를 얻어내는 상관관계 알고리즘에 대해 기술하였다. 4절에서는 IEC/CISPR와 TC77에서의 표준화 활동을 중심으로 현재 진행중인 TEM 도파관 관련 표준화 동향과 내용에 대해 기술하고자 한다.