스페클 간섭계는 빛을 이용하는 측정 방법이므로 비접촉/원격 측정 방법이며, 빛의 파장의 수십-수백 분의 1 정도의 정밀도로 측정이 가능하고, 레이저가 조사되는 영역 전체의 동시 측정이 가능하다는 장점을 가지고 있다 특히 최근에는 전자, 영상, 컴퓨터 기술의 발달에 힘입어 ESPI(Electronic Speckle Pattern interferometer; 전자 스페클 상관 간섭계) 장치가 많은 발전을 이루었고, 이에 따라 산업 현장에서의 활용도 계속 늘고 있다. (중략)
간섭성 광원인 레이저를 이용한 계측 및 검사기법 중 대표적인 것이 홀로그래피를 이용한 간섭법(Holographic Interferometry, HI)이다. HI는 레이저 파장을 단위로 하기 때문에 물체변형에 대해 측정감도가 좋고 비파괴 비접촉의 계측이 가능하다. 또한 삼차원 정보 추출이 가능해서 주어진 간섭무늬로부터 전 영역의 변형을 구할 수 있다는 커다란 장점을 가지고 있다. 그러나 일반적으로 홀로그래피용 필름은 기록 및 현상방법이 성가시고 그 속도 또한 느릴 뿐만 아니라 간섭무늬 패턴도 매우 복잡해서 산업현장 등 실제의 응용에는 현실적인 어려움이 있다.(중략)
간섭성 광원인 레이저를 이용한 계측 몇 검사기법 중 대표적인 것이 홀로그래피를 이용한 간섭법(Holographic Interferometry, HI)이다. HI는 레이저파장을 단위로 하기 때문에 물체변형에 대해 측정감도가 좋고 비파괴 비접촉의 계측이 가능하다. 또한 삼차원 정보 추출이 가능해서 주어진 간섭무늬로부터 전 영역의 변형을 구할 수 있다는 커다란 장점을 가지고 있다.(중략)
The real-time holographic interferometer with a digital high-speed camera is applied to the visualization of transient temperature field. Collimated and diffused laser beams are used to the object beam according to the shape and transmittance of the phase object. Also, ESPI(Electronic Speckle Speckle Pattern Interferometer) technique is used to the visualization and quantitatie measurement of slow-varying temperature field. The experimental results obtained form these two techniques are discussed.
Nowadays, Electronic Speckle Pattern Interferometry is a well-established measuring technique with a wide range of industrial applications, particularly in the fields of deformation measurement and vibration analysis. Comparing with holographic interferometry, it has some attractive features, which are rapid recording and reconstruction, satisfiable automation etc. The Time-Average ESPI is used to provide vibration mode shape of an object whose vibration amplitude is given as a fringe pattern. Its merit is rapid and simple measurement for vibrating object. However, it is not possible to determine the direction of motions of a point on the object at any given time, because it does not give any information about the phase of vibration. But, Stroboscopic ESPI can measure the amplitude and phase of vibrating surface. In this paper, loudspeakers were tested by these two methods. As a result, we can assume that these techniques will be applied directly in the loudspeaker industry.
Nowadays, Electronic Speckle Pattern Interferometry is a well established measuring technique with a wide range of industrial applications, particularly in the fields of deformation measurement and vibration analysis. Comparing with holographic inteferometry, it has some attractive features, which are rapid recording and reconstruction, satisfiable automation etc. Time-average ESPI was used to provide vibration mode shape of an object whose vibration amplitude is given as a fringe pattern. However, it is not possible to determine the direction of motions of a point on the object at any given time, because time-average method does not give any information about the phase of vibration. A better technique is stroboscopic method which can measure the amplitude and phase of vibrating surface. In this paper, loudspeakers were tested by these two methods and the mode shape and amplitude of vibration were visualized. As measured results, we can assume that these techniques will be applied directly in the loudspeaker industry.
Backside defect of plate structure may grow due to fatigue or overload to cause critical failure during operation, so it is important to detect this kind of defect in line. For this purpose, nondestructive, non-contact and highly sensitive method is required. ESPI and Shearography are considered as useful method to satisfy these requirements. In this paper, the possibility of application of ESPI and Shearography to detect the backside defect of steel plate and to quantify the defect size was tested. For the experiment, some steel plates with defect on the backside were prepared. Experimental results for these plates showed that location and size of defect could be detected correctly by both of ESPI and Shearography.
본 논문에서는 광섬유형 전자 스페클 패턴 간섭계에 적용할 효과적인 위상이동 방법을 제안한다. 광섬유 마이켈슨 간섭계에 4$\pi$ 위상변조를 주기적으로 가하면서 각각 $\pi$의 위상차이를 갖는 4개의 영점위치를 검출하여 CCD 카메라의 이미지 취득신호를 생성한다. 이 신호에 따라 얻어지는 스페클 패턴은 위상추출 과정에 필요한 $\pi$/2 위상차이를 갖게 되며 후처리를 통하여 측정 대상체의 3차원적인 표면 위상정보를 얻게 된다. 환경적인 외란에 비하여 충분히 빠른 위상변조를 가할 경우 귀환제어 없이 빠르고 정확하게 $\pi$/2 위상 이동에 따른 CCD 동작신호를 생성할 수 있었으며, 위상변조기의 비선형적인 동작특성에 영향 받지 않는 실험결과를 얻을 수 있었다. 실험을 통하여 100 Hz의 영상 취득 속도를 얻었고, 25 Hz의 위상변조를 가할 때 출력 위상계단 신호의 오차는 0.6 mrad이었다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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